-
公开(公告)号：CN111442757A
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN202010105944.0
申请日：2020-02-20
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: G01C3/00
Abstract: 本发明提供了基于色散透镜与滤光片的视觉测距系统，包括沿光路方向依次设置的成像透镜(1)、成像光路单元(2)、滤光单元(3)、成像单元(4)和图像计算处理单元(5)；所述成像透镜(1)为色散透镜；所述成像光路单元(2)包括多片分光片以及反射镜，用于将来自目标景物的入射光分为多个光束并分别进入多个并行光路；所述滤光单元(3)位于每一个并行光路的末端，用于保留每个光路的对应窄带波段光信号；所述成像单元(4)包括多个图像传感器，用于采集各窄带波段光信号；所述图像计算处理单元(5)与成像单元(4)相连，用于对所采多幅图像数据进行计算，通过采用深度恢复算法实现目标景物深度恢复。本发明还提供了基于如上系统的测距方法。
-
公开(公告)号：CN108459417B
公开(公告)日：2020-06-26
申请号：CN201810111381.9
申请日：2018-02-05
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: G02B30/23 , G02B27/00 , H04N13/207 , H04N13/271 , H04N13/10 , H04N5/225
Abstract: 本发明提供了一种单目窄带多光谱立体视觉系统及其使用方法。该系统包括一个带有轴向色差的光学成像镜头，一个通道数N≥4的窄带多光谱图像传感器，一个对窄带多光谱图像进行处理分析的图像处理单元。本发明提供的单目窄带多光谱立体视觉系统，可以一次曝光获得图像面XY空间位置自然校准而聚焦清晰度不同的多幅窄带光谱图像。使用配套的如散焦模糊度算法可以获得图像任意空间位置XY的深度Z信息，克服双目立体视觉运算量大及激光3D视觉系统价格昂贵等缺点，在先进制造、智能机器人移动、无人驾驶汽车导航与避障等具有广泛应用价值。
-
公开(公告)号：CN110082334A
公开(公告)日：2019-08-02
申请号：CN201910463864.X
申请日：2019-05-30
Applicant: 华侨大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明提供一种多通道光纤荧光传感器，包括光源、激发光分光装置、与所述激发光分光装置连接的信号光分光装置、分别与所述信号光分光装置连接的探头阵列和滤光装置、与所述滤光装置连接的成像系统以及分别与所述光源和所述成像系统通讯连接的控制和数据显示终端，所述探头阵列包括光纤探头，所述光纤探头具有裸露芯区和量子点。光源发出的激发光经分光装置耦合分别进入不同的光纤探头，在探头表面产生的倏逝波激发探头上的量子点产生荧光信号，该荧光信号的信号光被光纤探头收集并经过分光装置耦合进滤光模块，实现多通道的荧光信号采集，其检测结构可直观显示在成像系统中，成本相对较低、体积相对较小、携带方便且可迅速获取结果。
-
公开(公告)号：CN109754418A
公开(公告)日：2019-05-14
申请号：CN201811641513.5
申请日：2018-12-29
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: G06T7/55
Abstract: 本发明属于3D传感器测量技术领域，提供了一种单摄像头立体视觉方法，其包括三个操作步骤：第一步图像获取，利用所述快照式多光谱摄像装置，进行一次曝光零时差采集N幅(N≥2)光谱图像；第二步聚焦清晰度计算：所述图像处理分析装置计算所述N≥2幅光谱图像在每一个像素(X,Y空间位置)聚焦清晰度；第三步深度探测：根据所述聚焦清晰度度，获取每一个像素所对应位置的纵向(即深度)Z信息，完成XYZ立体视觉。该方法克服双目立体视觉运算量大及激光3D视觉系统价格昂贵等缺点，在先进制造、智能机器人移动、无人驾驶汽车导航与避障等具有广泛应用价值。
-
公开(公告)号：CN105353514B
公开(公告)日：2018-10-16
申请号：CN201510783316.7
申请日：2015-11-16
Applicant: 华侨大学 , 麦克奥迪实业集团有限公司 , 宁波五维检测科技有限公司
Inventor： 易定容
Abstract: 本发明提供了一种减小激光束横截面积的方法，在激光发射器与被照物体之间的光路中设置空间光调制器；所述激光发射器发出的入射激光束在空间光调制器上产生主光斑和副光斑；所述主光斑覆盖到空间光调制器的N个相邻的微单元上，只打开以主光斑圆心为中心n个微单元(n＝1,2,…,N)，其它N‑n个微单元为关闭状态，则出射激光束的横截面积d＝D*(n/N)，其中D为主光斑的横截面积。本发明还提供了一种激光显微切割的方法和装置。上述的一种减小激光束横截面积的方法，通过人为操作和控制，使激光束的横截面积在一定范围内缩小。上述的一种激光显微切割的方法和装置，能够实现切割线宽度小到微米甚至亚微米的激光切割。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107390373A
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：CN201710662281.0
