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公开(公告)号：CN103345635A
公开(公告)日：2013-10-09
申请号：CN201310328930.5
申请日：2013-07-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06K9/46
Abstract: 一种基于局部信号强度及改进二维直方图的光学元件损伤在线检测方法，本发明涉及光学元件在线检测领域，尤其涉及大型光学系统大口径光学元件快速在线检测的方法。本发明是要解决传统分割算法很容易漏检的问题。一、背景图像I(x,y)back的获得；二、局部信号强度比图像M(x,y)的获得；三、将图像I(x,y)归一化为L1级，将局部信号强度比图像M(x,y)归一化为L2级，生成改进二维直方图；四、截取局部二维直方图Q，计算图像I(x,y)的平均灰度；五、将二维峰值剔除问题转化为一维峰值剔除问题；六、一维峰值剔除；七、二维直方图单峰剔除；八、最终损伤区域提取。本发明应用于光学元件在线检测领域。
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公开(公告)号：CN103344176A
公开(公告)日：2013-10-09
申请号：CN201310316913.X
申请日：2013-07-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种用于球面形貌特征检测的倍程式短相干瞬时移相干涉测量仪及测量方法，涉及光学检测技术领域。解决了传统时域移相干涉测量装置检测范围小、测量精度低和受环境因素影响的问题。它包括短相干激光器、空间滤波器、分光棱镜、光纤耦合镜、偏振分光棱镜、λ/4波片、4f扩束系统、显微物镜、平面反射镜、单模光纤、光纤准直镜、直角反射镜、角锥棱镜、λ/2波片、偏振分光棱镜、第一平行分束镜、第二平行分束镜、波片组、偏振片、面阵CCD和计算机，通过计算机通过面阵CCD四幅干涉图样获得四幅干涉图像间的定位关系，从而求解出干涉场内每一像素点对应的初始相位差，进而求出光程差，实现球面形貌测量。本发明适用于球面形貌特征检测。
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公开(公告)号：CN102519358A
公开(公告)日：2012-06-27
申请号：CN201110442478.6
申请日：2011-12-26
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 用于检测微小球面三维形貌的相移式衍射干涉测量仪及测量方法，属于空间物体三维形貌的光学检测技术领域。它解决了传统对微小球面的检测手段存在的单次测量检测范围小及参考面理想球面制造困难的问题。本发明装置包括短相干激光器、二分之一波片、起偏器、第一四分之一波片、第二四分之一波片、直角延迟棱镜、偏振分光镜、检偏器、光纤耦合器、单模单芯光纤、直角移相棱镜、汇聚透镜、针孔片、刀口反射镜、显微物镜、大尺寸CCD和计算机；本发明方法通过上述装置形成的光路，调节被测微小球进行旋转，获得相应的微小球形貌参数，实现微小球面的形貌检测。本发明适用于微小球面三维形貌的检测。
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公开(公告)号：CN119087449A
公开(公告)日：2024-12-06
申请号：CN202411009357.6
申请日：2024-07-26
Abstract: 本发明公开了一种非线性补偿的高精度双波长扫频干涉测距方法。其中，该方法包括通过双扫频干涉绝对距离测量系统分别获取两个扫频激光光源的测量干涉信号和辅助干涉信号；基于泰勒级数模型建立光频和相位的微分方程，并通过求解微分方程获取光频的变化信息；根据所述光频的变化信息构造高阶正交基，并利用所述高阶正交基对测量干涉信号进行正交分解，以得到距离谱信息，根据所述距离谱信息求解得到待测距离值。本发明的技术方案，在复杂的测试环境下，仍可得到较好的残余非线性补偿效果，提升干涉测量的精度；此外，该方法不受快速大范围频率调制的限制，且对于中长距离范围的多普勒效应和非线性补偿仍然可以获得较好的效果。
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公开(公告)号：CN119024348A
公开(公告)日：2024-11-26
申请号：CN202411009351.9
申请日：2024-07-26
