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公开(公告)号：CN109799537A
公开(公告)日：2019-05-24
申请号：CN201811654210.7
申请日：2018-12-29
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本公开提供了一种安检设备及其控制方法，所述安检设备包括：底板，用于承载被检对象；一维多发多收阵列面板，设置在所述底板上，所述一维多发多收阵列面板包括一维多发多收天线阵列以及控制电路；平移装置，设置在所述底板上，用于使所述一维多发多收阵列面板相对于所述底板可移动；信号处理装置，与所述至少一个一维多发多收阵列面板相连，用于根据所述至少一个一维多发多收阵列面板接收到的回波信号来重建被检对象的图像；以及显示装置，与所述信号处理装置相连，用于向用户呈现所重建的被检对象的图像。本公开的实施例能够提高检测准确性和检测效率。
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公开(公告)号：CN109494293A
公开(公告)日：2019-03-19
申请号：CN201811631501.4
申请日：2018-12-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 公开了一种太赫兹探测器及其制造方法，该太赫兹探测器包括基底；以及至少一个探测单元，每个所述探测单元均包括：沟道材料，所述沟道材料设置在所述基底上，两个电极，两个所述电极分别与所述沟道材料的纵向方向的两端欧姆接触，和三维石墨烯，所述三维石墨烯与所述沟道材料直接或间接地热接触。本公开所提出的探测器通过将三维石墨烯作为吸收体，解决了沟道材料对太赫兹波吸收不足的问题，从而有效地提高了探测器的响应灵敏度。
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公开(公告)号：CN109444977A
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201811654169.3
申请日：2018-12-29
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V8/10
Abstract: 公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备及对人体或物品的检测方法，包括准光学组件和毫米波/太赫兹波探测器阵列，准光学组件适用于将第一被检对象和第二被检对象自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至毫米波/太赫兹波探测器阵列，并包括反射板，第一被检对象和第二被检对象分别位于反射板的相对侧处，反射板能够绕水平轴线转动以分别接收并反射来自第一被检对象位于第一视场不同竖直位置的部分的波束和第二被检对象位于第二视场不同竖直位置的部分的波束；毫米波/太赫兹波探测器阵列适用于接收来自准光学组件的波束。该成像设备通过对位于反射板相对侧处的两个被检对象同时进行成像，因而提高了检测效率且控制简单、成本低。
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公开(公告)号：CN109444976A
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201811654164.0
申请日：2018-12-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V8/10
Abstract: 公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备，包括准光学组件，其包括多面体转镜，多面体转镜的每个侧面分别设置有反射板，并且能够绕其转动轴线转动，以使得多个反射板中的两个反射板轮流用作第一反射板和第二反射板接收并反射被检对象自发辐射或反射回来的波束；第三反射板和第四反射板；和两个相同并关于多面体转镜对称布置的椭球面反射镜，其中一个适用于将来自第一反射板的波束反射至第三反射板，另一个适用于将来自第二反射板的波束反射至第四反射板；以及毫米波/太赫兹波探测器阵列，其适用于接收经第三反射板和第四反射板反射的波束。该毫米波/太赫兹波成像设备能够实现大的视场角以及恒定的通光路口径，且与透射式相比，无色差，能量损失小。
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公开(公告)号：CN109407168A
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201811654212.6
申请日：2018-12-29
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V8/10
Abstract: 提供了一种毫米波/太赫兹波成像设备及其反射板调节装置，包括：支撑件和连接件，反射板与连接件可转动地连接，以使得反射板依次对被检对象位于视场沿第一方向上的不同位置的部分自发辐射或反射回来的波束进行反射；连接件与支撑件可转动地连接，以使得反射板对被检对象位于视场沿垂直于第一方向的第二方向上的不同位置的部分自发辐射或反射回来的波束进行反射。该反射板调节装置通过将反射板与连接件可转动地连接，并且连接件与支撑件可转动地连接，以使得反射板对被检对象自发辐射或反射回来的波束进行反射的轨迹能够包络为类圆形或类椭圆形，从而实现对视场全面反射，且采样密集点集中在视场中间，且采样点分布均匀，插值方便。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105242300B
