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公开(公告)号：CN102928049A
公开(公告)日：2013-02-13
申请号：CN201210422711.9
申请日：2012-10-30
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01F23/26
Abstract: 本发明涉及一种液位探测方法及探测系统，其中方法包括：当步进电机驱动探针接触到试管内试剂的液面时，通过电容传感器的输出电压值的变化值判定所述探针已经探测接触到所述液面；当所述探针接触到所述液面并且所述电容传感器的输出电压值的变化值大于预设阈值时，通过所述步进电机控制所述探针停止运动，并控制所述探针沿着所述试管向上运动以脱离所述液面；当电容传感器的输出电压值的变化值小于所述预设阈值时断定所述探针完全脱离所述液面。本发明实施例可最大限度减少探针挂液引起的携带污染，避免探针被堵塞。
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公开(公告)号：CN102749094A
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN201210118681.2
申请日：2012-04-23
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01D11/30
Abstract: 本发明涉及一种特大齿轮在位姿态调整系统及方法，其中系统包括：激光跟踪仪、三维测量平台、姿态调整平台、控制设备、驱动设备；其中，激光跟踪仪获取三维测量平台的测头的第一空间坐标数据和姿态调整平台的第二空间坐标数据；控制设备根据测头的第一空间坐标数据计算三维测量平台的测头的方向向量，并根据测头的方向向量控制三维测量平台的旋转轴的旋转角度；在三维测量平台旋转该旋转角度后，控制设备根据第二空间坐标极据和旋转角度计算姿态调整平台旋转后的空间位置；控制设备根据姿态调整平台旋转后的空间位置和旋转角度控制驱动设备调整姿态调整平台的空间位置。本发明能够实现根据特大齿轮的位置实现小角度、快速的测量。
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公开(公告)号：CN114581653A
公开(公告)日：2022-06-03
申请号：CN202210074586.0
申请日：2022-01-21
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提供了一种微孔板的液位检测方法、电子设备及介质，该方法包括：获取目标图像且对所述目标图像进行处理，得到第二中间图像；对第二中间图像进行角度矫正处理，获取第三中间图像；对第三中间图像进行ROI提取，获取每一微孔的ROI区域图像；对每一微孔的ROI区域图像进行直方图处理，得到每一微孔对应的关键图像；将每一微孔对应的关键图像进行滤波处理，得到最终图像；基于所述最终图像，获取目标图像对应的液位曲线；该方法能够适应外界光强改变、防止在采集图像的过程中，由于相机发生晃动等情况导致微孔板图像成像发生角度的偏移影响检测精度，且可以很好的保证精度要求，使液位容积的计算更加高效简洁，满足检测需求。
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公开(公告)号：CN105674927B
公开(公告)日：2018-05-29
申请号：CN201511026448.1
申请日：2015-12-31
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明提供了一种关节式坐标测量机的测量姿态优化方法，包括以下步骤：a)测量姿态优化过程：将姿态优化装置放置在待测空间内，使用关节式坐标测量机对姿态优化测量装置上不同面上的多个锥孔以不同测量姿态进行测量；计算每个采样点数据的重复精度，并与六个关节转角值组成关节式坐标测量机姿态优化数据，并对数据进行处理；借助关节式坐标测量机的辅助支架在处理后测量姿态下对待测物进行测量；b)数据处理过程：通过D‑H模型计算第j组测量姿态θ1j、θ2j、θ3j、θ4j、θ5j、θ6j下对应的测头坐标xj、yj、zj，计算对应采样点i的至少50组数据坐标平均值
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106706503A
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201611176350.9
申请日：2016-12-19
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01N15/14
CPC classification number: G01N15/14
