-
公开(公告)号：CN108120729A
公开(公告)日：2018-06-05
申请号：CN201711451912.0
申请日：2017-12-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明涉及CT检测技术领域，特别涉及一种CT检查系统和CT成像方法。本发明所提供的CT检查系统，包括放射源装置、探测装置、旋转监控装置和成像装置，其中：探测装置获取探测数据的频率为放射源装置出束频率的N倍；旋转监控装置检测探测装置的旋转角度并在探测装置每旋转预设角度时向成像装置发送信号；成像装置根据旋转监控装置所发送的信号以及探测装置的探测数据确定放射源装置每次出束时探测装置的转动位置信息，并基于放射源装置每次出束时探测装置的探测数据及转动位置信息生成CT图像。本发明能够较为准确地确定放射源装置每次出束时探测装置的转动位置信息，从而可以有效减少图像形变，提高检测结果的准确性。
-
公开(公告)号：CN108100058A
公开(公告)日：2018-06-01
申请号：CN201711443720.5
申请日：2017-12-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明提出一种叉臂托举式牵引车。本发明的叉臂托举式牵引车包括车体、托板、升降装置、前叉臂组件、后叉臂组件、前叉臂驱动组件和后叉臂驱动组件。车体活动地设于一通道。托板设于车体上方。升降装置能驱动托板升/降。前叉臂组件包括设于托板且能水平转动的两个前叉臂。后前叉臂组件包括设于托板且能水平转动的两个后叉臂，两个前叉臂和两个后叉臂均分居通道的中心线两侧且均能从托板两侧伸出或缩回。前叉臂驱动组件包括设于托板的前传动件和前动力装置，前动力装置能驱动前传动件水平直线移动，使两个前叉臂转动。后叉臂驱动组件包括设于托板的后传动件和后动力装置，后动力装置能驱动后传动件水平直线移动，使两个后叉臂转动。
-
公开(公告)号：CN108037542A
公开(公告)日：2018-05-15
申请号：CN201711444399.2
申请日：2017-12-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
Abstract: 本发明提出一种车辆检测系统。本发明的车辆检测系统包括横探测器臂、两个竖探测器臂、辐射源、多个横探测器和多个竖探测器。横探测器臂能设于地面。两个竖探测器臂设于横探测器臂两端部。辐射源位于横探测器臂上方。多个横探测器设于横探测器臂内并沿横探测器臂的长度方向平铺，用于接收辐射源发出的射线。多个竖探测器对称设于两个竖探测器臂上，且每个竖探测器朝向辐射源的中心点方向设置，用于接收辐射源发出的射线。
-
公开(公告)号：CN107990831A
公开(公告)日：2018-05-04
申请号：CN201711443773.7
申请日：2017-12-27
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本发明提出一种车辆长度测量装置及车辆外轮廓测量装置，涉及车辆测量技术领域。本发明的车辆长度测量装置可用于测量通过一测量通道的一车辆的长度。该车辆长度测量装置包括第一激光扫描仪、速度传感器和第一处理单元。第一激光扫描仪设于测量通道的一侧，能形成平行或重合于测量通道中心线的扫描面，并能检测车辆的前端面到达第一参考位置的第一时刻及后端面驶离第二参考位置的第二时刻。速度传感器用于实时检测车辆的车速，获得实时的速度数据。第一处理单元用于接收速度数据，并从第一时刻到第二时刻对车速进行积分，再减去第一参考位置与第二参考位置之间的距离，以获得车辆的长度。
-
公开(公告)号：CN104515781B
公开(公告)日：2018-01-23
申请号：CN201410851416.4
申请日：2014-12-31
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/02
Abstract: 本发明公开了一种X射线检查系统，包括X射线发射装置、探测器阵列和X射线束流强度监控装置，X射线发射装置发出的X射线束流包括照射于探测器阵列上的工作束流和照射于探测器阵列之外的冗余束流，X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块设置于X射线发射装置和探测器阵列之间以接受冗余束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号。该X射线检查系统的强度探测模块利用的是X射线束流的冗余束流，强度探测模块基本不受X射线发射装置和被检物体的影响，从而可使X射线束流强度的监控结果更加准确可靠。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105346975B
公开(公告)日：2017-12-22
申请号：CN201410418421.6
申请日：2014-08-22
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: B65G15/24 , B65G15/58 , B65G19/02 , B65G47/52 , B65G2203/0233 , B65G2203/0291 , B65G2203/041 , G01M17/00 , G01N23/02 , G01V5/0008
