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公开(公告)号：CN109751955A
公开(公告)日：2019-05-14
申请号：CN201711054716.X
申请日：2017-11-01
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明提供了一种非接触式物体位移测量装置及使用其的测量方法，该非接触物体位移测量装置包括：标准量块，标准量块用于提供高温环境下的标准长度，高温环境为温度值大于或等于500℃的温度环境；光学系统和相机，光学系统用于将目标物体和标准量块成像在相机的探测器上，相机用于采集目标物体和标准量块的图像并将采集到的目标物体和标准量块的图像输出至图像处理与控制单元；图像处理与控制单元，图像处理与控制单元用于根据标准量块提供的标准长度和目标物体的图像计算获取目标物体在高温环境下的形变位移量。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中在进行高温物体位移测量时标定复杂的技术问题。
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公开(公告)号：CN107655833A
公开(公告)日：2018-02-02
申请号：CN201710853728.2
申请日：2017-09-20
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种低导热率非导体材料高温半球发射率测量方法与系统。该方法利用材料常温、高温、法向、半球发射率的关系，通过测量常温半球发射率、常温法向发射率及高温法向发射率，导出材料高温半球发射率。测量系统包括常温半球发射率测量装置、常温法向发射率测量装置及高温法向发射率测量装置。本发明通过间接测量的方式，得出高温半球发射率，实现了低导热率非导体材料高温半球发射率测量途径，测量过程科学，结果准确可靠。
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公开(公告)号：CN107560828A
公开(公告)日：2018-01-09
申请号：CN201610515828.X
申请日：2016-07-01
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供了一种微光像增强器信噪比校准装置，包含标准卤钨灯光源、滤光片、积分球、圆孔光阑、共轭对称透镜系统、测试屏蔽罩、微弱照度计，所述标准卤钨灯光源所发出的光经过滤光片组衰减后在积分球内多次漫反射，然后在积分球出口处形成均匀光斑，积分球照亮其前面的圆孔光阑，光阑最后经过共轭透镜聚焦在放置在暗箱内的标准微弱照度计上形成一直径为0.2mm的圆光斑，再将标准微弱照度计切换至待测像增强器，由此实现对微光像增强器信噪比的校准。本发明可实现对微光像增强器信噪比校准精度的有效提升，减少测量误差，提升测量精度。
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公开(公告)号：CN106767160A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611068607.9
申请日：2016-11-29
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: F41G3/32
CPC classification number: F41G3/32
Abstract: 本发明涉及一种射频/光学波束合成器，包括由基板和镀层组成的方形单元结构，基板采用光学材料，基板正面镀有镀层，镀层采用高反射率金属，镀层上有周期性重复的镂空图形。上述波束合成器在光学材料表面镀制FSS平面，保证表面质量、确保光学信号的高反射率，同时可以使射频信号由FSS表面透射，避免偏振态的改变。
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公开(公告)号：CN106679826A
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201510760903.4
申请日：2015-11-10
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/20
Abstract: 本发明提供一种微型成像式红外温度场测量系统，包括：红外成像模块，用于收集被测目标的红外辐射；N个辐射匀化单元，用于将所述红外辐射进行匀化处理，其中N为大于等于2的整数；与所述N个辐射匀化单元对应的N个单波长滤光单元，每个单波长滤光单元包括M个滤光片，用于分别获取不同波长的红外辐射，其中M为波长数量；红外探测器，用于检测不同波长的红外辐射并输出测量信号；将多波长辐射测温理论应用到微型成像式红外温度场测量系统，解决了目前微型成像式红外温度场测量系统抗干扰能力低、测量精度差的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106444055A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201611068610.0
申请日：2016-11-29
