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公开(公告)号:CN106969841B
公开(公告)日:2019-05-07
申请号:CN201710352951.9
申请日:2017-05-18
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/06
Abstract: 本发明涉及的是一种基于辐射温度计的源尺寸效应抑制装置,属于辐射测温技术领域。本发明包括光阑反射镜安装盖、光阑反射镜、光阑反射镜安装支架、光路封装筒、消杂光阑和贯通螺纹。与传统的辐射温度计测温光路安装部件相比,本发明的源尺寸效应抑制装置将光阑反射镜及之后的准直汇聚光路整体封装在密闭空间内,避免辐射温度计中其他元件产生的杂散光进入探测器。与单一的消杂光阑安装部件相比,本发明源尺寸效应抑制装置可以在不同位置安装一个或多个不同直径的消杂光阑,对源尺寸效应的抑制效果更好。
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公开(公告)号:CN106052880B
公开(公告)日:2018-10-30
申请号:CN201610346553.1
申请日:2016-05-24
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明涉及一种辐射测温距离的确定方法,属于辐射测温技术领域;该方法以黑体辐射源的轴向温度场为基础,根据黑体空腔的形状参数,结合黑体空腔壁面的材料发射率,计算得到该黑体辐射源的等效黑体截面位置,以该截面的位置作为测温距离的基准,结合辐射温度计的视场,确定辐射测温距离。与传统的以黑体辐射源底部作为测温距离基准的方法相比,对于大视场角的辐射温度计检定和校准,使用该方法确定测温距离能够在一定程度上克服黑体辐射源腔体长度大于测量距离的矛盾;对于以黑体辐射源腔口作为测温距离基准的方法相比,测温结果更为稳定可靠,不易受到各种变量如黑体辐射源温场均匀性等因素的影响。
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公开(公告)号:CN107192706A
公开(公告)日:2017-09-22
申请号:CN201710353376.4
申请日:2017-05-18
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01N21/71
CPC classification number: G01N21/71
Abstract: 本发明涉及一种基于锁相放大的不透明材料的带通发射率测量装置,适用于测量金属、非金属材料表面法向光谱发射率,属于材料热物性参数技术领域。该装置包括:标准参考黑体、样品加热装置、水冷光阑、斩波器、光学耦合系统、滤光片轮、激光器、探测器组、位移台和锁相放大器。其中,标准参考黑体和样品加热装置位置相对于光学耦合系统中的旋转反射镜的中心位置对称,两组斩波器相对旋转反射镜的中心位置对称,滤光片轮放于光学耦合系统和探测器组之间,激光器和探测器组安装在位移台上。本发明采用锁相放大器对探测器的输出进行放大,同时对噪声进行抑制,提高了测量精度,同时通过滤光片轮和探测器组之间的切换,实现了多波长的测量。
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公开(公告)号:CN106052884A
公开(公告)日:2016-10-26
申请号:CN201610366117.0
申请日:2016-05-28
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种内锥型均温靶热管黑体,属于辐射测温技术领域;该装置通过将黑体空腔(7)与热管(5)一体化设计,减小了热管与黑体空腔之间的导热损失,提高了加热效率及升温速度;在黑体空腔(7)底部放置内锥型均温靶(4),使标准热电偶与靶面之间距离尽量小,保证了靶面温度的准确性;同时,内锥型均温靶能够增加标准热电偶或铂电阻的插入深度,减小导热误差;热管(5)采用三段加热,每段的控温传感器(1)均安装在热管外壁面上,其中两段加热包裹在热管的柱体外部,第三段加热为加热盘,放置在热管的底部,分别调整三段的温度,保证黑体空腔的轴向温度场均匀。对比现有技术,本发明内追型均温靶热管黑体温度均匀性好、准确度高。
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公开(公告)号:CN104121993A
公开(公告)日:2014-10-29
申请号:CN201410356168.6
申请日:2014-07-24
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明涉及一种绝对法辐射热流计校准方法,属于热学技术领域。本发明方法将辐射热流计深入到黑体辐射源黑体腔内,采用蒙特卡洛算法,计算评定由辐射热流计与黑体辐射源黑体腔构成的等效腔体模型的有效发射率,从而通过斯蒂芬-波尔兹曼定律,利用黑体辐射源黑体腔温度值计算得出标准辐射热流值,实现对辐射热流计的绝对法校准。本发明在等效腔体模型有效发射率的计算分析中,综合考虑了黑体辐射源黑体腔壁面温度梯度,确定了辐射热流计深入到黑体辐射源黑体腔的最佳位置,以获得最大的等效腔体模型有效发射率。本发明方法直接,中间环节少,测量不确定度小,适用于溯源至温度的绝对法辐射热流计校准。
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公开(公告)号:CN102080990B
公开(公告)日:2012-05-09
申请号:CN201010566406.8
申请日:2010-12-01
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种四波段高温测量方法,这种方法采用的四个测量波段均在800nm~1100nm的近红外波段范围内,且每个测量波段均采用带宽大于50nm的宽波段,使用参考黑体辐射源标定其有效波长,使用参考温度法对温度进行标定。并根据这种测量方法研制了四波段高温测量装置,包括聚焦物镜,传输光纤,三个半反半透镜、四个聚焦透镜、四个滤光片和四个光电探测器和数据处理单元。本发明的技术方案适用于高温表面温度的测量,可以消除或减小材料表面发射率的影响,具有测量准确度高的特点;同时该方案也可有效减小测量距离、环境温度的影响,有很好的环境适应性,在高温测量领域有很好的应用前景。
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