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公开(公告)号：CN107345923A
公开(公告)日：2017-11-14
申请号：CN201610294662.3
申请日：2016-05-05
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
Abstract: 提供了一种新颖的X射线探测方法、和X射线探测器。根据本发明实施例的X射线探测方法，包括：将X射线源所发射的光子的能量范围划分为N个能窗，N为大于0的整数；基于成像目标的感兴趣物质和背景物质的线衰减系数，获取N个能窗中的每个能窗的权重因子；基于N个能窗中的每个能窗的权重因子，获取X射线探测器的M个输出通道的权重因子矩阵，M为大于0的整数；以及基于能量范围落入N个能窗中的每个能窗的光子的数目、以及权重因子矩阵，获取M个输出通道的输出结果。
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公开(公告)号：CN105093342A
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201410202941.3
申请日：2014-05-14
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
CPC classification number: G06T11/006 , A61B6/027 , A61B6/032 , A61B6/4085 , A61B6/4266 , A61B6/5205 , G06T7/0012 , G06T2207/10081 , G06T2207/30004 , G06T2211/421
Abstract: 本发明公开了一种螺旋CT系统及其重建方法。在一些实施例中提出了用螺旋CT系统获得的投影数据的互补投影数据的加权来补偿因为大螺距造成的数据缺失。在将数据补全后，将投影数据重排为带锥角的平行束数据，进而进行锥角余弦加权和一维滤波，最后进行平行束反投影来得到重建的图像。在一些实施例中，利用上述的方法，可以在现有探测器面积和滑环速度不变的情况下，将皮带速度提高一倍以上，从而提高行李通过率，并且保持重建的图像质量不变。
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公开(公告)号：CN117270066B
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202311490080.9
申请日：2023-11-09
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/226
Abstract: 提供一种直线扫描CT成像系统和方法，该系统包括：传送装置，用于使扫描对象在扫描通道中沿预定的传送方向移动；射线源，射线源用于交替发出射线束以形成扫描区域；探测器，探测器包括第一探测器和第二探测器；第一探测器用于探测在扫描对象穿过扫描区域的过程中，射线束透过扫描对象后形成的第一投影数据；第二探测器用于探测在扫描对象穿过扫描区域的过程中，射线束透过扫描对象后形成的第二投影数据；成像装置，根据第二投影数据，生成扫描对象的数字化射线图像，以及根据第一投影数据和第二投影数据，得到扫描对象的计算机断层扫描图像。
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公开(公告)号：CN114609684B
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202011432043.9
申请日：2020-12-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开提供了一种物品的检测方法，应用于安检设备，安检设备包括光源、探测器和安检通道。该方法包括：确定焦点偏移量；根据焦点偏移量，改变光源的焦点位置，以使光源根据改变后的焦点位置向被扫描物体发射第一X射线，其中，焦点偏移量根据被扫描物体的位置来确定；利用探测器接收由光源发射的第一X射线，以得到第一X射线的探测数据；以及根据第一X射线的探测数据，对被扫描物体进行检测。本公开还提供了一种物品的检测装置、安检设备、介质和程序产品。
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公开(公告)号：CN119224018A
公开(公告)日：2024-12-31
申请号：CN202411766743.X
申请日：2024-12-04
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/046 , A61B6/03 , A61B6/42 , A61B6/40
Abstract: 本发明的实施例提供一种CT成像系统，涉及辐射扫描技术领域。成像系统包括：成像通道，用于在成像过程中放置待成像对象；M个分布式射线源，沿成像通道的周向间隔排列，至少一个分布式射线源包括q个靶点；N个探测器，沿成像通道的周向间隔排列，包括第一子探测器和第二子探测器；CT成像系统包括多个成像组件，成像组件包括至少一个分布式射线源和至少一个第一子探测器，在同一个成像组件中，分布式射线源和第一子探测器在检测通道的径向方向上面对面地布置，以及，分布式射线源的多个靶点和第一子探测器的至少一部分位于垂直于第一方向的同一平面中；在第一方向上，至少一个分布式射线源的至少一侧设置有至少一个第二子探测器。
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公开(公告)号：CN112946769B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN201911271627.X
申请日：2019-12-11
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/226
Abstract: 本公开的实施例提供一种安检设备、安检方法和仓储系统。安检设备包括射线源和探测器，射线源和探测器限定检查通道。检查通道包括例如两个检查通道段，检查通道段接续布置，至少两个检查通道段的延伸方向之间形成大于零的角度。安检设备还包括配置在所述检查通道上的传送装置。被检物体在所述检查通道内被传送过程中保持绝对方向或取向不变。
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公开(公告)号：CN115793076B
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202111053839.8
申请日：2021-09-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开涉及一种辐射防护布置，包括：壳体，包括第一端口和第二端口；和托盘。托盘能够通过壳体内的通道。托盘具有第一端壁和第二端壁以及连接在第一端壁和第二端壁之间的底部，第一端壁和/或第二端壁的形状配置为与壳体的内壁配合，以便能够阻挡辐射从容纳空间经过第二端口或第一端口离开通道。还提供一种安检设备。
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公开(公告)号：CN117796827A
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202211177863.7
申请日：2022-09-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: A61B6/03
Abstract: 本公开提供了一种用于成像设备的标定方法，可以应用于安检技术领域和医疗诊断领域，该方法包括：根据成像设备的辐射源的靶点理论位置、探测器的探测理论位置、以及标定模体的模体位置，计算第一理论交线；基于第一理论交线、辐射源发射的射线在标定模体中的衰减系数以及成像设备中辐射源的射线能谱分布，确定针对标定模体的第一探测投影信息；以及利用第一探测投影信息、以及成像设备扫描标定模体得到的第二探测投影信息之间的差异信息，调整成像设备的参数，以便对成像设备进行标定，得到标定后的目标参数。本公开还提供了一种成像设备标定装置、成像设备。
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公开(公告)号：CN113031042B
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN201911361554.3
申请日：2019-12-24
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本公开的实施例提供一种射线标定设备和方法。设备包括：运动平台和安装在运动平台上的两个标定组件。每一个标定组件具有多个标定样本。射线标定设备在标定辐射源的多个方向上的辐射的辐射能量时，所述运动平台能够平移和/或旋转所述至少一个标定组件以便允许多个标定样本构成的组合能够正对每个方向上的辐射。
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公开(公告)号：CN106153646B
公开(公告)日：2022-06-24
申请号：CN201510162334.3
申请日：2015-04-08
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/046
Abstract: 公开了一种X射线成像系统和方法。该系统包括：X射线源，发出X射线束；沿着X射线的发射方向依次设置的第一光栅和第二光栅；探测器，设置在X射线发射方向上第二光栅的下游；控制和数据处理装置，用于控制X射线源发出X射线，控制所述探测器接收经过第一光栅和第二光栅的X射线，产生相衬信息和/或暗场信息，并且基于所述相衬信息和/或暗场信息对被检查物体进行CT检查，获得CT图像。利用上述技术方案，能够得到被检查物体的更多的特征信息，从而允许做出更准确的物质识别及安检性能。
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