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
CPC classification number: G02B27/10 , H01Q15/0046
Abstract: 本发明涉及一种射频/光学波束合成器的设计方法，包括步骤：确定设计指标；从数据库中调用设计参数，结合光学信号反射传输理论和射频透射传输理论，确定射频/光学波束合成器的初步设计结果；利用光学信号和射频信号仿真方法进行仿真；当仿真结果符合预期结果时，将初步设计结果作为最终结果。本申请将光学仿真与射频仿真有机结合，提出基于光学材料的射频/光学波束合成器设计方法。根据本方法得到的合成器，在光学材料表面镀制FSS平面，保证表面质量，确保光学信号的高反射率，同时可以使射频信号由FSS表面透射，避免偏振态的改变。
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公开(公告)号：CN106197290A
公开(公告)日：2016-12-07
申请号：CN201610712823.6
申请日：2016-08-24
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
CPC classification number: G01B11/02 , G01B11/167
Abstract: 本发明涉及一种基于结构光和数字散斑测量高温物体位移和形变的装置，包括：结构光激光器，用于输出单色结构光并照射到被测物体表面；激光测距单元，用于获得被测物体表面到光电探测单元的距离；光学成像单元，用于将被测物体表面的单色结构光图像成像在光电探测单元上；光电探测单元，用于采集成像的图像并发送给数据处理单元；数据处理单元，用于对光电探测单元发来的图像以及所述被测物体表面到光电探测单元的距离进行计算，得到所述被测量物体在高温状态下的位移和形变。本发明可以用于测量物体在高温状态下的位移和形变。
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公开(公告)号：CN103175677B
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201310065833.1
申请日：2013-03-04
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及紫外光参数校准技术领域，具体的讲是一种紫外多参数校准装置，旋转平台内置于所述真空仓内，单色仪与真空仓相连接，紫外探测器通过单色仪测量真空仓内的紫外光源的辐射，或者紫外光源通过单色仪向真空仓提供紫外光源的辐射；标准紫外光源，待校准光源，标准紫外探测器，待校准探测器，紫外成像器和紫外成像参数校准系统均置于所述旋转平台之上，所述旋转平台根据控制信号沿着所述旋转平台的圆心旋转，其中，所述紫外成像器和紫外成像参数校准系统处于同一光路。通过上述实施例，能够在一个共用校准装置上实现紫外光源光谱辐射度校准、紫外探测器光谱响应度和紫外成像器参数的校准，节省了试验成本，提高了试验效率。
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公开(公告)号：CN102998089B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201210478716.3
申请日：2012-11-23
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种极远紫外探测器校准装置，包括光源、汇聚摆镜单元、紫外单色仪单元、探测器单元和压力差分单元。其中，汇聚摆镜单元包括一汇聚摆镜，其包括摆镜和旋转位移平台，摆镜为两块非反射面贴合的凹面反射镜，其反射镜中心轴线重合，其中一块反射镜的反射面A镀30nm～200nm反射膜，另一块反射镜的反射面B镀60nm～200nm反射膜。探测器单元包括标准探测器和待测探测器。利用本发明可以实现在30nm～200nm范围内探测器相对光谱响应度校准。本发明提供的整个装置体积小巧，接口丰富，在极紫外和远紫外辐射度校准和消除高级次光谱上有独特的设计，提高了极紫外和远紫外辐射校准的精度。
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公开(公告)号：CN102998088B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201210478703.6
申请日：2012-11-23
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种极远紫外光源校准装置，包括光源、汇聚摆镜单元、紫外单色仪单元、探测器单元和压力差分单元。其中，汇聚摆镜单元包括一汇聚摆镜，其包括摆镜和旋转位移平台，摆镜为两块非反射面贴合的凹面反射镜，其反射镜中心轴线重合，其中一块反射镜的反射面A镀30nm～200nm反射膜，另一块反射镜的反射面B镀60nm～200nm反射膜。利用本发明可以实现30nm～200nm范围内光源光谱辐射参数校准。本发明提供的整个装置体积小巧，接口丰富，在极紫外和远紫外辐射度校准和消除高级次光谱上有独特的设计，提高了极紫外和远紫外辐射校准的精度。
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