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201510417228.5
申请日：2015-07-15
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/24
Abstract: 本发明提供半导体探测器的信号处理方法和装置，包括：获取所述半导体探测器阳极信号和阴极信号时间差与阳极信号幅度之间的关系；根据所述半导体探测器阳极信号和阴极信号时间差与阳极信号幅度之间的关系得到最佳数据筛选区间，所述最佳数据筛选区间为阳极信号和阴极信号时间差大于50ns的区间；在半导体探测器数据采集时，根据所述最佳数据筛选区间对所采集数据进行筛选和处理。本发明更好地克服了探测器晶体的固有缺陷，降低了本底噪声的影响，进一步地提高了碲锌镉探测器在室温下的能量分辨率，改善了峰康比。
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公开(公告)号：CN105242300A
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201510417228.5
申请日：2015-07-15
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/24
Abstract: 本发明提供半导体探测器的信号处理方法和装置，包括：获取所述半导体探测器阳极信号和阴极信号时间差与阳极信号幅度之间的关系；根据所述半导体探测器阳极信号和阴极信号时间差与阳极信号幅度之间的关系得到最佳数据筛选区间，所述最佳数据筛选区间为阳极信号和阴极信号时间差大于50ns的区间；在半导体探测器数据采集时，根据所述最佳数据筛选区间对所采集数据进行筛选和处理。本发明更好地克服了探测器晶体的固有缺陷，降低了本底噪声的影响，进一步地提高了碲锌镉探测器在室温下的能量分辨率，改善了峰康比。
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公开(公告)号：CN104111470A
公开(公告)日：2014-10-22
申请号：CN201410336256.X
申请日：2014-07-15
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/24
Abstract: 本发明提供半导体探测器的信号处理方法和装置，包括：获取所述半导体探测器阳极信号和阴极信号时间差与阳极信号幅度之间的关系；根据所述半导体探测器阳极信号和阴极信号时间差与阳极信号幅度之间的关系得到最佳数据筛选区间，所述最佳数据筛选区间为阳极信号和阴极信号时间差大于50ns的区间；在半导体探测器数据采集时，根据所述最佳数据筛选区间对所采集数据进行筛选和处理。本发明更好地克服了探测器晶体的固有缺陷，降低了本底噪声的影响，进一步地提高了碲锌镉探测器在室温下的能量分辨率，改善了峰康比。
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公开(公告)号：CN113131871B
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN201911425658.6
申请日：2019-12-31
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: H03D7/16
Abstract: 公开了一种对频率进行混频或倍频的装置，包括：金属壳体，所述金属壳体包括盒体和盖体，所述盒体和所述盖体扣合在一起以限定一金属腔体；至少一个变频单元，所述至少一个变频单元包括：微带线，所述微带线位于所述金属腔体内；以及通道结构，所述通道结构包括分别穿过所述金属壳体并与所述微带线耦合的射频信号输入通道、本振信号输入通道和信号输出通道，所述信号输出通道与所述微带线所在的平面成一角度地引出。该装置通过将信号输出通道由平行于微带线所在的平面的方向引出改为成角度地引出，以避免射频信号输入通道、本振信号输入通道和信号输出通道存在于同一平面而导致集成度较差的问题。
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公开(公告)号：CN109494293B
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN201811631501.4
申请日：2018-12-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 公开了一种太赫兹探测器及其制造方法，该太赫兹探测器包括基底；以及至少一个探测单元，每个所述探测单元均包括：沟道材料，所述沟道材料设置在所述基底上，两个电极，两个所述电极分别与所述沟道材料的纵向方向的两端欧姆接触，和三维石墨烯，所述三维石墨烯与所述沟道材料直接或间接地热接触。本公开所提出的探测器通过将三维石墨烯作为吸收体，解决了沟道材料对太赫兹波吸收不足的问题，从而有效地提高了探测器的响应灵敏度。
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