放射性物质巡检定位方法及设备

    公开(公告)号:CN103176201A

    公开(公告)日:2013-06-26

    申请号:CN201110439199.4

    申请日:2011-12-23

    Inventor: 王强 赵崑 阮明

    CPC classification number: G01V5/0008 G01T1/00 G01T1/169 G01T7/00

    Abstract: 本发明公开了一种放射性物质巡检定位方法及设备。所述方法包括步骤:提供环境的本底放射性辐射强度值;在巡检路径上的多个采样点用探测器采集来自探测区域的放射性辐射强度值;根据所采集的放射性辐射强度值和本底放射性辐射强度值计算探测区域的放射性辐射强度分布;和根据所述放射性辐射强度分布确定放射性物质所在位置。所述方法和设备能够基于探测器在巡检路线上的多点观测来得出探测区域的放射性物质的位置和放射性强度分布。

    离子迁移谱检测仪的基于离子图序列的物质识别方法

    公开(公告)号:CN102109491A

    公开(公告)日:2011-06-29

    申请号:CN200910243774.6

    申请日:2009-12-24

    Abstract: 本发明公开一种离子迁移谱检测仪的基于离子图序列的物质识别方法,包括:步骤1:对一个经预处理后的离子图利用寻峰算法执行一次初步物质识别,并存储该次物质识别中所匹配到的物质;步骤2:以时间间隔Δt连续执行步骤1直到初步物质识别次数达到预定次数M,其中M为大于2的自然数;和步骤3:从M次初步物质识别中匹配到的物质中排除干扰物质。对于某些多峰物质,出峰数量、峰位等信息会随时间发生变化,如果仅根据从一个经预处理离子图的识别结果进行报警,会引起误报,从而给使用仪器的检察人员造成误导。采用本发明的这种基于离子图序列的物质识别方法,可降低误报警概率从而减少对检察人员的误导。

    加速器X射线能量测量系统
    43.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102033239A

    公开(公告)日:2011-04-27

    申请号:CN201010233181.4

    申请日:2010-07-15

    Abstract: 本发明公开了一种用于测量加速器X射线的能量的系统,包括:X射线剂量探测装置,其包括多个相互平行且隔离设置的探测器,从待检测的加速器发出的X射线被导向多个探测器上,以探测各个探测器中吸收的X射线的剂量;收集装置,用于收集对应于各个探测器中吸收的X射线的剂量的数据,并获得X射线在X射线剂量探测装置上吸收剂量的吸收曲线;以及比较装置,用于将吸收曲线与标准能量加速器在X射线剂量探测装置上的基准吸收曲线进行比较,以确定待检测的加速器的能量。同现有技术相比,本发明具有集成度高、操作简单、设备规模小;一次性曝光和快速确定加速器能量等特点,适用于加速器批量生产时性能一致性检验和校验以及现场加速器能量标定。

    测量脉冲型射线能谱的系统及方法

    公开(公告)号:CN101571596A

    公开(公告)日:2009-11-04

    申请号:CN200810105432.3

    申请日:2008-04-29

    Abstract: 本发明提供了测量脉冲型射线能谱的系统及方法。该系统包括用于测量脉冲型射线散射谱的装置,包括散射体前准直器、散射体、包括谱仪探测器和用于记录来自谱仪探测器的信号的谱仪主机的能谱仪、谱仪探测器置于其内的开孔中的该谱仪屏蔽体、位于散射体和谱仪探测器之间的至少一个准直器,其中所述脉冲型射线经过散射体前准直器后到达散射体,一散射角处的散射线由所述至少一个准直器准直后进入谱仪探测器。该系统还包括能量响应矩阵计算器、散射概率矩阵计算器、原始谱计算器、输入装置、以及显示装置。采用本发明,能实现对电子直线加速器打靶输出的X射线能谱的测量。

    用于放射性物质检测和X光辐射成像的集成系统

    公开(公告)号:CN101539557A

    公开(公告)日:2009-09-23

    申请号:CN200810102141.9

    申请日:2008-03-18

    Abstract: 本发明涉及放射性物质探测和X光辐射成像领域,提供了一种用于在同一地点进行对被检物体进行放射性物质探测和X光辐射成像的集成系统,解决了现有技术中两种检测必须分开进行的技术问题。本发明中的集成系统包括:X光检测设备,用于对被检物体进行X光辐射成像检查;放射性物质监测设备,用于检测所述被检物体发出的放射性射线;以及用于阻挡X光辐射到达所述放射性物质监测设备的装置。本发明实现了两种检测的紧凑集成,大大节约了空间、时间资源,避免了由于在放射性物质监测设备和X光检测设备之间不断运送货品导致的人力、物力上的浪费。

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