记录和/或再现设备
    41.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100495563C

    公开(公告)日:2009-06-03

    申请号:CN03824066.1

    申请日:2003-09-23

    CPC classification number: G11B20/1883 G11B2020/1873 G11B2220/20

    Abstract: 一种用于使用盘中的临时缺陷管理区域来管理盘中的盘缺陷的方法和设备,以及盘,其中,该方法包括:将用户数据记录在数据区域中;和将关于记录在数据区域中的用户数据的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录在存在于引入区域和引出区域的至少一个中的临时缺陷管理区域中。因此,该方法和设备可应用到可记录的盘并且能够有效地使用缺陷管理区域。

    在信息存储介质中记录视频数据的方法

    公开(公告)号:CN101389041A

    公开(公告)日:2009-03-18

    申请号:CN200810149266.7

    申请日:2002-02-27

    Abstract: 提供一种记录和再现视频数据的方法。所述在信息存储介质中记录视频数据的方法包括步骤:(a)解码视频数据;(b)以不同于初始的编码方式编码所解码的视频数据;(c)生成在将视频数据解码为初始状态时参考的视频转换信息;以及(d)在信息存储介质中记录所生成的视频转换信息和重新编码的视频数据。因此,即使以不同于初始的编码方式重新编码,也能正确地再现所述视频数据。

    用于管理高密度一次写入记录介质的缺陷的方法和设备

    公开(公告)号:CN100452224C

    公开(公告)日:2009-01-14

    申请号:CN03819002.8

    申请日:2003-06-05

    Inventor: 高祯完 李坰根

    Abstract: 提供了一种允许缺陷管理的高密度一次写入记录介质以及一种用于管理缺陷的方法和设备。根据该高密度一次写入记录介质,数据以轨道或簇被写入该记录介质,写入的数据被验证,并且如果发现缺陷,则缺陷部分被跳过,并且相应于该缺陷部分的数据和随后写入的数据被重新写入下一个可用记录位置。使用滑移替换的缺陷管理方法应用于在其中缺陷被发现的高密度一次写入记录介质,由此通过将在该记录介质中发现的缺陷滑移来允许连续记录,并且还提高了该记录介质的可靠性。

    记录和/或再现数据的方法和设备

    公开(公告)号:CN100440337C

    公开(公告)日:2008-12-03

    申请号:CN200480039942.5

    申请日:2004-12-29

    Inventor: 黄盛熙 高祯完

    Abstract: 一种用于记录和/或再现数据的设备和方法以及一种只写一次信息存储介质,该只写一次信息存储介质包括:至少一个数据区,用于记录用户数据;以及至少一个记录管理数据(RMD)区,当在至少一个数据区中以顺序记录模式记录用户数据时,对通过将所述至少一个数据区划分为多个边界来使用所述至少一个数据区所需的RMD进行记录。当以顺序记录模式在只写一次信息存储介质上记录数据时,数据区可被划分为多个边界和/或记录带。因此,可更加方便和高效地使用只写一次信息存储介质。

    光学记录介质、记录/再现设备和记录/再现方法

    公开(公告)号:CN101312061A

    公开(公告)日:2008-11-26

    申请号:CN200810109793.5

    申请日:2004-12-27

    Inventor: 黄盛熙 高祯完

    Abstract: 提供了一种光学记录介质、记录/再现设备和记录/再现方法。所述光学记录介质,包括用户数据区和SA/DL区,其中,用于替换用户数据区中的缺陷块的替换块以及与对应于所述缺陷块的缺陷有关的信息被记录在所述SA/DL区中,其中,所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目,所述连续缺陷列表条目包括与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。

Patent Agency Ranking