高温粒子红外光谱辐射特性的测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN102279049A

    公开(公告)日:2011-12-14

    申请号:CN201110197454.9

    申请日:2011-07-14

    Abstract: 高温粒子红外光谱辐射特性的测量装置及测量方法,涉及一种弥散颗粒红外光谱辐射特性的测量装置及测量方法,它解决了现有技术无法测量高温连续光谱范围内自然状态粒子辐射特性的问题。本发明采用环境补偿算法,实现了对自然状态下高温粒子光谱等效透射比的测量,确定了对连续光谱范围内高温粒子辐射特性测量的适用性,并为进一步反演高温粒子复折射率的研究提供可靠的实验数据和实验装置,本发明的测量不确定度小于2%。本发明可以广泛应用于化工、冶金、动力、建筑、医药、生物、食品、航天、军事及大气科学等领域。

    一种基于遥感影像的作物长势评估方法

    公开(公告)号:CN117036973A

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202310791466.7

    申请日:2023-06-30

    Inventor: 戴景民 王旭楠

    Abstract: 一种基于遥感影像的作物长势评估方法,它涉及一种作物长势评估方法。本发明为了解决目前还没有一种方法能够对农作物的长势进行评估,进而及时灌溉农作物以缓解含氢影响的问题。本发明通过基于遥感影像的图像数据可以对作物的长势情况进行智能评估。通过获得的多光谱遥感数据提取出作物长势的具体参数,经过分析获得到的参数值智能判断出作物的长势情况,如果出现干旱影响到作物长势,就可以对作物进行灌溉,实现从普通农业到智能农业的转变。本发明属于基于遥感影像的作物长势监测技术领域。

    一种发射率测量装置的校准方法

    公开(公告)号:CN114184569B

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202111474386.6

    申请日:2021-12-03

    Abstract: 本发明涉及一种发射率测量装置的校准方法,属于红外测试领域,解决了现有发射率测量装置校准成本高的问题。校准方法包括:根据需要得到的标准氧化膜的发射率E理论,计算得到标准氧化膜的厚度d;根据氧化膜的厚度d确定电解液的质量浓度c;以质量浓度c的电解液对作为阳极的铝片进行电化学氧化,在铝片表面制备得到标准氧化膜;采用傅里叶红外光谱发射率测量装置检测制备得到的标准氧化膜的发射率E测,E测作为标准发射率;用发射率测量装置测量采用步骤1至步骤3的方法制备得到的一系列已知标准发射率的标准氧化膜,通过测得的数值与标准发射率进行比较,以校准发射率测量装置。本发明的方法能够快速进行发射率测量装置的校准。

    一种基于红外热像仪的多光谱辐射测温装置及其测量方法

    公开(公告)号:CN115524012A

    公开(公告)日:2022-12-27

    申请号:CN202110706440.9

    申请日:2021-06-24

    Abstract: 本发明公开了一种基于红外热像仪的多光谱辐射测温装置及其测量方法。所述多光谱辐射测温装置包括装置外壳(1)、红外热像仪(2)和分光系统,所述装置外壳(1)内装入红外热像仪(2)与分光系统,所述分光系统包括电机(3)、滤光片(4)和调制盘(5),所述调制盘(5)通过转轴(7)旋转设置在支架(6)上,所述转轴(7)与电机(3)的输出轴相连接,所述调制盘(5)上嵌入多个滤光片(4),所述红外热像仪(2)的镜头对准其中的一个滤光片(4)。本发明用以解决现有基于红外热像仪无法测量真实温度场的问题。

    一种红外涂层的损伤检测方法及系统

    公开(公告)号:CN114113219A

    公开(公告)日:2022-03-01

    申请号:CN202111471245.9

    申请日:2021-12-03

    Abstract: 本发明涉及一种红外涂层的损伤检测方法及系统,属于涂层损伤检测技术领域,解决了现有技术中涂层损伤检测方法检测准确率差、效率较低的问题。方法包括:采集待测红外涂层的全波段辐射亮度图、两个不同波段的辐射亮度图以及黑体辐射亮度图;根据所述两个不同波段的辐射亮度图,得到待测红外涂层的温度分布图;根据所述温度分布图校正所述黑体辐射亮度图,得到校正后的黑体辐射亮度图;根据所述全波段辐射亮度图和校正后的黑体辐射亮度图,得到待测红外涂层的发射率分布图;基于所述温度分布图和发射率分布图,对待测红外涂层的损伤进行检测。本发明实现了对待测红外涂层损伤的检测,提高了损伤检测准确率和效率。

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