Abstract: 本发明公开了一种消除残余非线性的高精度扫频干涉测距方法。其中，该方法包括：通过扫频干涉绝对距离测量系统获取扫频激光光源的测量干涉信号和辅助干涉信号；构建光频和辅助干涉仪相位的微分方程，并通过求解微分方程获取光频信号；根据所述光频信号构造高阶正交基，并利用所述高阶正交基对测量干涉信号在光频域进行正交分解，以得到待测距离值。本发明基于求解微分方程的思想获得光频变化量，然后对测量干涉仪的光频域做高阶傅里叶变换，可消除由于辅助和测量干涉仪臂长差相差较大引入的残余非线性，进一步获得超高精度的测距结果。此外，该方法不受激光非线性度的限制，对于中长距离的被测目标仍然可以获得较高的测距精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118258483A
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202410519024.1
申请日：2024-04-28
IPC: G01H9/00
Abstract: 本发明公开了一种双波长散斑噪声校正方法。其中，该方法包括：采用两束波长不同的激光对目标进行振动测量，生成初始测量信号以及初始校正信号；对初始测量信号以及初始校正信号进行正交解调，获取目标的振动速度；考虑目标产生的横向扰动，得到测量信号的幅度与散斑引入的相位随时间变化的测量信号；在上述测量信号中加入散粒噪声，对补偿散粒噪声后的测量信号以及初始校正信号进行正交解调；对解调得到的速度信号进行融合，获得融合后的振动信号。该方法融合不同波长的探测结果，获得补偿散斑噪声后的解调信号，提高了测量精度；该方法还能实现每个波长单点探测，可以避免分区测量位置不一致的问题，不受测量目标振动频率的限制，运算速度快。
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公开(公告)号：CN115620927B
公开(公告)日：2023-08-08
申请号：CN202211299387.6
申请日：2022-10-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于正交型立体视觉结构的目标靶六维定位方法，解决了如何提高目标靶的六维定位精度的问题，属于惯性约束聚变技术领域。本发明的正交型立体视觉结构，包括四路监测单元和具有六自由的运动调节能力送靶机构，四路监测单元分别为上路监测单元、下路监测单元、1号中路监测单元、2号中路监测单元；定位方法包括：依次利用1号中路监测单元、2号中路监测单元、上路监测单元、下路监测单元分别对目标靶对应面进行成像，获取相应偏差，并根据偏差，利用送靶机构对目标靶进行调节，直至偏差减小到设定值。并迭代这个过程，目标靶的六维姿态偏差同时都小于相应设定值，完成定位。
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公开(公告)号：CN114089310B
公开(公告)日：2022-08-02
申请号：CN202111407061.6
申请日：2021-11-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01S7/481
Abstract: 一种激光束靶耦合传感器，解决了如何高精度束靶耦合的问题，属于光电传感器领域。本发明包括：侧路监测单元位于实验靶侧向，用于确定实验靶的靶面位置，进行粗定位；测距模块用于确定实验靶的靶面位置，进行精细定位；定位过程中，利用调焦平台带动传感器主体运动，使实验靶位于预先标定出的传感器共轭位置。主激光束的焦斑与实验靶上靶点关于双面反射镜外反射面为光学共轭关系；靶点监测单元位于实验靶正向，监测实验靶上的靶点位置；主激光束监测单元用于对束靶耦合时激光焦斑位置进行监测；利用靶点与焦斑位置的换算关系确定靶点与焦斑的相对位置关系、光束准直情况以及光束合束情况。并调整主激光器的入射位置，完成激光束靶耦合。
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公开(公告)号：CN114660091A
公开(公告)日：2022-06-24
申请号：CN202210277608.3
申请日：2022-03-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/958 , G01N21/01 , G02B27/10
Abstract: 集束装置终端光学组件成像系统及方法，涉及大口径光学元件在线成像系统设计领域，本发明的目的是为了解决目前对单束终端光学组件的成像检测速度慢的问题。光学组件由8个子束按口字型排列组成，成像物镜采集光学组件的像，将采集到的像输出至分光棱镜，第一组子束的像经过分光棱镜透射到对应的4块探测芯片上，同时第二组子束的像或者第三组子束的像经过分光棱镜反射到另外所述2块探测芯片上，将成像物镜、分光棱镜和图像探测器一同绕光轴顺时针线旋转90°后，第三组子束的像或者第二组子束的像经过分光棱镜反射到所述另外2块探测芯片上，图像探测器完成对8个子束图像的全部采集。它用于对光学组件成像进行采集。
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