-
公开(公告)号：CN118794906B
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202411287708.X
申请日：2024-09-14
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种燃烧场温度和自由基浓度空间分布的宽带吸收层析测量方法，包括：利用理论吸收光谱训练神经网络，得到吸收峰值与温度和浓度之间的映射函数；对测量的吸收光谱进行反向寻峰，计算对应的修正系数，通过插值计算得到修正函数，对测量的吸收光谱进行修正得到修正后的吸收光谱；对修正后的吸收光谱进行正向寻峰，得到吸收峰值，利用映射函数得到修正后的吸收光谱对应的等效温度和浓度；选择一定数量的谱线参数作为谱线参数组；建立每条谱线吸收强度与温度、浓度之间的函数关系；应用线性层析重建算法，计算得到各空间位置的温度和浓度，实现空间分布层析测量。本发明能够基于等效温度和浓度实现宽带吸收光谱的非线性层析测量。
-
公开(公告)号：CN117490859B
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN202311443478.7
申请日：2023-11-01
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于辐射温度计的环境温度补偿方法及装置，所述方法包括：Sakuma方程修正步骤：将环境温度、辐射温度计零点电压、探测器响应度的温漂修正系数引入Sakuma方程，得到修正后的Sakuma方程；标定步骤：以黑体辐射源作为测量目标，使用辐射温度计在黑体辐射源的三个温度下的输出电压，联立上述修正后的Sakuma方程，求解得到三个待定系数；测试步骤：将求解得到的系数代回修正后的Sakuma方程，使用辐射温度计测量目标得到输出电压，计算出目标温度。本发明能够大幅度降低环境温度对测量结果的影响，提高辐射温度测量准确性。
-
公开(公告)号：CN115390599B
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202210989168.4
申请日：2022-08-17
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G05D23/24
Abstract: 本发明公开的一种应用于标准光电高温计的多点控温系统，属于温度控制技术领域。本发明通过分析标准光电高温计内部容易受温度影响的元件位置，将多个温控模块布置在内壳相应元件的位置上，实现对标准光电高温计的多点控温，保障标准光电高温计内部关键元件在稳定的温度环境下工作，实现标准光电高温计的高精度测温。此外，采用的温控模块根据热敏电阻随温度变化阻值随之变化的特点，热敏电阻同分压电阻组成分压电路，由预设电压可调电路设置参考电压，通过比较热敏电阻分压和参考电压大小，由比较控制电路判断后控制加热开关通断，实现对标准光电高温计加热温度的高精度控制。本发明能够基于纯模拟电路实现，能耗低、易于实现。
-
公开(公告)号：CN116297649A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310122414.0
申请日：2023-02-16
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的高温条件下测量热障涂层导热系数用脉冲均匀加热装置，属于热学计量技术领域。本发明包括脉冲能量激励系统、光学系统和样品支架系统。脉冲激励系统包含脉冲激光器和光纤。光学系统包含聚焦镜头、聚焦镜头调节机构、光斑形状切换器、第一分束镜、第一分束镜调整架、第二分束镜、第二分束镜调整架、探测器、能量计和光学腔。采用激励光路根据样品尺寸和形状调整激光光斑；通过具有“内花瓣”式样品座支架，进一步减少与样品的接触，减少接触热阻，避免样品架吸收部分能量，提高导热系数测量准确性；采用多种气氛接口，保证样品的完整性、纯度及发射率，避免样品的氧化和污染，能够在高温条件下对热障涂层样品进行导热系数测量。
-
公开(公告)号：CN115390599A
公开(公告)日：2022-11-25
申请号：CN202210989168.4
申请日：2022-08-17
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G05D23/24
Abstract: 本发明公开的一种应用于标准光电高温计的多点控温系统，属于温度控制技术领域。本发明通过分析标准光电高温计内部容易受温度影响的元件位置，将多个温控模块布置在内壳相应元件的位置上，实现对标准光电高温计的多点控温，保障标准光电高温计内部关键元件在稳定的温度环境下工作，实现标准光电高温计的高精度测温。此外，采用的温控模块根据热敏电阻随温度变化阻值随之变化的特点，热敏电阻同分压电阻组成分压电路，由预设电压可调电路设置参考电压，通过比较热敏电阻分压和参考电压大小，由比较控制电路判断后控制加热开关通断，实现对标准光电高温计加热温度的高精度控制。本发明能够基于纯模拟电路实现，能耗低、易于实现。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111282608B
