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公开(公告)号：CN104422583B
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201310382045.5
申请日：2013-08-28
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供了一种用于检测综合验光仪的光学系统、光学检测装置和方法。光学系统包括：分光元件；第一物镜；第一反光元件，第一反光元件设置在分光元件和第一物镜之间；分划板，分划板设置于第一物镜的物方焦点上；调焦元件，第一物镜设置在调焦元件和第一反光元件之间；第二物镜，调焦元件与第二物镜之间的距离可调节；成像元件，成像元件位于分光元件的出射光路中。待检测设备（例如：综合验光仪）放置在第一物镜与第二物镜之间，通过调节调焦元件与第二物镜之间的距离，可以使分划板上基准图案清晰的呈现在成像元件上，根据调节调焦元件与第二物镜之间的距离计算得出待检测设备的性能指标，从而对待检测设备进行量化的判断。
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公开(公告)号：CN103512730B
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：CN201310464670.4
申请日：2013-10-08
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明一种镜片后顶焦度的测量装置，包括光源，目标分划板，准直物镜，望远镜，将光源照射的目标分划板用准直物镜产生无限远目标，将被测镜片置于准直物镜和望远物镜之间，调节像方分划板，使在望远镜中获得目标分划板清晰的像，根据公式计算得出后顶焦度Φ。本发明在原理上测量的是后顶焦度，不存在近似。通过增加准直物镜的方法将目标置于无限远，使得仪器测量装置缩小，可以实现一体化，这不仅使得仪器占用空间较小，且有利于日常的维护，检测和校准。由于望远物镜的焦距足够长，使得测量精度大幅度提高。顶焦度与像方分划板移动的距离是线性关系。使得测量装置相同的测量精度需要的移动距离更短。长度测量可采用机械刻尺测量，降低仪器的成本。
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公开(公告)号：CN103411757B
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201310397554.5
申请日：2013-09-04
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明一种基于特定空间频率内窥镜光学传递函数测量系统的校准方法和系统，包括光源1，分划板2，成像物镜3，CCD4和标准内窥镜5，在分划板2上设有特定空间频率的光栅，本发明在校准测量系统时，使用标准内窥镜5，已知该标准内窥镜的所使用光栅的特征频率的光学传递函数值MTF(fx)，然后，测量得到对比度M1(fx)，根据公式 可得到M2(fx)，并被记录保存。再进行内窥镜的测量。本发明内窥镜光学传递函数测量系统，放置标准内窥镜和被测内窥镜前后，光学镜头的共轭关系都是无限共轭，不存在系统误差。由于CCD在校准过程和测量过程杂光影响相接近，光照度的变化较小，使CCD的非线性响应影响较小，测量精度更高。测量结果得到溯源。
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公开(公告)号：CN105571836A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201610060476.3
申请日：2016-01-29
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种接触镜后顶焦度测量仪器的校准方法，属于测试计量技术及仪器领域。包括：凸透镜校验镜片、凹透镜校验镜片和镜座。所述的凸透镜校验镜片或凹透镜校验镜片位于镜筒的台阶状圆形通孔内，在凸透镜校验镜片或凹透镜校验镜片的前表面放上垫圈，再用带有外螺纹的压圈固定。本发明通过设计具有不同后顶焦度的凸透镜校验镜片和凹透镜校验镜片，以及配套的镜座，不仅可以在空气中实现接触镜测量仪器的后顶焦度示值误差检验，而且还可以在溶液中实现测量仪器的后顶焦度示值误差检验。且具有结构简单、操作方便、适用范围广的优点。
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公开(公告)号：CN104422583A
公开(公告)日：2015-03-18
申请号：CN201310382045.5
申请日：2013-08-28
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供了一种用于检测综合验光仪的光学系统、光学检测装置和方法。光学系统包括：分光元件；第一物镜；第一反光元件，第一反光元件设置在分光元件和第一物镜之间；分划板，分划板设置于第一物镜的物方焦点上；调焦元件，第一物镜设置在调焦元件和第一反光元件之间；第二物镜，调焦元件与第二物镜之间的距离可调节；成像元件，成像元件位于分光元件的出射光路中。待检测设备（例如：综合验光仪）放置在第一物镜与第二物镜之间，通过调节调焦元件与第二物镜之间的距离，可以使分划板上基准图案清晰的呈现在成像元件上，根据调节调焦元件与第二物镜之间的距离计算得出待检测设备的性能指标，从而对待检测设备进行量化的判断。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103948368A
