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公开(公告)号：CN114137713A
公开(公告)日：2022-03-04
申请号：CN202111361367.2
申请日：2021-11-17
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明提供一种无标记厚样本的实时定量相位成像方法和系统，其中上述方法主要包括如下步骤：采集待检测样品反射的光场；对光场执行衍射光调制；每个周期的衍射光的振幅近似相等；获取检测端的强度图案信号及横向剪切方向的目标差分相位；执行衍射光调制的至少四个不同参数的移相处理获得至少四个强度图案信号；依据强度图案信号计算获得横向剪切方向的差分相位和；对差分相位和执行傅里叶变换，获取横向剪切方向的测量相位。按照本发明实现的成像方法和系统，能够使得横向剪切方向的分辨率更加均匀，并且无需改变差分方向和照明方向即可获取二维相位图，并且结构简单，结合本发明中的成像计算方法，能够显著提高计算效率和成像速度。
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公开(公告)号：CN113959364A
公开(公告)日：2022-01-21
申请号：CN202111230974.5
申请日：2021-10-22
Applicant: 华中科技大学 , 中国人民解放军91550部队
Abstract: 本发明公开了一种三频相位展开方法及测量装置。所述三频相位展开方法，是将预先设计的六幅条纹图分别投影到待测物体上，分别获取对应的六个被调制条纹图的图像信号，根据所述图像信号进行相位求解和展开，其中所述六幅条纹图被分为高频、中频和低频三组，高频组包括三幅三步相移条纹图，中频组包括两幅两步相移条纹图，低频组包括一幅单频条纹图。本发明兼顾了测量精度和速度，和标准三频三步相移法相比减少了三幅所需投影条纹图，提高了测量速度，和标准双频三步相移法相比提高了测量精度。
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公开(公告)号：CN112577406B
公开(公告)日：2021-11-19
申请号：CN202011588939.6
申请日：2020-12-29
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种多探针电容位移传感器和表面测量方法，属于精密位移和表面测量相关技术领域。装置包括多探针测头、计量单元和直线直驱电机，多探针测头采用阵列式铰链结构支承阵列式探针，每个探针连接片上的铰链结构的导电膜，与上方的固定板上的导电膜构成电容位移计量单元，结合固定板上的激光干涉计量单元，则可以获得探针的位移。直线直驱电机驱动整个多探针测头，水平位移机构带动被测件进行二维位移，可以实现表面形貌的大量程多探针扫描测量。本发明装置结构简单，操作简单，测量精度和效率高。
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公开(公告)号：CN111664346B
公开(公告)日：2021-10-01
申请号：CN202010541445.6
申请日：2020-06-15
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明提出一种适用于大尺度长周期无油条件下的超滑结构，包括树脂基材质的上基底和下基底，所述上、下基底相接触的摩擦面上均设有若干条形通道或异形凹槽；所述摩擦面弹性模量为1.0‑10GPa，体弹模量为1.0‑10GPa，剪切模量为0.3‑2.0GPa，泊松比为0.2‑0.7。本发明利用结构与材料本征特性实现超滑性能，突破了对超滑状态对晶体特定结晶状态需求的限制。其摩擦系数可低至10‑3数量级，可适用于大尺度、长周期、高载荷、无油条件下的机械往复运动、循环周期运动、微动运动、冲击运动等，可应用于机械、电子、模具、航空航天等领域，减少能源消耗和因摩擦引起的机械故障。
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公开(公告)号：CN113074657A
公开(公告)日：2021-07-06
申请号：CN202110282333.8
申请日：2021-03-16
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于虚拟平面采样的三坐标相位映射表标定方法。该方法包括确定结构光系统的参数模型与畸变模型，并在结构光系统对应的坐标系中生成若干虚拟采样平面；获取相机的任一相机像素点，计算相机像素点到各虚拟采样平面上的反投影采样点的采样坐标；计算确定各反投影采样点到投影仪成像面上的投影像素点，并基于投影像素点计算得到反投影采样点对应的相位采样值；基于各相位采样值进行多项式拟合，得到对应所有相机像素点的三维多项式系数表。本发明实现了使用虚拟平面采样计算替代实际平板采样操作，简化了系统标定流程与操作，降低了硬件与时间成本，且通过虚拟平面采样得到的结果与实际平板采样的结果几乎相同。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108563856B
公开(公告)日：2020-07-10
