一种拉曼光谱检测多通道可调焦样品池

    公开(公告)号:CN104089943A

    公开(公告)日:2014-10-08

    申请号:CN201410341059.7

    申请日:2014-07-17

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本发明公开了一种拉曼光谱检测多通道可调焦样品池,其包括一基底、一支座、一样品放置旋转机构、一垂直位移机构和一水平位移机构,样品放置旋转机构通过垂直位移机构与支座相连,支座通过水平位移机构与基底相连;样品放置旋转机构包括一支架和设于该支架上的一样品放置座、一步进电机和一控制单元,步进电机连接样品放置座并驱动其旋转,控制单元与该步进电机电连接。本发明使不同样品能够依次对应入射激光,不易混淆,避免多次更换样品瓶时间,节约时间,同时减轻了实验人员的劳动强度,降低出错几率。

    拉曼光谱增强粒子施加装置

    公开(公告)号:CN103293143A

    公开(公告)日:2013-09-11

    申请号:CN201310197185.5

    申请日:2013-05-24

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 拉曼光谱增强粒子施加装置,涉及拉曼光谱检测,设有喷嘴、超声换能器、传感器、第1蠕动泵、清洗池、储液瓶、第2蠕动泵和控制模块与计算机;所述喷嘴安装在待测样品上方,超声换能器与喷嘴连接,传感器设于超声换能器上方,用于监测超声换能器的雾化进程;所述第1蠕动泵与储液瓶通过软管连接,清洗池与第2蠕动泵通过软管连接;第1蠕动泵的出口设第1针头,第2蠕动泵的出口设第2针头,第1针头和第2针头均指向超声换能器,第1针头和第2针头不接触;传感器的信号输出端与控制模块与计算机连接,控制模块与计算机分别与超声换能器、第1蠕动泵和第2蠕动泵连接。

    拉曼光谱用多通道纳米粒子自动施加装置

    公开(公告)号:CN103149191A

    公开(公告)日:2013-06-12

    申请号:CN201310036327.X

    申请日:2013-01-30

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本发明公开了一种拉曼光谱用多通道纳米粒子自动施加装置,其包括:一粒子施加单元,该施加单元包括一转动本体,该转动本体上设有至少两个样品瓶以及至少两个检测瓶,所述的样品瓶和检测瓶之间设有用于将样品瓶中的样品抽到检测瓶中的泵,该转动本体上设有支架,支架上端设有一用于安装控制单元的硬件控制电路的安装盒;一驱动单元,该驱动单元驱动粒子施加单元旋转,以使检测瓶能依次被一光纤探头检测;以及一控制单元,该控制单元包括硬件控制电路以及一计算机,其控制驱动单元和粒子施加单元的泵的运行。本发明使得整个检测过程自动化,同时可以在使用该设备中避免液体意外的接触到电子元件,提高检测装置的稳定性和操作安全性。

    激光引导电纺直写装置
    54.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102162175A

    公开(公告)日:2011-08-24

    申请号:CN201110001323.9

    申请日:2011-01-05

    Applicant: 厦门大学

    Inventor: 郑高峰 王磊

    Abstract: 激光引导电纺直写装置,提供了一种可实现单根均匀微/纳米结构长时间可控制备和精确定位的激光引导电纺直写装置。设有控制器、高压继电器、静电高压电源、空心喷头、准直聚焦透镜组、光纤、密封调节件、激光器、供液泵、供液管、收集板和运动平台。控制器接高压继电器,高压继电器各端分别接静电高压电源、收集板及设于空心喷头前端的导体喷嘴,密封调节件与空心喷头后端密封连接,光纤穿过密封调节件中心且与密封调节件固连,准直聚焦透镜组设于光纤前端,光纤后端露出空心喷头且与激光器连接,供液泵通过供液管与空心喷头连通,收集板固于运动平台上且面对空心喷头。激光约束了纺丝射流的无序运动并引导纺丝射流沉积于收集板激光斑点处。

    检测区域形成方法、晶粒表面检测方法和晶粒表面热点判断方法

    公开(公告)号:CN119024006A

    公开(公告)日:2024-11-26

    申请号:CN202411124113.2

    申请日:2024-08-15

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本申请公开了检测区域形成方法、晶粒表面检测方法和晶粒表面热点判断方法。检测区域形成方法为在集成电路版图上选择表征区域并由各表征区域形成检测区域;其中,表征区域用于表征具有相似结构的局部区域,局部区域的尺寸在0.5微米至50微米范围内。晶粒表面检测方法使用上述检测区域形成方法形成的检测区域对晶粒表面进行形貎检测。晶粒表面热点判断方法依据形貎检测的结果判断是否存在热点。采用上述方法,相较于现有技术,具有更高的检测压缩比,更有利于在产线上普及应用分辨率高的检测手段。

