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公开(公告)号：CN104374474A
公开(公告)日：2015-02-25
申请号：CN201410535632.8
申请日：2014-10-11
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明提供了一种高精度紫外光谱辐照度测量系统，包括紫外漫透射片、汇聚透镜组、入射狭缝、消偏振器、折反镜、紫外分光系统和线阵紫外探测器。所述紫外漫透射片是一片圆形玻璃；所述汇聚透镜组由一块凸透镜和一块凹透镜组成，两块透镜中心轴线重合，组成一个汇聚光学系统用来收集漫透射光,两块透镜前后表面均镀紫外增透膜；所述入射狭缝高度范围为1mm～40mm；所述消偏振器由两块依次放置的延迟器组合而成；所述折反镜表面镀紫外高反膜。所述紫外分光系统采用光栅分光方式。本发明可对紫外光谱辐射照度进行高精度的测量。
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公开(公告)号：CN102436060B
公开(公告)日：2014-02-26
申请号：CN201110418572.8
申请日：2011-12-15
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提出一种无热化的可见光变焦镜头，依次由胶合透镜组I、透镜I、胶合透镜组II、胶合透镜组III、透镜II和透镜III，胶合透镜组和透镜采用铝合金镜筒联结。本发明通过采用被动无热化设计、变焦距光学设计及合理匹配透镜的材料、半径、距离和厚度参数，使镜头既能实现焦距从20mm到80mm之间变化又能在-40℃～60℃温度范围内实现被动无热化，省却了测温调焦机构，提高了系统可靠性。另外本发明通过采用被动无热化设计、变焦距设计技术及合理匹配透镜的材料、半径、距离和厚度参数，还减小了像差(球差、彗差、象散、场曲、色差及畸变)，提高了镜头光学传递函数，使得镜头可以在-40℃～60℃温度范围内对景物进行变焦距成像。该镜头用于远距离可见光景物的摄取。
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公开(公告)号：CN103175677A
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN201310065833.1
申请日：2013-03-04
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及紫外光参数校准技术领域，具体的讲是一种紫外多参数校准装置，旋转平台内置于所述真空仓内，单色仪与真空仓相连接，紫外探测器通过单色仪测量真空仓内的紫外光源的辐射，或者紫外光源通过单色仪向真空仓提供紫外光源的辐射；标准紫外光源，待校准光源，标准紫外探测器，待校准探测器，紫外成像器和紫外成像参数校准系统均置于所述旋转平台之上，所述旋转平台根据控制信号沿着所述旋转平台的圆心旋转，其中，所述紫外成像器和紫外成像参数校准系统处于同一光路。通过上述实施例，能够在一个共用校准装置上实现紫外光源光谱辐射度校准、紫外探测器光谱响应度和紫外成像器参数的校准，节省了试验成本，提高了试验效率。
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公开(公告)号：CN103148939A
公开(公告)日：2013-06-12
申请号：CN201310062603.X
申请日：2013-02-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明涉及光学测试技术领域，具体的讲是一种抑制二级光谱的紫外光谱测量方法及系统，其中包括当进行110nm-200nm波段的紫外光谱测量时，将真空仓抽真空，紫外辐射透过所述真空仓的氟化镁窗口进入到检测设备，其中所述氟化镁窗口用于吸收波段在110nm以下的紫外辐射；当进行200nm-400nm波段的紫外光谱测量时，向所述真空仓中注入气体，所述紫外辐射通过所述真空仓中的空气和所述氟化镁窗口进入到检测设备，其中所述空气吸收波段在200nm以下的紫外辐射。通过本发明的实施例，在紫外光谱测量时光源光谱辐射度校准和探测器响应度校准中，将二级光谱的杂散辐射有效滤除，减少测量误差，提升测量精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN120027912A
公开(公告)日：2025-05-23
申请号：CN202311566595.2
申请日：2023-11-22
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种结构材料及窗口材料发射率和透射率的测量装置，装置包括：公共组件、结构材料测量组件和窗口材料测量组件；所述公共组件包括温控装置、傅立叶光谱辐射计和标准黑体；标准黑体用于发射标准光谱辐射；温控装置用于控制被测材料的温度；被测材料为结构材料时，通过所述公共组件和结构材料测量组件测量所述结构材料的光谱辐射量值，得到结构材料的法向光谱发射率；被测材料为窗口材料时，通过所述公共组件和窗口材料测量组件测量所述窗口材料的光谱辐射量值，得到窗口材料的法向光谱发射率和光谱透射率。实现了使用一组硬件设备即可测量结构材料和窗口材料的辐射特性。
