带有集成寿命检测能力的结构

    公开(公告)号:CN101248343B

    公开(公告)日:2011-03-16

    申请号:CN200680022345.0

    申请日:2006-06-22

    CPC classification number: F16L11/127 B60C11/24 B60C19/00

    Abstract: 一种经受能够导致结构性故障的压力的结构(10,50)。这种结构(10,50)包括第一和第二传导层(16,18,56,58)以及由绝缘、半导体或电阻(resistive)材料制成的在它们之间的中间层(20,60),以使得该第一、第二层和中间层(16,18,20,56,58,60)组合形成电元件,即,电容性或电阻性元件。该电元件被布置在该结构(10,50)中,以使得该电元件物理响应由外在和内在源造成的该结构(10,50)暂时性和永久性的变形。该结构(10,50)进一步包括施加电势到第一和第二传导层(16,18,56,58)的至少一个,以从该电元件产生电信号,感测该电元件物理响应该暂时性和永久性的变形而产生的电信号的变化,以及将电信号的这种变化传送到远离该结构(10,50)的位置。

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