一种纳米尺度二次磁光克尔效应测量方法

    公开(公告)号:CN108680876A

    公开(公告)日:2018-10-19

    申请号:CN201810429336.8

    申请日:2018-04-24

    Abstract: 本发明涉及物理测量技术领域,一种纳米尺度二次磁光克尔效应测量方法,测量装置包括计算机、激光器I、偏振片I、激光器II、偏振片II、凸透镜I、分束器、凸透镜II、透镜台、原子力显微镜、探针、样品、样品台、磁体、信号发生器、示波器、凸透镜III、沃拉斯顿棱镜I、探测器I、探测器II、沃拉斯顿棱镜II、探测器III、探测器IV,采用高精度的定位装置同时将两束激光以不同入射角照射在样品表面以研究纳米尺度的磁化性质,分别采用两组探测器记录反射光光强,分析从样品发出的反射光强的差值,能对具有二次磁光克尔效应的纳米尺度样品结构、电子特性校准,无需改变装置的结构便能够同时测量样品的二次磁光克尔效应信号及纵向磁光克尔效应信号。

    一种焦距可变的原子束显微方法
    42.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108646056A

    公开(公告)日:2018-10-12

    申请号:CN201810683020.1

    申请日:2018-06-16

    Inventor: 张向平 赵永建

    Abstract: 本发明涉及对材料的显微技术领域,一种焦距可变的原子束显微方法,开启真空泵组对腔体抽真空,使得腔体I内真空优于10-1Pa,腔体II内真空优于10-2Pa;储气罐输出气体至喷射头,气体原子以自由射流形式进入腔体I,并通过分流器后,以原子束流形式进入腔体II;原子束流依次通过菲涅尔波带片I、小孔、菲涅尔波带片II后,射到样品表面;调节菲涅尔波带片I、小孔和菲涅尔波带片II三者之间的距离,使得在最终焦点平面上的束斑的有效直径df达到最小值;位移台平移,使得样品位于原子束的最终焦点平面;位移台在xy平面内的1×1微米范围内平移,使得原子束在样品表面扫描;被样品表面反射的部分原子进入探测器;计算机处理数据得到样品表面相关信息。

    一种表面纳米结构磁性测量装置

    公开(公告)号:CN108414952A

    公开(公告)日:2018-08-17

    申请号:CN201810429089.1

    申请日:2018-04-24

    Abstract: 本发明涉及光学技术测量领域的一种电磁检测装置,一种表面纳米结构磁性测量装置,包括激光器、延时器、1/4波片、凹透镜、凸透镜I、平面镜、偏振片、分束器、凸透镜II、透镜台、原子力显微镜I、探针I、透镜座、物镜、样品、霍尔片、样品台、信号发生器、示波器、探测器、磁体、前置放大器、差分放大器、补偿器、模数转换器、计算机、原子力显微镜II、探针II,探针I和探针II为相同外缘尺寸的原子力显微镜探针且外形为圆台,探针I中沿圆台轴线方向具有通孔,经过探针I的圆台下底面周边上最靠x轴正方向的一点,斜向轴线一侧切掉一楔形块,探针I下底面形成一个与水平面成五度角的斜面,磁体由四个相同的子磁体通过电缆连接组成。

    一种磁性线材的磁畴测量装置

    公开(公告)号:CN108414451A

    公开(公告)日:2018-08-17

    申请号:CN201810418186.0

    申请日:2018-04-24

    Abstract: 本发明涉及材料磁畴测量领域,一种磁性线材的磁畴测量装置,包括激光器、滤光片I、棱镜偏振器、白光源、分束器I、分束器II、1/2波片、1/4波片、分束器III、照像机、非球面镜I、滤光片II、沃拉斯顿棱镜、光电探测器I、光电探测器II、位移台、物镜、非球面镜II、样品、样品管、拾波线圈组、磁体、前置放大器、示波器、计算机,将激光器发射的激光偏振角设置为45度,当棱镜偏振器的偏振角设置为0度,则光束为S偏振,当棱镜偏振器的偏振角设置为90度,则光束为P偏振,1/2波片旋转角度设置条件是使得在非磁性样品表面的反射光通过1/2波片后的S偏振与P偏振比例为1∶2,1/4波片测量克尔椭圆率,能得到磁化的三维矢量图,研究传播的磁畴壁形状。

    一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台

    公开(公告)号:CN107728084A

    公开(公告)日:2018-02-23

    申请号:CN201711040831.1

    申请日:2017-10-20

    CPC classification number: G01R33/0325 G01L1/24 G01R27/2617 G01R33/12

    Abstract: 本发明涉及高压物理实验和材料物性测量的一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台,套筒内侧面和位移管外侧面均有特殊设计的斜方螺纹,用于对碳化钨顶砧施压的压紧装置的活动结构也采用斜方螺纹,使得在低温环境下光纤与顶砧的压紧装置的热力学形变较为一致,使光路调节更精密;导电玻璃电极板厚度100微米由铟锡氧化物制成、且其表面覆盖有硅烯镀膜;样品位于特氟龙环中心,特氟龙环外圈套有不锈钢环,不锈钢环外圈套有上下两部分组成的铝垫圈,不锈钢环和特氟龙环均具有径向透孔,铜线置于铝垫圈的上下两部分之间,金线穿过不锈钢环和特氟龙环的径向透孔,一端连接样品、另一端连接铜线,特氟龙环和样品之间区域具有支撑金线的颗粒。

    一种带有止压环的按压泵
    46.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104590703B