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公开(公告)号：CN118169867A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202211586591.6
申请日：2022-12-09
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G02B26/08
Abstract: 本发明提供了一种采用磁吸限位的电动光路切换机构，包括反射镜组件、镜座、电动旋转组件、底座和磁吸定位限位组件，电动旋转组件包括旋转外壳、电机和成对角接触轴承，镜座与旋转外壳固定连接，电机的输出轴可带动旋转外壳转动，成对角接触轴承设置在电机的输出轴与旋转外壳之间，磁吸定位限位组件包括第一限位组件、第二限位组件、第一、第二、第三磁钢和撞块，第一限位组件和第二限位组件间隔设置在底座上，第一磁钢设置在第一限位组件上，第二磁钢设置在第二限位组件上，撞块设置在旋转外壳上，第三磁钢设置在撞块上，第三磁钢分别与第一和第二磁钢相互吸引。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中光路切换机构结构复杂，成本高的技术问题。
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公开(公告)号：CN118168667A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202211583348.9
申请日：2022-12-10
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/53
Abstract: 本发明提供了一种使用弹簧定位摆镜进行光路切换的零平衡比对装置，包括标准黑体、光学系统、红外探测组件和综合控制系统，光学系统包括摆镜组件、光阑组件、衰减组件和汇聚镜头，光阑组件用于光路装调时调整被测黑体及标准黑体的通光光束以使两侧光路辐射亮度保持平衡，摆镜组件包括反射镜组件、镜座、旋钮、转轴、定位限位装置和底座，汇聚镜头用于将光束汇聚至红外探测组件，红外探测组件用于实现对红外辐射能量的探测，综合控制系统用于完成对标准黑体、光学系统以及红外探测组件控制及数据采集处理以实现零平衡光学辐射比对。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中零平衡光学辐射比对装置结构均较复杂，成本高的技术问题。
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公开(公告)号：CN118168666A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202211581157.9
申请日：2022-12-09
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/53 , G01J5/0803
Abstract: 本发明提供了一种使用摆镜进行光路切换的零平衡比对装置，包括标准黑体、光学系统、红外探测组件和综合控制系统，光学系统包括摆镜组件、光阑组件、衰减组件和汇聚镜头，光阑组件用于光路装调时调整被测黑体及标准黑体的通光光束以使两侧光路辐射亮度保持平衡，摆镜组件用于实现光路在两个位置处的切换，衰减组件用于对光束的辐射亮度进行衰减，汇聚镜头用于将光束汇聚至红外探测组件，红外探测组件用于实现对红外辐射能量的探测，综合控制系统用于完成对标准黑体、光学系统以及红外探测组件控制及数据采集处理以实现零平衡光学辐射比对。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中零平衡光学辐射比对装置结构均较复杂，成本高的技术问题。
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公开(公告)号：CN118130047A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202211544741.7
申请日：2022-12-04
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供了一种光轴偏移检测装置，该光轴偏移检测装置包括：光轴偏移检测分系统、光源分系统、标准相机检测分系统、遮光罩Ⅰ和遮光罩Ⅱ，光轴偏移检测分系统、光源分系统和标准相机检测分系统置于冲击台上，光轴偏移检测分系统通过遮光罩Ⅰ和遮光罩Ⅱ分别与光源分系统和标准相机检测分系统连接，光轴偏移检测分系统用于检测光学成像器的相对光轴偏移量，光源分系统用于提供持续稳定的可见光和红外光，标准相机检测分系统用于检测光轴偏移检测分系统的光轴偏移量。应用本发明的技术方案，解决了光学成像器在实际应用中无法测量光轴偏移量的技术问题。
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