基于透镜几何光学成像的非线性吸收测量方法

    公开(公告)号:CN101477047A

    公开(公告)日:2009-07-08

    申请号:CN200910029164.6

    申请日:2009-01-07

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于透镜几何光学成像的非线性吸收的测量方法,把激光器输出来的光分为监测光和探测光,监测光被一能量计探头接收,用来实时监测入射到待测样品上的能量,探测光经聚焦透镜聚焦以后照射到位于其焦点或附近位置的待测样品上,非线性导致经过样品的探测光空间分布发生变化,这种变化经过放在后面的成像透镜被CCD相机记录。按本发明方法工作的测量系统理论模型非常简单,数据处理容易,测量速度快,单脉冲测量降低了光学累积效应,非线性吸收的测量不受非线性折射的影响,对激光束的随机波动敏感度低,测量结果精确,实验结果直观明了等优点。

    基于4f相位相干成像系统测量材料的光学非线性的方法

    公开(公告)号:CN101261224A

    公开(公告)日:2008-09-10

    申请号:CN200810023628.8

    申请日:2008-04-09

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于4f相位相干成像系统测量材料的光学非线性的方法,4f相位相干成像系统通过分束镜将入射激光分成两束,一束为探测光进入测量光路,通过4f系统后用CCD相机采集;另一路为参考光,进入参考光路后用同一个CCD相机采集;样品位于测量光路4f系统的傅立叶平面,其特征在于参考光路是4f系统,且参考光路的出射方向和测量光路的出射方向平行。对参考光路进行了改进使得该发明可以在获得样品上脉冲激光能量的同时可以获得代表入射面上入射脉冲空间分布情况,可以在光斑空间分布不稳定的情况下测量介质的非线性折射率,光路简单,测试速度快,结果准确,数据处理方便。

    基于4f相位相干成像的泵浦探测方法

    公开(公告)号:CN101109703A

    公开(公告)日:2008-01-23

    申请号:CN200710025839.0

    申请日:2007-08-06

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于4f相位相干成像的泵浦探测方法,把激光器输出来的激光分为泵浦光和探测光两束,泵浦光经过一个时间延迟平台聚焦到非线性样品上使之产生非线性;探测光探测由泵浦光诱导非线性样品产生的变化,并被CCD纪录。在泵浦光经过不同的时间延迟的情况下,从样品出射的探测光的位相和强度的变化反映了不同时刻样品中的粒子数布居的情况,从而确定各个能级的吸收截面和寿命以及折射率体积。本发明光路简单,理论处理方便、单脉冲测量减少了光学积累效应,吸收泵探和折射泵探同时完成而不需要分别进行测量、可以同时测量非线性吸收和折射的大小和符号,对激光束的随机波动敏感度低,测量结果精确等优点。

    一种超短单脉冲时间分辨泵浦探测仪

    公开(公告)号:CN208888136U

    公开(公告)日:2019-05-21

    申请号:CN201821560051.X

    申请日:2018-09-25

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本实用新型公开了一种超短单脉冲时间分辨泵浦探测仪,把激光器输出来的激光分为泵浦光和探测光,泵浦光经透镜聚焦到非线性样品上使之产生非线性;探测光经过延时反射镜反射后探测由泵浦光诱导非线性样品产生的变化,被图像采集传感器接收图像,在经过不同的时间延迟的探测光的情况下,从样品出射的探测光强度的变化反映了不同时刻样品中的粒子数布居的情况,从而确定各个能级的吸收截面和寿命,按本实用新型方法工作的测量系统测量非常方便,没有样品的移动,只需要一个激光脉冲就可以获得时间分辨泵浦探测曲线,实验光路与传统泵浦探测光路相比非常简单,无需传统光路中高精度的移动平台来实现时间延迟,只需要一个时间延时反射镜就可以实现时间延迟。

    基于4f相位相干成像的泵浦探测装置

    公开(公告)号:CN201072406Y

    公开(公告)日:2008-06-11

    申请号:CN200720041426.7

    申请日:2007-08-06

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本实用新型公开了一种基于4f相位相干成像的泵浦探测装置,其特征在于:主要由激光器、分束器、探测光路和泵浦光路组成,所述分束器把激光器发出的激光脉冲分束至探测光路和泵浦光路,所述探测光路包括扩束系统、4f系统和记录系统,待测样品位于4f系统的焦平面上,所述泵浦光路包括转向元件和延时光路,泵浦光路的输出聚焦在待测样品上,所述探测光和泵浦光在待测样品处的夹角(β)在1.5°到10°范围内。本实用新型装置对光路的精度要求不苛刻;吸收泵探和折射泵探同时完成;在整个测量过程中样品不需要移动;单脉冲测量减少了光学积累效应,测试过程简单,对激光束的随机波动敏感度低;测量结果精确,测量速度快。

