-
公开(公告)号：CN119575650A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202510143273.X
申请日：2025-02-10
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明提供了一种基于纳米结构相位拓展匹配的色散超构透镜设计方法，涉及超表面结构技术领域，方法包括：建立单元结构相位响应数据库；单元结构相位响应数据库中包括在不同设计波长下不同单元结构的相位响应；预设多个设计波长，得到在不同设计波长下超构透镜表面每个位置上的目标相位；将目标相位与单元结构相位响应数据库中的相位响应进行匹配，利用光波周期性调整每个设计波长下单元结构的相位响应，使得每个位置的相位响应与对应目标相位的差值都在光波周期范围内，生成每个位置的单元结构几何参数，得到超构透镜表面结构。本发明基于光波周期进行多个设计波长的相位匹配，解决了色散范围较小的问题，实现了对超构透镜各位置相位的调控。
-
公开(公告)号：CN111914450B
公开(公告)日：2025-01-28
申请号：CN202010699886.9
申请日：2020-07-20
Applicant: 华中科技大学
IPC: G06F30/23
Abstract: 本发明属于三维表面形貌测量领域，并具体公开了一种基于局部细化求解的AST样条曲面快速重建算法。该算法包括：构建初始T网格并将其转换成AST网格；求解控制顶点，以此得到AST样条曲面并计算各数据点的误差；对于误差不满足预设精度阈值的数据点所在AST网格面片，进行局部细化与局部拟合求解；判断更新后的AST样条曲面中各数据点的误差是否满足预设精度阈值的要求，若是，则完成基于局部细化求解的AST样条曲面快速重整；若否，则重复细化过程直至满足预设精度阈值要求。本发明利用曲率特征信息构建初始T网格，有效减少后期局部细化的迭代次数，提升重建效率；同时利用局部求解拟合替代常规全局拟合，显著提升了计算效率。
-
公开(公告)号：CN118570079B
公开(公告)日：2024-12-03
申请号：CN202411047271.2
申请日：2024-08-01
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本申请涉及图像数据处理技术领域，公开了一种基于空间像素平移的去除相干光纤束蜂窝图案的方法。该方法包括获取积分图像，积分图像通过对样本图像和参考图像进行预处理得到，样本图像包含相干光纤束蜂窝图案；将积分图像分别沿着顺时针0°、90°和45°三个方向求导并通过希尔伯特变换沿相应方向积分，得到三张初始重建图像，初始重建图像是将积分图像中的细节增强后得到的图像；遍历三张初始重建图像和积分图像中各个像素点，对于当前像素点，比较三张初始重建图像和积分图像中当前像素点的像素值，将最大像素值作为目标重建图像中当前像素点的像素值，得到目标重建图像。采用本方法能够有效地去除相干光纤束中的蜂窝图案的同时增强图像细节。
-
公开(公告)号：CN118640831A
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN202411053302.5
申请日：2024-08-02
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本申请涉及位移或厚度的计量技术领域，为了解决如何准确地计算传感器光轴与被测样品间的相对倾角的问题，公开了一种光谱共焦传感器光轴与被测样品间相对倾角的计算方法、计算机设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品。该方法包括建立半球面上任意位置返回光的光强与夹角之间的映射关系，夹角为半球面上光强最大位置的法向量和其他任意位置的法向量之间的夹角；获取被测样品表面返回光的第一光强；对第一光强进行换算，得到第二光强；将第二光强代入映射关系，得到光谱共焦传感器光轴与被测样品间相对倾角。采用本方法能够达到准确地计算光谱共焦传感器光轴与被测样品间相对倾角的目的。
-
公开(公告)号：CN117928396B
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202311490573.2
申请日：2023-11-08
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种测量透明材料厚度和折射率的方法及装置，在被测透明材料的上方设置光源、色散探头、光谱仪，下方设置反射板；光源发出的复色光波经过色散探头散色，第一光波和第二光波分别聚焦于被测透明材料的上表面和下表面并被反射回色散探头；光谱仪接收反射回来的第一光波和第二光波，并通过计算机分别测得第一光波和第二光波的位移数据l(λ1)、l(λ2)；控制色散探头在其光轴方向上位移，使第二光波聚焦于反射板的表面；移去被测透明材料，复色光中的第三光波聚焦于反射板的表面，反射板将接收到的第三光波反射回色散探头，并被光谱仪接收，通过计算机测得第三光波的位移数据l(λ3)。本发明具有操作简单，通用型性好、可同时测量厚度和折射率等优点。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114692675B