公开(公告)日：2014-07-30
申请号：CN201410161865.6
申请日：2014-04-21
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: A61B3/107
Abstract: 本发明涉及一种用于检验角膜曲率计的轴位标准器，包括：轴位模拟眼，该轴位模拟眼为方形柱体，其中一端为环曲面，另一端为平面；轴位套筒，该轴位套筒外形为正八棱体结构，套筒内开有方形通孔，所述的轴位模拟眼位于该轴位套筒的方形通孔内；测量支架，该测量支架具有梯形测量槽，所述的轴位套筒放置于梯形测量槽内。本发明通过设计具有不同环曲面规格的轴位模拟眼，并将其置入八棱壳体内的方形通孔里，利用测量支架的梯形测量槽定位，实现了角膜曲率计类测量仪器的轴位示值误差的检验。
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公开(公告)号：CN103512731A
公开(公告)日：2014-01-15
申请号：CN201310464673.8
申请日：2013-10-08
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明一种镜片后顶焦度的测量方法，包括光源，目标分划板，准直物镜，望远镜，将光源照射的目标分划板用准直物镜产生无限远目标，将被测镜片置于准直物镜和望远物镜之间，调节像方分划板，使在望远镜中获得目标分划板清晰的像，根据公式计算得出后顶焦度Φ。本发明在原理上测量的是后顶焦度，不存在近似。通过增加准直物镜的方法将目标置于无限远，使得仪器测量装置缩小，可以实现一体化，这不仅使得仪器占用空间较小，且有利于日常的维护，检测和校准。由于望远物镜的焦距足够长，使得测量精度大幅度提高。顶焦度与像方分划板移动的距离是线性关系。使得测量装置相同的测量精度需要的移动距离更短。长度测量可采用机械刻尺测量，降低仪器的成本。
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公开(公告)号：CN103512730A
公开(公告)日：2014-01-15
申请号：CN201310464670.4
申请日：2013-10-08
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明一种镜片后顶焦度的测量装置，包括光源，目标分划板，准直物镜，望远镜，将光源照射的目标分划板用准直物镜产生无限远目标，将被测镜片置于准直物镜和望远物镜之间，调节像方分划板，使在望远镜中获得目标分划板清晰的像，根据公式计算得出后顶焦度Φ。本发明在原理上测量的是后顶焦度，不存在近似。通过增加准直物镜的方法将目标置于无限远，使得仪器测量装置缩小，可以实现一体化，这不仅使得仪器占用空间较小，且有利于日常的维护，检测和校准。由于望远物镜的焦距足够长，使得测量精度大幅度提高。顶焦度与像方分划板移动的距离是线性关系。使得测量装置相同的测量精度需要的移动距离更短。长度测量可采用机械刻尺测量，降低仪器的成本。
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公开(公告)号：CN103344654A
公开(公告)日：2013-10-09
申请号：CN201310241433.1
申请日：2013-06-19
Abstract: 本发明提供的锥束CT连续快速扫描模式下的冗余投影数据判别方法，上位机对面阵探测器采集到的第一投影序列P1，进行对数变换和投影降噪后得到第二投影序列P2；转台旋转至360度位置对应的投影编号M，以M为起点，向前搜索Δ幅投影至第M-Δ投影位置，将M-Δ到N的投影位置的投影数据合成为第三投影序列P3；计算第二投影序列P2中的第一幅图像与第三投影序列P3中的每个图像之间的结构相似度系数SSIM，检索SSIM最大值对应的投影编号Q，将第二投影序列P2中的第1幅投影到第Q幅投影取出组成有效投影序列Peffective；有效投影序列Peffective反投影重建三维图像。本发明解决了连续快速扫描模式下由于转台加速减速运动以及扫描控制终端对上位机控制指令响应滞后造成的投影数据冗余问题。
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公开(公告)号：CN220270511U
公开(公告)日：2023-12-29
申请号：CN202321978209.6
申请日：2023-07-26
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本实用新型涉及一种用于经颅磁刺激治疗仪磁场和温度检测的专用设备，包括：仿生头部模体、专用支架、磁场测量探头、温度测量模块、装置主机和数据线。仿生头部模体由薄球壳和厚球壳组成一体结构并设于专用支架底座，磁场测量探头设于专用支架滑块顶部，装置主机通过数据线分别与磁场测量探头和温度测量模块连接。该设备测量模体所在空间内磁场和线圈表面温度；对磁场测量结果做计算分析，获得最大磁感应强度、空间磁场分布、输出频率、刺激脉冲宽度和线圈表面温度的测量结果。其适用经颅磁刺激治疗仪研发和临床使用中核心参数的检测与校准，保证经颅磁刺激治疗仪使用的安全性与有效性。
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