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公开(公告)号：CN1800834A
公开(公告)日：2006-07-12
申请号：CN200610001365.1
申请日：2006-01-20
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明涉及一种提取相干梯度敏感干涉条纹级数的方法，属于断裂力学参量测量的技术领域。首先在未加载前，对试件进行拍摄，得到干涉条纹图的背景光强a；分别拍摄该试件在载荷P1、P2下的两幅相干梯度敏感干涉条纹图，拍摄得到的第一幅和第二幅干涉条纹图的光强分别为：I1、I2；根据载荷和光强，计算第一幅干涉条纹图的条纹级数m1。本发明方法的优点是能够明显提高相干梯度敏感方法的计算精度，尤其是对于低级数条纹点的计算结果；方法简单，不需要已有技术以外的光学装置；可与同次断裂实验中其它任意载荷的条纹图进行相应处理提取条纹级数。
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