锥束3D-CT扫描系统重建体素尺寸的自动标定方法

    公开(公告)号:CN103226113A

    公开(公告)日:2013-07-31

    申请号:CN201310109460.3

    申请日:2013-03-29

    Abstract: 本发明公开了一种锥束3D-CT扫描系统重建体素尺寸自动标定的方法,该方法利用球形目标体在X轴方向不同行程距离下的DR投影的直径信息、采用最小二乘拟合法回归出不同成像位置下行程-体素尺寸关系V=b+kD,然后将V=b+kD内嵌在锥束3D-CT扫描系统的自动标定模块中。当锥束3D-CT扫描系统运行时,标定模块将自动计算出不同扫描位置对应的精确体素尺寸值,从而保证基于3D-CT图像的数据分析与特征测量的准确性。该标定方法避开了现有标定方法求取投影几何放大比难度大、精度低的难点,且无需对标准件进行CT扫描后再进行标定,具有操作简单、精度高、自动程度高的优点。

    用于释光测年仪校准的标准石英样品制备方法

    公开(公告)号:CN119935678A

    公开(公告)日:2025-05-06

    申请号:CN202510100906.9

    申请日:2025-01-22

    Abstract: 本发明公开了一种用于释光测年仪校准的标准石英样品制备方法,涉及释光测年技术领域,包括以下步骤:准备石英玻璃前壁、石英玻璃后壁和环形垫;将环形垫置于石英玻璃前壁、石英玻璃后壁之间,其中心孔内放置石英样品,得到完成装载的装载器具;采用铝箔包裹装载器具,将装载器具放置于专用支架之上,并置于参考辐射场的测量点处;对测量点处的空气比释动能率进行测量;计算从空气比释动能到石英吸收剂量的转换系数;计算石英样品的吸收剂量;利用释光测年仪采用单因素方差分析方法,评估石英样品的均匀性;采用辐照后不同时间取出并分别测读的方式,评估石英吸收剂量的稳定性。本发明能够使标准石英样品的装载更为方便,所得剂量更加准确。

    一种基于双球管电离辐射测试系统

    公开(公告)号:CN117908070B

    公开(公告)日:2024-08-02

    申请号:CN202410098118.6

    申请日:2024-01-24

    Abstract: 本发明涉及电离辐射场所的辐射测试技术领域,具体涉及一种基于双球管电离辐射测试系统,包括架体;所述架体上端设有平台,所述平台的上端面平行设置球管一及球管二;所述平台下端面可拆卸安装有镜片调整装置;所述架体的侧端间隔设置有若干用于激光定位的发生器,当球管一对被测物进行照射时,的放射源球管二对被测物的末端进行照射,当被测物移动时,可检测被测物在被单一放射源照射和两个放射源照射时的辐射率,实现对多个放射源的电离辐射辐射剂量变化的检测。

    一种用于电离辐射测试的旋转平台

    公开(公告)号:CN118169734A

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202410148501.8

    申请日:2024-02-02

    Abstract: 本发明涉及电离辐射场所的辐射测试技术领域,具体涉及一种电离辐射测试的旋转平台,包括升降装置及安装在升降装置上的旋转平台;旋转平台包括对称设置的支撑板、可拆卸安装的台面、安装在支撑板内侧的旋转装置及安装在支撑板侧边的驱动装置;通过定向改变被测物的仰俯角度,以实现在同一被测物的表面与发射装置之间产生微变位置差,以测得短距离辐射剂量率的差值,且能够根据实际测试角度需要手动或自动调整台面的角度,以实现台面的多角度安装。

    一种用于脉冲X射线剂量测量的平板形空腔电离室及制作方法

    公开(公告)号:CN117690775A

    公开(公告)日:2024-03-12

    申请号:CN202311724770.6

    申请日:2023-12-14

    Abstract: 本发明公开了一种用于脉冲X射线剂量测量的平板形空腔电离室,该电离室包括支撑杆、信号线及腔体。其中,腔体为平板形结构,在腔体内上下侧设有与信号线相接的高压极,腔体内中部位置对称设置有与外框和信号线分别相接的保护极,且对称的所述保护极之间设置有不导通的收集极,以及在保护极和收集极上下且与高压极之间形成有相互屏蔽的灵敏区。该平板形空腔电离室极板间距仅2mm,在300V标称极化电压下,收集时间达到微秒量级,可用于毫秒级脉冲X射线剂量测量,以及还避免两电极直接接触或经固态绝缘件间接接触而产生明显漏电流、进一步减小电离室漏电流、实现极板整体空气等效性,并补偿了低能量段的响应,同时也降低了成本与加工难度等效果。