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202210207645.7
申请日：2022-03-03
Applicant: 华中科技大学
IPC: G06F18/213 , G06F18/10 , G01B11/24
Abstract: 本申请公开了一种非对称轴向响应信号的峰值位置提取方法，其包括以下步骤：获取光学测量系统采集的非对称轴向响应信号，对所述非对称轴向响应信号的峰值位置进行初定位，得到峰值位置对应的初始波长；非对称轴向响应信号中与理想峰值位置具有相同波长间距处的两个采样点构成一样本对，计算各样本对之间的强度差的总和；将各样本对之间的强度差的总和在x＝0附近用泰勒级数进行逼近，估算峰值定位误差；根据所述峰值定位误差对峰值位置对应的初始波长进行误差补偿；本发明通过计算峰值定位误差来对峰值位置对应的初始波长进行误差补偿，从而提高非对称轴向响应信号的峰值定位的精度，且具有较好的鲁棒性。
-
公开(公告)号：CN117704976A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202311658966.X
申请日：2023-12-04
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于白光干涉与白光原子力扫描技术的薄膜厚度与折射率测量方法，包括：S1：获取白光干涉测量模式下，薄膜介质衬底上表面以及薄膜下表面形貌分布；S2：获取白光原子力扫描模式下，薄膜介质衬底上表面以及薄膜上表面形貌分布；S3：基于所述白光原子力扫描模式下获得的形貌分布，对所述白光干涉测量模式下获得的形貌分布标定与校正，获得薄膜厚度和折射率。本发明的于白光干涉与白光原子力扫描技术的薄膜厚度与折射率测量方法，通过结合扫描白光干涉技术测量原理与等效光程原理，完成扫描白光干涉数据标定与校正，得出薄膜材料折射率N。
-
公开(公告)号：CN117452024A
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202311307613.5
申请日：2023-10-10
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种白光干涉原子力探针系统的测量定位与坐标转换方法，该方法应用于白光干涉原子力双模式跨尺度测量系统，包括如下步骤：获取原子力扫描探针针尖与悬臂尖端位置关系的转换矩阵P1；在原子力探针接触测量模式下，获取悬臂尖端的位置坐标，根据所述转换矩阵P1计算得到原子力扫描探针针尖的位置坐标pnw。本发明白光干涉原子力探针系统的测量定位与坐标转换方法实现了模式切换后出现在CCD视场内的原子力探针针尖进行快速、准确的自动定位，得到原子力探针针尖的精确坐标，并且得到两个测量模式下坐标的转换关系，实现在不同目标区域下测量方式的灵活选择，提高测量精度和测量速度。
-
公开(公告)号：CN115111991A
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202210617092.2
申请日：2022-06-01
Abstract: 本发明公开了一种狭小空间下动态配合间隙的精密测量方法及设备。该方法包括：为待测零件安装柔性铰链结构，利用柔性铰链结构测量待测零件的间隙，其中，柔性铰链结构的结构参数的确定需考虑到待测零件尺寸、测量空间、固有频率、最大应力、静态误差等限制条件，并且需要对柔性铰链结构的位移放大比进行修正；另外本申请还设计了“轴向双排、周向多点”的传感器布局方法。本发明基于柔性铰链结构的位移导出、放大功能，实现了狭小空间下动态配合间隙的高精度测量。
-
公开(公告)号：CN114692675A
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202210207645.7
申请日：2022-03-03
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本申请公开了一种非对称轴向响应信号的峰值位置提取方法，其包括以下步骤：获取光学测量系统采集的非对称轴向响应信号，对所述非对称轴向响应信号的峰值位置进行初定位，得到峰值位置对应的初始波长；非对称轴向响应信号中与理想峰值位置具有相同波长间距处的两个采样点构成一样本对，计算各样本对之间的强度差的总和；将各样本对之间的强度差的总和在x＝0附近用泰勒级数进行逼近，估算峰值定位误差；根据所述峰值定位误差对峰值位置对应的初始波长进行误差补偿；本发明通过计算峰值定位误差来对峰值位置对应的初始波长进行误差补偿，从而提高非对称轴向响应信号的峰值定位的精度，且具有较好的鲁棒性。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
131
records
(took 0.028 seconds)