    公开(公告)日:2017-10-17

    申请号:CN201510038018.5

    申请日:2015-01-20

    Inventor: 方美君 张向平

    Abstract: 本发明涉及日常洗漱用具,一种带有止压环的按压泵主要由缸体、杯形缸盖、出液管、止压环、纵向槽、出液头、纵向加强筋、活塞、弹簧和单向阀构成,所述出液管穿过所述止压环、其下端导通地铰接于活塞的上面、上端插接所述出液头,所述活塞下面依次连接有弹簧和单向阀并均位于所述缸体内,所述杯形缸盖过盈配合于所述缸体上端,所述止压环与所述杯形缸盖同轴一体并位于内圈,所述止压环的上沿口包括两段且每段均有低沿口和高沿口,所述低沿口和所述高沿口之间具有一个小圆凹坑,所述两段止压环之间具有两个所述纵向槽,所述出液头与所述出液管的插接端呈两个环桶形,所述两个环桶之间具有两根所述纵向加强筋并能在两个所述纵向槽内上下滑动。

    一种研究分子迁移运动的方法

    公开(公告)号:CN107121362A

    公开(公告)日:2017-09-01

    申请号:CN201710279603.3

    申请日:2017-04-17

    CPC classification number: G01N13/00 G01N21/6458 G01N2013/003

    Abstract: 本发明涉及光学显微领域,一种研究分子迁移运动的方法,激光束经起偏器、普克尔盒、检偏器后,分为两束激光,一束经过距离L直接照射于样品表面,另一束经过距离a到平面镜,经反射照射于样品表面,照射于样品表面的两束激光呈θ角;调节距离a和L的长度,能改变角θ值和干涉条纹间距i;普克尔盒使激光产生一个小于1秒极短的满强度脉冲,对亮条纹处荧光标记相应种类分子进行光脱色,激光器连续发射光强为I(r,t)激光以探测样品表面荧光变化;位移台使平面镜沿其法向以频率800Hz正弦振动,改变样品表面处干涉条纹位置;光电倍增管收集光漂白后荧光信号,经锁相放大器分析,得到样品表面亮条纹部分与暗条纹部分荧光强度比C(t),求出扩散系数D。

    估算光电倍增管在低光强条件下的绝对光响应率的装置

    公开(公告)号:CN107091730A

    公开(公告)日:2017-08-25

    申请号:CN201710451588.6

    申请日:2017-06-08

    CPC classification number: G01M11/00

    Abstract: 本发明涉及光学测量领域,估算光电倍增管在低光强条件下的绝对光响应率的装置,主要包括激光器、衰减器I、暗箱、分束器I、衰减器II、平面镜I、快门I、快门II、平面镜II、分束器II、暗盒、硅光电二极管、待测光电倍增管,所述分束器I、衰减器II、平面镜I、快门I、快门II、平面镜II、分束器II、暗盒、硅光电二极管、待测光电倍增管均位于暗箱内,所述硅光电二极管、待测光电倍增管位于暗盒内,由激光器、衰减器I、分束器I、快门I、平面镜II、分束器II、硅光电二极管组成光路I,由激光器、衰减器I、分束器I、衰减器II、平面镜I、快门II、分束器II、硅光电二极管组成光路II,所述衰减器I、衰减器II与测量系统的光轴均具有一定角度。

    一种测量样品条带在焦耳热处理过程中磁性特征的装置

    公开(公告)号:CN107024669A

    公开(公告)日:2017-08-08

    申请号:CN201710200728.2

    申请日:2017-03-22

    CPC classification number: G01R33/1253

    Abstract: 本发明涉及材料特性测试领域,一种测量样品条带在焦耳热处理过程中磁性特征的装置,主要包括电极、拾波线圈I、感应线圈I、感应线圈II、孔、热电偶、拾波线圈II、配重、平衡杆、机械负载、条带样品、亥姆霍兹线圈、用于提供退火处理电流的电源、退火电流线、电阻Rr、电缆I、电缆II、电缆III、热电偶的信号电压线、电缆IV、用于在测量磁滞循环时产生磁场H的电压放大器、实验控制平台、数据采集系统,拾波线圈I有2000匝,拾波线圈II有100匝;所述感应线圈I和所述感应线圈II位于所述拾波线圈I和所述拾波线圈II外围,条带样品两端夹在电极上,拾波线圈I和拾波线圈II的电流进入实验控制平台后进行后续分析,得到某个状态下的磁性特征。

    一种用于原位测量聚合物薄膜中溶剂蒸汽膨胀的方法

    公开(公告)号:CN106814056A

    公开(公告)日:2017-06-09

    申请号:CN201710141248.3

    申请日:2017-03-01

    CPC classification number: G01N21/643 G01N5/00

    Abstract: 本发明涉及高分子材料加工领域,一种用于原位测量聚合物薄膜中溶剂蒸汽膨胀的方法,包括氮气罐、流量控制器、溶剂罐、混合室、样品腔体、石英晶体微天平、样品I、样品II、一系列流量控制器气流系统,将样品I、样品II平行放置在样品腔体中,样品I贴合于所述石英晶体微天平下面用于测量膨胀的程度,样品II置于所述样品腔底中心的透明玻璃上方用于落射荧光成像;通过所述一系列流量控制器气流系统将干燥的氮气通入溶剂储存罐以起泡的方式来产生溶剂蒸汽,然后通入所述样品腔体,同时控制溶剂蒸汽的气压,进而控制样品膨胀;溶剂蒸汽退火之前和进行中的膜厚,能够通过测量有薄膜存在时和无薄膜时所述石英晶体微天平的共振频率的差值得到。

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