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公开(公告)号:CN1438553A
公开(公告)日:2003-08-27
申请号:CN03115588.X
申请日:2003-02-28
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种全息法制作变频光栅的装置,其特点在于它由激光光源、扩束望远镜、分束器、反射镜、柱面镜和记录介质组成,其光路是:激光光源发出的激光束经望远镜扩束,进入分束器,将光束一分为二,其反射光束经柱面镜由反射镜反射到记录介质上,作为物波;透射光束经反射镜的反射也射到全息记录介质上,是参考波,物波和参考波相干形成的全息图被记录在记录介质上。利用本发明装置制作的变频光栅,光栅的空间频率成线性变化,而且空间频率可高达2000~3000线/mm。
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公开(公告)号:CN1431463A
公开(公告)日:2003-07-23
申请号:CN03115177.9
申请日:2003-01-27
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种高倍全息位相差放大装置,由波前记录装置和重构装置两部分构成,波前记录装置由激光光源、望远镜、分束器、反射镜、待测样品和记录介质组成,重构装置包括氦-氖激光光源、望远镜、半透半反镜、全反镜、底片架、透镜、光阑和接收器,先利用波前记录装置拍摄好的含有物体位相信息的全息图,在暗房中处理、吹干以后,放在重构装置的底片架上进行光学重构,经一次或多次重构可将位相差放大到λ/100,也就是说可将波面的测量精度提高到纳米量级。
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公开(公告)号:CN1421691A
公开(公告)日:2003-06-04
申请号:CN02155046.8
申请日:2002-12-20
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01N23/223
Abstract: 一种X射线荧光全息层析成像装置,包括X射线源、相互垂直放置的两块弯曲单晶构成的单色器、沿单色器的光束出射方向依次置有光阑和毛细管;其后是置放样品的样品旋转台,它由计算机控制的步进电机驱动;沿着X射线束的前进方向有一CCD;在样品的荧光方向依次设有双聚焦晶体单色器和荧光探测器,探测器与计算机相连。本发明既可对痕量元素有较高的分辨率,达到亚毫微克量级;又有很高的三维空间分辨率,达到原子分辨率尺度。
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公开(公告)号:CN1421690A
公开(公告)日:2003-06-04
申请号:CN02155099.9
申请日:2002-12-23
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01N23/20 , G01N23/202 , G01N23/206
Abstract: 一种中子衍射层析成像装置,包括转动平台、闪烁体、铝镜、CCD相机、计算机和暗箱,所说的闪烁体、铝镜和CCD相机放在暗箱中,中子束入射到放置在转动平台上的样品上,中子被样品产生的衍射中子垂直入射,被闪烁体接收,转化为含有样品信息的可见光,被铝镜反射进入CCD相机上,数字化后转入到计算机,其特点是:在转动平台之前,还设有由互相垂直放置的、具有一定曲率的单晶铝和单晶铝构成的单色聚焦器。本发明装置兼有中子衍射和中子层析的优点,能高分辨率地重构待测样品中待测元素的三维空间分布,特别是能测试和分辨吸收系数非常相近的元素的空间结构。
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公开(公告)号:CN100570344C
公开(公告)日:2009-12-16
申请号:CN200510024299.5
申请日:2005-03-10
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01N23/20
Abstract: 一种时间分辨X射线衍射仪,它由飞秒钛宝石激光系统、分束器、第一全反射镜、第二全反射镜、第三全反射镜、第四全反射镜、第五全反射镜、第六全反射镜、第七全反射镜、靶、凹面反射镜、靶室、沃尔特镜、样品和探测器组成,所述靶室内有一个装载所述靶的转动台,靶和凹面反射镜,在该靶室外还有沃尔特镜、样品,探测器组成。利用本发明的时间分辨X射线衍射仪,能够研究原子尺度的物体的瞬态过程,时间分辨率可以达到亚皮秒量级,晶格移动间分辨率可以达到毫量级,特别适合于晶体材料和生物化学过程的研究,例如用此可以研究瞬态衍射,以探索生物的结构和功能关系。
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公开(公告)号:CN100526867C
公开(公告)日:2009-08-12
申请号:CN200410067780.8
申请日:2004-11-03
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01N23/083 , G01N23/04 , H05G1/02
Abstract: 一种时间分辨光电子放大X射线显微镜,由飞秒激光系统、分束器、反射镜、光阴极X射线二极管、光学延迟线、凹面反射镜、凹面聚焦单晶体、光电子放大系统和计算机组成。本发明利用X射线穿透性强来探测样品,又把样品的图像变成光电子再放大,省去了显微定影过程,它兼备了X射线和电子束各自的优点,而摒弃了各自的缺点,能实时地高放大倍率地显示图像。
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公开(公告)号:CN100491990C
公开(公告)日:2009-05-27
申请号:CN200410052912.X
申请日:2004-07-16
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01N23/083 , G01N23/00 , G06F19/00
Abstract: 一种X射线复折射率中位相因子δ的测定方法,其特征在于包括以下三个步骤:①.用一个矩形axb的准平行的X射线束照明待测的位相物体,在位相物体后面,探测器要紧贴在位相物体后面,测量X射线束的光强分布I(x,y),即位相分布φ(x,y);②.将φ(x,y)代入公式(30),即可求得复折射率n(x,y,z):φ(x,y)=2π/λ∫[n(x,y,z)-1]dz③.根据复折射率n(x,y,z),求得δ:δ=1-n(x,y,z)。本发明给出了用实验方法求取待测物的位相分布,再从位相分布求取位相因子δ,是一项具有重要意义的原创性的工作。
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公开(公告)号:CN100491987C
公开(公告)日:2009-05-27
申请号:CN200510025559.0
申请日:2005-04-29
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01N23/00
Abstract: 一种超快时间分辨X射线谱仪,包括飞秒激光器,其特征是在所述的飞秒激光器的激光输出光路上安置一分束器,该分束器的反射光经由光学延迟线到达样品,构成对样品的作用光束,在该分束器的透射光经全反射镜入射在光阴极X射线二极管上,该光阴极X射线二极管产生的X射线入射到样品上,探测作用光束产生瞬态结构变化的过程,然后入射在硅单晶上,产生的光谱色散被探测器接收,显示在计算机上。本发明可用来研究待测样品的瞬态结构变化导致的光谱变化。
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公开(公告)号:CN100464181C
公开(公告)日:2009-02-25
申请号:CN200510024989.0
申请日:2005-04-08
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01N23/205 , G01N23/20
Abstract: 一种用羽毛检测X射线源相干性的方法,其特征在于包括下列步骤:①建立X射线衍射增强成像的装置:由按X射线源的X射线的前进方向依次设置的单色器晶体、样品台、分析晶体和记录介质组成;②将天然羽毛置于所述的样品台上;③打开X射线源,记录介质上即记录下天然羽毛衍射增强成像的图像;④对记录了图像的记录介质进行显影、定影、吹干;⑤对记录介质上的图像进行分析,对所述的X射线源的相干性进行评价。本发明利用天然鸟毛,成本低,方法简易方便,还可进行定量测量。
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