Abstract: 本发明提供了一种对散射光及荧光信号进行数字处理的硬件装置，是能对多路高速光信号采集，利用FPGA设计基于PCIe总线的流式细胞仪数字信号采集系统，包括硬件部分和软件部分；硬件部分还包括：两块FPGA最小系统、多路电源模块、AD采样模块、校准信号模块、电源管理模块、PMT接口、增益控制接口、前面板控制，软件部分包括：AD数据采集部分、参数提取部分、PCIe数据数据传输部分、控制命令交互部分；微光探测系统输出信号，经过16路AD数据采集，参数提取，然后把各路提取的参数封装成相应的数据包，用PCIe总线上传到上位机处理器，此外还完成数据采集卡底层模块与处理器数据的交互。
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公开(公告)号：CN106500641A
公开(公告)日：2017-03-15
申请号：CN201610917354.1
申请日：2016-10-21
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01B21/04
CPC classification number: G01B21/04
Abstract: 本发明提供了一种关节式坐标测量机的热形变误差补偿方法，包括如下步骤：1)建立温度对关节式坐标测量机的结构参数影响的数学模型；2)将关节式坐标测量机置于温度可控的恒温室中，室温设定为15°等待2小时；3)用关节式坐标测量机对设计的专用标定板进行测量；4)调节恒温室的温度到20°，等待2小时之后再次对标定板进行测量；5)继续升温，每隔5°进行一组测量实验，直至温度升到40°；6)根据专用标定板的标称值计算出各组数据的误差，用关节式坐标测量机结构参数自标定的方法标定出各个温度下的结构参数；7)在恒温室中分别在不同的温度梯度下，再次对标定板进行测量，以此对f(T)的补偿效果进行验证。
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公开(公告)号：CN103954246B
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201410108122.2
申请日：2014-03-21
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明提供了一种具有磁电式锁臂装置的可变臂的关节式坐标测量机，包括六个转动关节，三段测量臂，底座以及测头，由三段测量臂串联的六个可旋转的关节构成空间开链结构，该开链结构的末端是测量机的测头。从底座起，第1级关节和第2级关节内部设置有关节锁定组件，该关节锁定组件为电磁关节锁定组件。本发明基于电磁技术的关节式坐标测量机关节锁定组件，不额外增加机械结构，对测量机力学分布无影响，关节锁定后，减少了进行动态输出的传感器数目，限制了角度传感器的转动，从而减小了该角度传感器的输出误差，提高了测量精确度。
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公开(公告)号：CN103472576B
公开(公告)日：2016-05-18
申请号：CN201310415225.9
申请日：2013-09-12
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提出了一种基于高级次轴对称偏振光束的表面等离子体增强全内反射荧光显微成像方法，包括步骤：激光器发出的激光束经过针孔滤波器进行空间滤波，被准直透镜准直为平行光束；该平行光束入射到偏振转换系统中进行偏振态转换；获得的高级次轴对称偏振光束进一步通过光瞳滤波器和环形光阑进行振幅及相位调制；调制后的高级次轴对称偏振光束经过二向色分束镜反射到高数值孔径的聚焦物镜中进行聚焦，并射入“玻璃基底-金属薄膜-样品”的三层结构上；激发的荧光信号通过该三层结构反射回聚焦物镜中，并被其扩束，通过二向色分束镜透射，经过滤波片滤波后，最终被一聚光镜聚焦到针孔阵列板上，通过探测器将光信号转换为电信号，并进一步处理。
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公开(公告)号：CN102946220B
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201210477435.6
申请日：2012-11-21
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明涉及一种直流电机速度控制系统及速度控制方法，其中直流电机速度控制系统包括：三个霍尔传感器，用于分别获取三相直流电机反馈的三个霍尔信号；数字信号处理模块，用于根据所述三个霍尔信号计算所述直流电机的实际转速；在对所述三相直流电机的转速控制中，将所述三相直流电机的实际转速与预设转速相比较，根据比较结果修正所述实际转速，使得所述三相直流电机稳定在所述预设转速上。本发明实施例可以通过闭环控制的方式提高了三相直流电机的稳定性。
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