公开(公告)号：CN111814301A

公开(公告)日：2020-10-23

申请号：CN202010468980.3

申请日：2020-05-28

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 潘广泽 ,  罗琴 ,  李丹 ,  李小兵 ,  王远航 ,  杨剑锋 ,  刘文威 ,  丁小健 ,  董成举

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/02 ,  G06F111/08

Abstract: 本申请涉及一种可靠性评价方法、计算机设备以及计算机可读存储介质。可靠性评价方法包括：判断待测产品的各性能参数的退化过程是否服从维纳过程。如果待测产品的各性能参数的退化过程服从维纳过程，利用维纳过程性质得到各性能参数对应的联合分布函数的边缘分布函数。根据各性能参数对应的边缘分布函数，得到各性能参数的联合分布函数的至少两个连接函数的参数估计值。根据至少两个连接函数的参数估计值，在至少两个连接函数中确定最优连接函数。获得待测产品的可靠度函数。本申请可靠性评价方法为基于维纳过程和连接函数的多元性能退化产品可靠性评价方法，使得可靠性评价过程更符合实际、评价结果更为准确。