Abstract: 本发明公开了一种车辆拖动系统以及车辆检查系统。车辆拖动系统包括：沿拖动车辆的方向依次排列的第一拖动装置和第二拖动装置，在拖动车辆的方向上，第一拖动装置设置在第二拖动装置的上游并且第一拖动装置和第二拖动装置之间设有间隔部分，使得在拖动车辆的方向上第一拖动装置和第二拖动装置间隔开预定距离；第一拖动装置包括第一支撑板，第一细长牵引件，以及与第一细长牵引件连接的第一推动件，第一推动件围绕第一支撑板运行用于推动车轮沿第一支撑板运动，使车辆行进；所述第二拖动装置包括第二支撑板，第二细长牵引件，以及与所述第二细长牵引件连接的第二推动件，该第二推动件围绕第二支撑板运行用于推动车轮沿第二支撑板运动，使车辆行进。
-
公开(公告)号：CN106610510A
公开(公告)日：2017-05-03
申请号：CN201611224684.9
申请日：2016-12-27
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
CPC classification number: G01V5/00
Abstract: 本申请公开一种用于快中子成像的方法及探测系统。该方法包括：使快中子入射到探测器中，从而快中子与探测器中1H原子核发生一次弹性散射，其中一次弹性散射产生散射中子和反冲质子，散射中子在探测器中发生二次作用，反冲质子在探测器灵敏介质中产生电子和阳离子，探测器包括时间投影室；获取散射中子的信息；获取电子在电场作用下到达预定位置的响应信号；通过所述响应信号，获取所述电子的漂移时间、坐标以及数量；以及通过所述散射中子的信息、所述电子的漂移时间、坐标以及数量，进行快中子的成像。本申请公开的用于快中子成像的方法，能够提高特殊核材料监测中对快中子监测的精度。
-
公开(公告)号：CN105445288A
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201410443176.4
申请日：2014-09-02
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01V5/0066 , G01V5/0016
Abstract: 本发明公开了一种新型组合移动式检查系统，该组合移动式检查系统包括：机架；安装于机架的、用于产生射线的射线源；大致倒L形的探测器梁，该探测器梁包括水平探测器梁和与水平探测器梁的一端连接的竖直探测器梁；用于接收射线源发出的射线的多个探测器，所述多个探测器设置在水平探测器梁和竖直探测器梁中的至少一个上；以及驱动装置，设置在所述机架上，与水平探测器梁的另一端连接，用于驱动探测器梁围绕竖直轴线转动，并且射线源与探测器梁同步转动。通过采用局部高分辨率扫描功能，强化对被检测物品的分析能力。
-
公开(公告)号：CN105438756A
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201410418956.3
申请日：2014-08-22
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01V5/0016 , G01N23/083
Abstract: 本发明公开了一种车辆拖动系统以及车辆检查系统。车辆拖动系统包括：沿拖动车辆的方向依次排列的第一拖动装置和第二拖动装置，在拖动车辆的方向上，第一拖动装置设置在第二拖动装置的上游并且第一拖动装置和第二拖动装置之间设有间隔部分，使得在拖动车辆的方向上第一拖动装置和第二拖动装置间隔开预定距离；第一拖动装置包括第一支撑板，第一细长牵引件，以及与第一细长牵引件连接的第一推动件，第一推动件围绕第一支撑板运行用于推动车轮沿第一支撑板运动，使车辆行进；所述第二拖动装置包括第二支撑板，第二细长牵引件，以及与所述第二细长牵引件连接的第二推动件，该第二推动件围绕第二支撑板运行用于推动车轮沿第二支撑板运动，使车辆行进。
-
公开(公告)号：CN104749606A
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201310741367.4
申请日：2013-12-27
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/24 , H01L31/115
Abstract: 本发明公开了一种高纯锗探测器，包括：高纯锗晶体，所述高纯锗晶体具有本征区裸露表面；第一电极和第二电极，所述第一电极和第二电极分别与高纯锗晶体的第一接触极和第二接触极相连；和导电保护环，所述导电保护环设置在所述本征区裸露表面中且环绕所述第一电极以将本征区裸露表面阻隔成内区域和外区域。该高纯锗探测器能够通过在高纯锗探测器的本征区裸露表面中设置导电保护环来将该表面的漏电流与检测电流隔离开从而抑制表面漏电流的干扰。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
254
records
(took 0.076 seconds)