    显微光谱仪器噪音的分析、处理方法和降噪模型

    公开(公告)号:CN115308130A

    公开(公告)日:2022-11-08

    申请号:CN202210946093.1

    申请日:2022-08-08

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本发明公开显微光谱仪器噪音的分析方法,包括:通过显微光谱仪器检测无信号的基底,得到基底光谱数据;分解基底光谱数据得到光谱分量;从光谱分量中去除仪器背景光谱分量,得到显微光谱仪器的噪音值;仪器背景信号分量通过傅里叶变换后设定频率阈值判定。本发明中的显微光谱仪器噪音的分析方法通过检测无信号的基底获取基底光谱数据,从基底光谱数据中提取仪器背景光谱分量,从基底光谱数据中去除背景光谱分量,从而获得显微光谱仪器的噪音。获取的噪音为显微光谱仪器整体噪音,可真实、准确的反映显微光谱仪器在当前测试条件和状态下的显微光谱仪器噪音。同时,本发明还包括显微光谱仪器噪音的处理方法、降噪模型和设备。

    一种高度测量方法和高度缺陷判定方法

    公开(公告)号:CN112556589B

    公开(公告)日:2022-01-07

    申请号:CN202011394448.8

    申请日:2020-12-03

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本申请公开了一种高度测量方法和高度缺陷判定方法。其中高度测量方法用于测量待测物体在第一平面上的高度,其包括使相机俯视待测物体且光轴倾斜于第一平面,使待测物体相对相机沿平行于第一平面的方向靠近或远离并在此期间持续拍照,确定物方焦平面与待测物体相交或相切的第一点或第一线,并确定与第一水平线距离值最大的值为第一距离值,找到所有照片中第一距离值中最大值为最大距离值,并据此计算待测物体高度。高度缺陷判定方法用于判定多个待测物体在第一平面上的高度是否存在缺陷,首先测量每个待测物体的高度,如所有待测物体在第一平面上的高度值中存在与标准高度值或高度平均值之间的差值的绝对值大于阈值的值,则判定为存在缺陷。

    玻璃缺陷图像采集装置、玻璃缺陷检测设备和检测方法

    公开(公告)号:CN110849911B

    公开(公告)日:2021-10-15

    申请号:CN201911167556.9

    申请日:2019-11-25

    Applicant: 厦门大学

    Inventor: 王磊 郑鹏 贺珊

    Abstract: 本申请公开了玻璃缺陷图像采集装置、玻璃缺陷检测设备和检测方法。其中,玻璃缺陷图像采集装置采集条纹光源以不同的明暗变化方向发射的光透过待测玻璃后形成的图像。玻璃缺陷检测设备则通过检测收到的图像中待测区域内明暗变化方向上像素灰度值的剧烈变化以检测玻璃缺陷。而检测方法则至少分析条纹光源位于两个位置时采集的图像来判定是否存在缺陷,以降低玻璃缺陷的漏检率。

    一种拉曼成像方法、系统以及装置

    公开(公告)号:CN109785234B

    公开(公告)日:2021-04-16

    申请号:CN201811588950.5

    申请日:2018-12-25

    Applicant: 厦门大学

    Inventor: 王磊 何浩 任斌

    Abstract: 本发明公开了一种拉曼成像方法、系统以及装置,具体涉及拉曼光谱处理领域。该方法包括:扩大传统光谱仪的狭缝宽度或针孔直径、增大扫描步长,对样品进行扫描,获取样品的拉曼光谱;然后对所述拉曼光谱进行去噪;接着对所述去噪后的拉曼光谱进行解卷积;最后对经过去噪和解卷积后的拉曼光谱所对应的拉曼图像进行重构得到高分辨率拉曼图像。本发明能够在提高拉曼成像速度的同时还能获取高分辨率的拉曼图像。

    一种曲面玻璃缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN110956619A

    公开(公告)日:2020-04-03

    申请号:CN201911167579.X

    申请日:2019-11-25

    Applicant: 厦门大学

    Inventor: 王磊 郑鹏 贺珊

    Abstract: 已公开一种曲面玻璃缺陷检测方法,其包括采集条纹光透过玻璃后形成的图像;按灰度值阈值分割法将图像分割为若干第一区域并确定每个第一区域的骨架;沿骨架将各第一区域分割为若干像素列垂直于骨架的长条形第二区域,如沿像素列方向上存在灰度值剧烈变化,则该剧烈变化所在位置存在缺陷。上述方法解决了因曲面玻璃加工精度限制,导致的无法通过与无缺陷图像对比来检测图像缺陷的问题。

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