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公开(公告)号:CN202443073U
公开(公告)日:2012-09-19
申请号:CN201220072285.6
申请日:2012-02-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本实用新型提供一种用于校准瞬变电磁场的场均匀性的双探头系统,该系统包括示波器(1)、第一探头(2)和第二探头(3),所述第一探头(2)和所述第二探头(3)与所述示波器(1)电连接。所述双探头系统对包括脉冲信号源在内的瞬变电磁场产生装置的要求低,能够快速、准确地对瞬变电磁场的场均匀性进行校准,而且使用方便,成本低。
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公开(公告)号:CN202794353U
公开(公告)日:2013-03-13
申请号:CN201220430165.9
申请日:2012-08-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本实用新型提供一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架,该支架包括底座(1)、角度调节装置(2)和测试杆(3);底座(1)包括两个支撑臂(11)和固定盘(14),两个支撑臂(11)互成90度角且与固定盘(14)固接,每个支撑臂(11)靠近固定盘(14)的一端设有凸起(12),固定盘(14)的中心设有转轴(15);角度调节装置(2)安装在转轴(15)上且能够绕转轴(15)转动,角度调节装置(2)的一端与测试杆(3)的一端连接。当校准瞬变电磁场的场均匀性的系统中采用所述支架时,所述支架不仅能够用于支撑和固定探头,而且能够用于调节探头的位置和角度;所述支架能够满足对电磁脉冲均匀区多角度、多位置和多平面的测试需求;所述支架对探头的位置和角度的调节精度高;所述支架制作成本低,使用方便。
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公开(公告)号:CN202794350U
公开(公告)日:2013-03-13
申请号:CN201220428897.4
申请日:2012-08-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本实用新型公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的装置,该装置包括支撑架(1)、示波器(2)、第一探头(3)和第二探头(4);所述支撑架(1)包括底座(11)、转轴(12)、主体架(13)、第一旋转盘(14)、第二旋转盘(15)、第一探头固定装置(16)和第二探头固定装置(17);所述第一探头(3)固定于第一探头固定装置(16)上,所述第二探头(4)固定于所述第二探头固定装置(17)上,所述第一探头(3)和所述第二探头(4)与所述示波器(2)电连接;所述底座(11)包括固定盘(111)、第一座臂(112)和第二座臂(113);所述主体架(13)包括测试杆(131)、第一支杆(132)、第二支杆(133)、第一立柱(134)和第二立柱(135)。所述装置对瞬变电磁场场均匀性的校准速度明显加快。所述装置对瞬变电磁场场均匀性的校准精度高。
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