    双T-PO技术测量材料光学非线性的装置

    公开(公告)号:CN202002885U

    公开(公告)日:2011-10-05

    申请号:CN201120001987.0

    申请日:2011-01-06

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本实用新型公开了一种双T-PO技术测量材料光学非线性的装置,包括设置于脉冲激光束入射光路上的第一分束器,第一束光的光路上设有第一探测器,第二束光路上设有1/2玻片、偏振片、相位物体、第二分束器,第二分束器分出的一束光路上依次设有第一凸透镜、待测样品、第一小孔光阑和第二探测器,所述待测样品位于第一凸透镜的焦平面上;第二分束器分出的另一束光路上依次设有第二凸透镜、标准样品、第二小孔光阑和第三探测器,所述标准样品位于第二凸透镜的焦平面上。本实用新型光路简单,测量时无需繁琐的数值模拟处理过程,单脉冲测量、样品无需移动,可以同时测量非线性折射的大小和符号,测量结果精确。

    测量光学非线性的4f相位相干成像装置

    公开(公告)号:CN201247199Y

    公开(公告)日:2009-05-27

    申请号:CN200820038280.5

    申请日:2008-06-17

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本实用新型公开了一种测量光学非线性的4f相位相干成像装置,主要由入射光路、测量光路和参考光路构成,所述入射光路包括扩束系统、相位光阑和分束镜,入射激光束由分束镜分成两束,一束为探测光进入测量光路,通过4f系统后由CCD相机采集;另一束为参考光,进入参考光路,其特征在于:所述测量光路的4f系统为反射4f相位相干成像系统,待测样品以反射位放置在第一凸透镜的焦平面上,反射光经第二凸透镜照射在CCD相机上;参考光路与测量光路的出射光照射在同一个CCD相机上。本实用新型光路简单、测量方便、没有样品的移动,采用单脉冲测量、不易损伤介质的表面、对光源能量稳定性以及空间的稳定性要求不高。

    基于相位物体单脉冲反射测量材料非线性的装置

    公开(公告)号:CN201532359U

    公开(公告)日:2010-07-21

    申请号:CN200920046946.6

    申请日:2009-07-01

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本实用新型公开了一种基于相位物体单脉冲反射测量材料非线性的装置,入射激光通过第一分束镜分成两束,一束为监测光,由第一探测器记录,另一束光经过相位物体后被透镜聚焦到待测样品上,被待测样品表面反射的脉冲光被第二分束镜分成两路,一路直接由第二探测器记录,另一路通过一个中心和光轴重合的小孔光阑后进入第三探测器;所述待测样品位于透镜的焦平面上,所述相位物体放在所述透镜前的任一位置。本实用新型实现了对非线性折射和吸收系数的测量,可广泛应用于介质界面非线性光学以及薄膜非线性光学测量的研究领域。

    基于透镜几何光学成像的非线性吸收测量装置

    公开(公告)号:CN201331495Y

    公开(公告)日:2009-10-21

    申请号:CN200920038596.9

    申请日:2009-01-07

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本实用新型公开了一种基于透镜成像的非线性吸收测量装置,其特征在于:主要由激光器、聚焦透镜、分束器、监测光路和成像光路组成,所述分束器把激光器发出的激光脉冲分束至监测光路和成像光路,监测光路为一能量计探头,所述成像光路包括成像透镜和CCD相机,待测样品位于聚焦透镜的焦平面处,待测样品距离成像透镜的距离大于成像透镜的一倍焦距小于二倍焦距,且待测样品和CCD相机到成像透镜的距离满足几何光学成像关系。本实用新型装置光路简单,对光路的精度要求不苛刻;在整个测量过程中样品不需要移动,测试过程简单,测量结果准确,测量速度快;数据处理简单;实验结果直观明了。

    单脉冲测量材料非线性折射的装置

    公开(公告)号:CN201331494Y

    公开(公告)日:2009-10-21

    申请号:CN200920037641.9

    申请日:2009-01-08

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本实用新型公开了一种单脉冲测量材料非线性折射的装置,包括激光光源、分束器、监测光路和探测光路,所述监测光路中设有探测器,所述探测光路中设有凸透镜、待测样品和第二探测器,其特征在于:在所述探测光路的凸透镜之前,设有一相位物体,所述相位物体为环形结构,该环形部与内孔处的相位差在π/4~3π/4之间,内孔孔径为入射光斑束腰半径的0.1~0.3倍;在所述第二探测器之前,设有一中心和光轴重合的小孔径光阑。本实用新型的装置结构简单、成本低,测量非常方便,可应用于非线性光学测量、非线性光子学材料、非线性光学信息处理和光子学器件等研究领域,尤其是非线性光功能材料的测试和改性等关键环节。

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