存储设备及其坏块指派方法

    公开(公告)号:CN108694989A

    公开(公告)日:2018-10-23

    申请号:CN201810249317.7

    申请日:2018-03-23

    Inventor: 李庚德 沈荣燮

    Abstract: 一种存储设备包括非易失性存储器设备,该非易失性存储器设备在选定的存储单元的编程操作期间检测多个目标状态中的至少一个目标状态的状态通过循环的循环计数,并且基于检测到的状态通过循环的循环计数来生成指示编程操作是否成功的状态循环计数信息(SLCI);以及存储控制器,其响应于检测到操作条件或外部命令,向非易失性存储器设备请求状态循环计数信息,并且基于来自非易失性存储器设备的状态循环计数信息,将包括选定的存储单元的存储块指派为坏块。

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