    X射线半导体探测器的测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN116774271A

    公开(公告)日:2023-09-19

    申请号:CN202310552205.X

    申请日:2023-05-16

    Abstract: 本发明提供X射线半导体探测器的测量装置及测量方法,涉及设备性能测量技术领域,装置包括X射线产生系统和半导体探测器测试系统,X射线产生系统包括X射线光机、限束光阑组件、屏蔽箱体、快门装置、双盘过滤系统,双盘过滤系统包括双滤过盘和控制器,双滤过盘的过滤板孔位安装过滤片,控制器调节生成不同能量X射线,半导体探测器测试系统包括温度调节组件和气压模块,气压模块包括密闭室和气压调节组件,将半导体探测器放在密闭室后,调节密闭室的温度和气压,通过调节过滤片之间的组合生成不同能量X射线,装置操作简单,可以避免由于频繁调节温度气压或者更换辐射源导致测量条件改变的问题,可保证测量结果的准确性。

    能谱-剂量的测量方法及装置

    公开(公告)号:CN114740516A

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202210405305.5

    申请日:2022-04-18

    Abstract: 本发明提供了一种能谱‑剂量的测量方法及装置,方法包括:使用标准放射源对谱仪进行能量刻度,得到道址与能量的转换关系;转换关系通过刻度因子表示;测量n个不同能量的放射源的射线峰,将得到的能谱的能量划分为n个区域,每个区域至少具有一条射线的全能峰位;根据n个区域,对n个放射源进行采谱,得到通过刻度因子进行能量刻度的n个净能谱;依次对n个放射源进行剂量值测量,得到与n个净能谱对应的n个剂量率;计算放射源在n个区域中的计数率和对应的剂量率的关系;关系包括n个能谱‑剂量转换系数,以构建能谱‑剂量函数;根据当前每个区域的剂量率,计算全谱剂量率。

    用于固定式辐射剂量率仪原位校准的方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN114397695A

    公开(公告)日:2022-04-26

    申请号:CN202210051498.9

    申请日:2022-01-17

    Abstract: 本发明提供了一种用于固定式辐射剂量率仪原位校准的方法,包括:在参考辐射场中,对标准设备和拟建数据库型号下的第一待校设备至第n待校设备进行校准,并获取第一放射源产生的第一非扩展齐向场的响应信号,随后建立关于型号‑相对位置关系‑统计数据的数据库,在原位校准时,通过与第一放射源相同型号的第二放射源产生第二非扩展齐向场,并查询当前待校准设备的型号后,根据该型号对应的数据库中的值,得到当前待校准设备的目标原位校准因子。

    一种建立低剂量率水平辐射质的方法

    公开(公告)号:CN114371498A

    公开(公告)日:2022-04-19

    申请号:CN202210051497.4

    申请日:2022-01-17

    Abstract: 本发明提供了一种建立低剂量率水平辐射质的方法,包括:使用标准放射源对谱仪进行能量刻度,得到谱仪的道址与标准放射源的能量的转换关系;在标准辐射质下进行电离室刻度,得到标准辐射质的第一刻度系数;将光机的管电压分别设置为多个预设电压值,并在每个预设电压值下,调整管电流,并在多个预设管电流下,在距光机出口预设距离处通过谱仪测量能谱,通过电离室测量剂量率,并从多个待用过滤片中确定附加过滤,使得剂量率不大于预设的剂量率阈值;每个预设电压值对应一个新辐射质;能谱包括能量和计数率;根据计数率和能量,计算每个预设电压值对应的新辐射质的平均能量;根据标准辐射质的第一刻度系数,得到新辐射质的第二刻度系数。

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