申请日：2017-08-04
Applicant: 华侨大学
IPC: G02B27/09
CPC classification number: G02B27/0927 , G02B27/0938
Abstract: 本发明涉及一种基于轴棱锥检测涡旋光拓扑荷数的装置，包括光学平台，光学平台设有激光器和沿激光器光轴依次设置的可调衰减器、准直扩束系统、光阑、螺旋相位板、轴棱锥系统以及观测系统。采用本发明的技术方案后，运用单个光学元件直接对涡旋光进行拓扑电荷数检测，这极大地简化了拓扑荷数检测的实验装置结构。相比于传统检测方案，本方案更加简单快捷、成本低、检测效率也更高。并且由于轴棱锥的线聚焦特性，使得该方案在实际检测工作中无需对检测点进行严格定标，更加具备灵活性。本发明还提出了一种基于轴棱锥检测涡旋光拓扑荷数的方法，其在实际检测工作中更具备灵活性，实施起来更加的简单快捷，成本也较低。
-
公开(公告)号：CN107186364A
公开(公告)日：2017-09-22
申请号：CN201710561322.7
申请日：2017-07-11
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: B23K26/38 , B23K26/06 , B23K26/064
CPC classification number: B23K26/38 , B23K26/06 , B23K26/064 , B23K26/0648 , B23K2103/32
Abstract: 本发明提供了一种无机械运动实现精确激光切割轨迹的方法,空间光调制器放置在激光发射器与待切割标本之间，使得空间光调制器与聚焦透镜组的焦面共轭；激光发射器发出的入射激光束在空间光调制器上产生至少1个主光斑；主光斑覆盖到空间光调制器的N个相邻微单元上；激光束的其它光斑还覆盖空间光调制器的M个微单元，M≥0；在主光斑覆盖的N个微单元中，只打开其中n个相邻且首尾闭合的微单元使其首尾连接为中空的闭合曲线，n≤N，其它的N‑n+M个微单元为关闭状态；使得从空间光调制器出射的激光束经过聚焦透镜组后投射到待切割标本上时，也呈现中空的闭合曲线，从而在待切割标本上实现闭合切割曲线。
-
公开(公告)号：CN105403170A
公开(公告)日：2016-03-16
申请号：CN201510922156.X
申请日：2015-12-11
Applicant: 华侨大学 , 麦克奥迪实业集团有限公司
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明涉及一种显微3D形貌测量方法，步骤如下：1)分别在焦前与焦后拍摄载物台上的待测物体的图像If＝If(i，j)、Ib＝Ib(i，j)，0≤i＜I，0≤j＜J；其中，I是图像总行数，J是图像总列数；2)根据如下公式计算得到待测物体在每一个位置(i，j)的待测图像I(i，j)，公式为：3)将待测图像I(i，j)与预先刻度的I(h)曲线对比，确定待测物体在每一个位置(i，j)表面形貌相对高度h(i，j)，0≤i＜I，0≤j＜J。本发明所述的方法实现的纵向形貌测量效率高，仅仅获取两幅图像就能够以非接触的方式实现多点测量待测物的表面高度，不需要采用传统方法进行层层扫描来获取多幅图像。虽然获得刻度曲线时候需要多个图像，但是一台仪器只需要刻度一次，即可一直用于后续使用，使用不同的标本也不需要重新刻度。
-
公开(公告)号：CN105091785A
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201510500177.2
申请日：2015-08-14
Applicant: 华侨大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种用于砂轮表面形貌的检测方法与系统，系统包括沿光源发出光线的光路上依次设置准直透镜、反射镜、分光镜和微透镜阵列；待测砂轮对应于微透镜阵列的出射侧设置，并在垂直于光轴的方向的一固定轴上做一维横向移动，以及绕着此固定轴做旋转运动。本发明将微透镜阵列作为并行光色散器件，所产生的色散光点阵列可同时对待测砂轮表面上的多点进行垂直于光轴方向的横向扫描，结合待测砂轮绕固定轴的旋转运动，在无需沿光轴方向做纵向扫描的前提下获得整个待测砂轮表面的三维几何量信息。从而可很好地表征待测砂轮表面的三维信息，并极大地提高了针对砂轮表面形貌的测量效率。
-
公开(公告)号：CN105067634A
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201510500219.2
申请日：2015-08-14
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本发明公开了一种用于平板表面质量的检测系统，其系统包括沿光源发出光束的光路上依次设置准直透镜、数字微镜器件、分光镜和色散透镜；待测平板对应于色散透镜的出射侧设置，且待测平板在垂直于光轴的方向上做横向往复移动。本发明将数字微镜器件作为线型光源，结合色散透镜产生线型色散光，可对平板表面进行横向线扫描，在无需沿光轴方向做纵向扫描的前提下利用垂直于光轴方向上的一维运动获取被测平板表面的三维信息，以及其表面的瑕疵、划痕等质量信息，极大地提高了针对平板表面质量问题的检测效率。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
91
records
(took 0.03 seconds)
