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公开(公告)号：CN109342833A
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201811125472.4
申请日：2018-09-26
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/10
CPC classification number: G01R29/10
Abstract: 本发明公开一种校准装置，所述装置包括：可发射微波的发射装置，以及与所述发射装置配合的接收装置，接收装置包括探头组件，用于检测所述接收装置附近的场强；第一天线组件，用于接收所述微波；以及第一调节组件，第一调节组件与所述天线组件结合，当所述探头组件工作时，所述第一调节组件使所述天线组件向远离所述探头组件的方向移动至预设位置。本发明通过设置探头组件和第一天线组件，既可以用来对微波天线的天线系数、方向图、轴比进行校准，还可以对场强探头的频率响应、三轴等参数进行校准。通过设置第一调节组件，从而使得探头组件工作时，可以将天线组件移开，从而避免第一天线组件对探头组件造成干扰，能够一体化校准。
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公开(公告)号：CN105572484B
公开(公告)日：2018-10-16
申请号：CN201510955490.5
申请日：2015-12-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明公开了一种TEM室阻抗匹配方法和装置，能够实现在TEM室工作频段范围内，全频段内驻波小的要求。本发明所述装置包含内导体和外导体，其中，所述内导体的母线形状和/或所述外导体的母线形状为带斜率的指数渐变线。本发明所述方法包含以下步骤：建立阻抗匹配装置结构参数化模型；设置阻抗匹配装置的边界条件和材料参数，调整内、外导体斜率和指数项系数，内、外导体不连续面之间的距离，对电磁场进行仿真计算，以S参数为优化目标，直至得出最佳系数和最佳距离。本发明使得电磁波在TEM室里传输过程中回波少，能量损失少，驻波在工作频段内小于1.2。
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公开(公告)号：CN108254629A
公开(公告)日：2018-07-06
申请号：CN201711353687.7
申请日：2017-12-15
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明提出了一种天线效率测量装置。包括水平转台、第一水平导轨、第一平台、第二水平导轨、第二平台、支柱、极化转盘、方位角旋转电机、极化角旋转电机，水平转台中央为方位角旋转电机驱动的转子，转轴垂直于地面；第一水平导轨的底部与转子顶面固定连接；第一平台底部与第一水平导轨滑动接触，第一平台顶部与第二水平导轨的底部固定连接；第一水平导轨和第二水平导轨的方向互相垂直；第二平台底部与第二水平导轨滑动接触；支柱垂直地安装在所述第二平台顶部；极化转盘通过水平轴向的轴承安装在所述支柱的顶部，由极化角旋转电机驱动。所述支柱的材料为聚四氟乙烯。本发明解决金属支架对测量结果影响大且无法实现天线方向图全方位测量的问题。
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公开(公告)号：CN108152772A
公开(公告)日：2018-06-12
申请号：CN201711437115.7
申请日：2017-12-26
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开了一种基于微波暗室的高幅度场强传感器校准方法。与现有的标准场法场强标准装置相比，本发明使用了1000W放大器，并提出了采用该放大器和耐受功率超过1000W的微波器件实现1000V/m或更高场强的产生方法，采用空间衰减的方法避开了微波器件无法在大功率条件下溯源的问题，解决了标准场法和标准天线法目前不能对200V/m以上幅度场强进行溯源的问题，从而可解决目前能够购买到的场强传感器场强幅度测量范围通常超过200V/m，而现有的场强标准装置只能满足200V/m以下场强传感器校准的问题。实现了1GHz以上频段、高于200V/m场强的电磁场传感器校准需求；从而实现了现有场强标准装置不能完成的高幅度场强传感器校准工作。
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公开(公告)号：CN104569888B
公开(公告)日：2017-06-06
申请号：CN201410816020.6
申请日：2014-12-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开一种利用微带线法校准近场探头修正因子的系统及方法，该系统包括：置于微带线基板的微带线、可调信号源、频谱分析仪、近场探头和负载终端以及与频谱分析仪连接的数据处理单元；近场探头置于微带线上方，用于探测可调信号源经微带线向负载终端发送的信号；频谱分析仪用于连接微带线并测量可调信号源经微带线发送至频谱分析仪的信号的电压值；频谱分析仪还用于连接近场探头并测量近场探头探测得到的信号的电压值。本发明所述技术方案，采用与实际测试相近微带线产生的近场，校准出各校准频率点下近场探头的修正因子，为利用校准的修正因子去修正测试中的微带线辐射场做好准备，提高测量数据的准确性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118244012A