申请号：CN201810295009.8
申请日：2018-03-30
Applicant: 华中科技大学
IPC: G06F30/20
Abstract: 本发明公开了一种基于自由节点B样条建模的自适应采样方法，包括如下步骤：1、利用随机相移的均匀采样法对目标对象进行初始采样；2、利用四元树对采样点集进行划分得到测试位置；3、对采样点进行自由节点B样条建模；4、计算已确定的测试位置处的不确定度；5、根据步骤四求得的不确定度从采样空间中筛选新的最佳采样点并获取新的最佳采样点的采样值，然后将新的最佳采样点加入采样点集，得到新的采样点集；6、对新的采样点集重复步骤2到步骤5，直至采样点数量达到设定值，完成自适应采样。本发明通过在建模过程中自动令节点矢量与表面的动态变化相适应，达到比现有的采样方法更高的精度，尤其适用于不连续的高动态范围表面的测量。
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公开(公告)号：CN110631483A
公开(公告)日：2019-12-31
申请号：CN201910932300.6
申请日：2019-09-29
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于精密测量领域，并公开了正交光栅三自由度磁浮测量传感器、检测仪及其检测方法，其包括分光棱镜、分设于分光棱镜左右两侧的激光器和第一平面反射镜、分设于分光棱镜上下两侧的干涉信号探测器和正交透射光栅、位于正交透射光栅下方的第二平面反射镜以及位于第二平面反射镜上方且呈正交布置的四个光斑位置探测器，第二平面反射镜安装在待测的磁浮触针结构上；所述检测仪包括偏转角度计算模块、位移计算模块及所述正交光栅三自由度磁浮测量传感器；所述检测方法由所述检测仪实现。本发明可实现两个方向的偏转角度的同时测量，对触针磁浮轴支撑刚度进行电流反馈，从而使得垂直方向的直线位移精确计量，具有结构紧凑、测量精度高等优点。
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公开(公告)号：CN109163673B
公开(公告)日：2019-07-05
申请号：CN201810940750.5
申请日：2018-08-17
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种多波长和相移干涉双同步的表面实时测量方法及系统，其采用干涉模块、分光相移模块及CCD成像模块，其将参考光和测量光经过分光相移模块先被分解为四路光源并同步移相0、π/2、π、3π/2，移相后的四路光源进行干涉经过CCD成像模块采集得到同步相移干涉图样，测量前对同步相移干涉图样进行参数标定，标定的参数为各通道采集到的参考光、测量光强相对于第1通道采集到的参考光、测量光强的比值和各通道引入的相移量与第1通道引入的相移量之差，利用标定的参数进一步确定被测样件的相位信息，从而得到被测样件的表面瞬时结构并提高了测量结果的准确性。
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公开(公告)号：CN109612686A
公开(公告)日：2019-04-12
申请号：CN201811490138.9
申请日：2018-12-06
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明公开了一种基于神经网络的色散共焦测量装置标定方法，其利用色散共焦测量装置测量压电陶瓷的测量位置并处理得到新的归一化光谱响应信号的光强序列；将所有的新的归一化光谱响应信号的光强序列构成光强集合及对应的测量位置构成测量位置集合并随机划分为训练集和测试集；将所有训练集的光强序列经输入至神经网络，经神经网络的权重系数矩阵运算后得到与光强信号对应的预测位置值；计算所有训练集的光强序列预测位置值与实际测量值的误差E，依据误差E调整权重系数矩阵中的各权重系数，并验证所有测试集的光强序列预测位置值满足预设的条件时，权重系数矩阵的各权重系数即为色散共焦测量装置的标定值，从而提高色散共焦测量装置的标定值的准确性。
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公开(公告)号：CN109579731A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811434805.1
申请日：2018-11-28
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于三维表面形貌测量相关技术领域，并公开了一种基于图像融合来执行三维表面形貌测量的方法，其包括：针对待测量对象，分别获得低分辨率的初始表面形貌图像和高分辨率的灰度原图；通过基于本征图像分解的全局照明估计和局部照明估计，得到新的更接近真实照明的优化后灰度图像；采用形状恢复算法将初始表面形貌图像与优化后灰度图进行融合，生成分辨率获得增强的优化后表面形貌图像。通过本发明，不仅可获得更高分辨率的表面形貌测量结果，而且具备高效率、便于操控和误差率低等优点，同时很容易与高动态范围表面的在线高速测量集成在一起。
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