公开(公告)日：2021-09-21
申请号：CN202010233789.0
申请日：2020-03-30
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: B01L3/04
Abstract: 本发明公开的一种带导流盖的高温共晶点坩埚，属于辐射测温中的高温共晶点技术领域。本发明包括坩埚盖、导流盖、石墨衬套和坩埚主体。导流盖内锥直径与衬套内径完全一致，根据预留的膨胀裕量计算内锥的高度，同时尽量保持内锥顶角与黑体腔顶角基本一致。本发明在导流盖的引导作用下，熔融态共晶体向上端空隙处流动，减小作用在坩埚盖上的推力，对坩埚主体与坩埚盖连接的位置起到保护。由于熔融态共晶体被引导至黑体腔上端的空隙，减小共晶体熔化后作用在黑体腔处的浮力差，从而在保护坩埚盖与坩埚主体连接处的同时，还能够对黑体腔起到保护作用。本发明具有内部结构简单、加工成本低的优点。
-
公开(公告)号：CN111076818A
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：CN201911212258.7
申请日：2019-12-02
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明涉及一种高温面源辐射源制备方法，属于热辐射测量领域。本发明通过引入超快激光微加工技术，提供了一种高温面源辐射源制备方法。选择合适的材料作为面源辐射源的基板，然后利用超快激光加工的方法在基板表面形成特定的结构。在加工过程中，调节激光能量，使其大于基板材料的刻蚀阈值，通过计算机控制三维平移台扫描间距和扫描速度，整个过程激光器参数和平移台参数都精确可控，工艺可重复性高。超快激光加工的基板表面呈现一种大小相间的颗粒结构，这种颗粒结构具有较强的陷光效果，可以有效提升光吸收，在此基础上涂覆耐高温涂料，所制备的面源辐射源在高温下具有高的光谱发射率，在450℃时其平均光谱发射率大于0.95。
-
公开(公告)号：CN107101994B
公开(公告)日：2019-12-03
申请号：CN201710353373.0
申请日：2017-05-18
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01N21/71
Abstract: 本发明涉及一种不透明材料的光谱发射率测量装置，适用于测量金属、非金属材料表面法向光谱发射率，属于材料热物性参数技术领域。该装置包括环控箱、样品加热装置、黑体参考装置、傅里叶光谱仪、光栅光谱仪、平面镜、平移台、球面镜、旋转台、冷却水循环系统、抽真空系统和上位机。本发明实现了不透明材料法向光谱发射率的测量，该装置在真空和恒温条件下实现测量，减小了环境辐射和CO2、H2O等气体对测量结果的影响，提高了测量的准确度，同时实现两个光谱仪同时测量，拓宽了测量的波段范围。
-
公开(公告)号：CN110044518A
公开(公告)日：2019-07-23
申请号：CN201910392334.0
申请日：2019-05-13
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明公开的一种用于数字温度计校准的小固定点容器及制作方法，属于温度计校准领域。本发明包括容器壳体、温度计井、抽气管。容器壳体为单层薄壁结构，内外表面均进行精密抛光，减小接触热阻，利于将炉膛的热量传导至固定点金属，促进固定点金属快速熔化。温度计井用于保证当固定点金属受热熔化时，浸入固定点金属的温度计井不会因浮力而向上移位，影响数字温度计的校准工作。温度计井与容器壳体形成一体，降低加工难度。抽气管上段管壁采用沙漏形结构，温度计井与容器壳体形成一个U形的圆柱腔，固定点金属填充在所述圆柱腔中。本发明能够实现对数字温度计进行校准，能够修正漂移和偏差，确保测量结果准确可靠。
-
公开(公告)号：CN109813450A
公开(公告)日：2019-05-28
申请号：CN201910235556.1
申请日：2019-03-27
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/20
Abstract: 本发明公开的一种瞬态成像式红外多光谱温度场测量装置，属于辐射测温技术领域。本发明包括前端物镜组、视场光阑、中继镜组、滤光膜、透镜阵列、红外CCD，被测对象为目标。目标通过前端物镜组在视场光阑处成像，经过中继镜组准直，通过上面镀有不同波段滤光膜的透镜阵列，在一个红外CCD的四个象限分别成像，实现多光谱温度场测量。本发明具有如下优点：1、能够自主选择合适的近红外波段，抗干扰能力强，测温结果可靠；2、能够实现对变化的温度场进行瞬态测量，测温效率高；3、无需使用多个CCD，成本较低。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
66
records
(took 0.049 seconds)