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202311810239.0
申请日：2023-12-26
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本说明书公开了一种宽带连续射频量子场强测量方法及装置，涉及射频电磁场测量领域，旨在解决现有技术中里德堡原子量子电场测量方案受限于现有偶极共振跃迁工作原理，测量带宽窄，不具有普适性，难以实现仪器化的问题。本发明包括确定里德堡原子能级；制备里德堡原子，并通过施加电场的方式测量里德堡原子的能级移动量；计算目标里德堡原子的极化率，并结合所述能级移动量进行射频电场强度的测量。本发明为传统标准装置的设计和改进提供实测可靠的数据支撑，能够更真实的还原被测的电场信息，为电磁环境特征提供有效测量工具，也可作为电磁兼容测量的新方案。
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公开(公告)号：CN117039395A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202311017034.7
申请日：2023-08-14
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了天线支撑方法及装置，解决了更换不同型号天线时会改变天线口面位置的问题。一种天线支撑方法，包含步骤：确定天线支架中轴线与天线前端的天线口面的距离为第一距离；所述第一距离固定不变；确定天线尾端距离天线口面平面的距离为第二距离；对比第一距离和第二距离；第一距离大于第二距离，天线支架上端设置的天线工装向天线口面方向探出第一距离与第二距离的差值；或，第一距离小于第二距离，天线支架上端设置的天线工装向远离天线口面方向探出第一距离与第二距离的差值。本申请可以保证针对不同规格的标准增益天线安装时天线口面位置均在同一参考面，更换天线时无需复测口面位置，满足不同场测试场景的需求。
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公开(公告)号：CN112098736B
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202010874722.5
申请日：2020-08-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/12
Abstract: 本发明提供一种微波电场相位的测量方法，将处于里德堡态的原子设于可感应本地微波电场和待测的信号微波电场的位置，然后利用探测器接收探测光照射所述原子后的设定频段或频率的检测信号，进而可以根据所述检测信号确定所述信号微波电场的相位，本发明的测量方法是基于量子超外差原理，利用里德堡原子作为微波敏感介质，实现对微波电场相位的高灵敏度测量，该方法不仅能显著提高对微波电场相位的测量灵敏度，原理清晰、结构简单、易于实现与应用，突破了现有的指标，实现了将微波电场测量精度提高一个数量级的目的，从而为微波电场相位的精密测量研究提供新技术基础。
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公开(公告)号：CN116165592A
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202211630028.4
申请日：2022-12-19
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种低频宽带高场强产生方法和装置，用无局放变频电源信号功率放大器作为信号源产生低频宽带信号，经低频宽带高压放大器放大后将电压加载在两个平行板上，其中，信号源频率范围覆盖5Hz～3kHz，平行板间距离不小于0.75m，场强幅值达到10kV/m。本申请解决了低频电场生成中难以兼顾高压和宽频的问题。
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公开(公告)号：CN116155406A
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202211732908.2
申请日：2022-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H04B17/15
Abstract: 本说明书涉及信号测量领域，公开了一种针对大功率发射机产品的测试方法和系统，用以解决现有技术中大功率发射机谐波、乱真幅值测量结果准确性不足的问题。本发明包括：将待测发射机、大功率衰减器和EMI接收机顺次通过电缆连接；使待测发射机出预设的工作信号；调整EMI接收机的扫描参数，获得基波功率电平最大指示值；将适配阻带频段的带阻滤波器替换大功率衰减器，抑制基波幅值，获得传递信号；扫描获得天线端口谐波和乱真传导发射电平；比对预设的测试标准获得测试结果。本发明通过完善试验方法，将有效提高对于关键发射机产品的天线端口谐波和乱真传导发射电平的测量和评估。提升实验室对天线端口传导发射试验过程中的准确性和可操作性。
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