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公开(公告)号：CN107037443A
公开(公告)日：2017-08-11
申请号：CN201610942689.9
申请日：2016-11-01
Applicant: 赫克斯冈技术中心
Abstract: 用于基于三角测量的距离测量的方法和装置。所述方法包括：生成并发射测量光束；将测量光束对准所述物体；在限定的检测序列期间，利用图像传感器的相应像素检测测量光从物体的反射；以及基于检测到的反射来导出距离信息。检测序列包括皆限定传感器的像素的特定曝光时段和饱和度限制的至少两个曝光子序列，其中，相继的曝光子序列包括比先前曝光子序列高的饱和度限制，并且各个饱和度限制都针对相应曝光子序列限定像素的最大充电水平。像素被反射的测量光至少部分曝光，由此各个曝光像素的电荷改变，根据对应曝光子序列的时段的相应饱和度限制来限制或部分重置在检测序列期间达到最大充电水平中的至少一个的各个像素的电荷。
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公开(公告)号：CN104520667A
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：CN201380039172.3
申请日：2013-07-18
Applicant: 赫克斯冈技术中心
Inventor： 托马斯·延森
IPC: G01B9/02
CPC classification number: G01B9/02091 , G01B9/02004 , G01B9/02027 , G01B9/0205 , G01B9/02057 , G01B11/007
Abstract: 本发明涉及一种用于测量表面的干涉型距离测量装置，所述干涉型距离测量装置具有：能够被调谐的至少一个激光源，所述激光源具有相干长度，用于产生被波长斜坡调制的测量辐射；光路，所述光路具有用于向表面发射测量辐射的光学传导系统以及用于捕捉由表面反向散射的测量辐射的光学捕捉系统，所述光学捕捉系统包括测量臂以及参考臂；以及辐射探测器和评估单元，用于确定从所述距离测量装置的参考点到所述表面的距离。由至少一个分光器限定用于并行发射测量辐射的n≥2条通道，为所述通道分别分配由相干长度限定的测量范围的一个不同子域。
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公开(公告)号：CN117630874A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311047740.6
申请日：2023-08-18
Applicant: 赫克斯冈技术中心
IPC: G01S7/481 , G01S7/4861 , G01S17/10
Abstract: 具有TOF传感器的测量设备。提供用于获取与场景中的目标相关的三维测量点的测量设备，包括：测距单元，包括发射准直测量辐射的发射单元和检测由目标反射的准直测量辐射的至少一部分的接收单元；引导单元，可围绕俯仰轴线旋转并将测量辐射引导朝向场景；捕获单元，包括图像传感器并至少捕获场景的至少一部分的场景图像；控制和处理单元，至少对准引导单元。测距单元和捕获单元被设置在引导单元中，捕获单元的光学轴线与测距单元的光学轴线同轴对准。图像传感器通过生成像素相关图像数据提供场景图像。测量设备包括TOF传感器，其提供场景的至少一部分的像素相关TOF数据作为TOF图像，像素相关TOF数据至少包括TOF图像中的各个像素的范围数据和/或振幅数据。
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公开(公告)号：CN110927697B
公开(公告)日：2023-12-08
申请号：CN201910890808.4
申请日：2019-09-20
Applicant: 赫克斯冈技术中心
Abstract: 包括鱼眼透镜的回射器。本发明涉及一种用于目标点的位置确定和/或标记的反射器装置借助于该第一传感器装置，穿过回射器(21、22)的取向测量辐射是能够获取的。第一传感器装置包括提供鱼眼透镜的第一光学组件(25、26)以及第一传感器(23、24)，其中，回射器(21、22)和第一传感器装置以这样的方式布置：穿过回射器(21、22)的取向测量辐射能够借助于第一光学组件(25、26)投射到第一传感器(23、24)的检测表面上。(20)，其包括回射器(21、22)和第一传感器装置，
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公开(公告)号：CN108469618B
公开(公告)日：2022-04-05
申请号：CN201810155027.6
申请日：2018-02-23
Applicant: 赫克斯冈技术中心
Inventor： S·M·B·加切特·托亚 , 托马斯·延森 , A·施文德纳 , T·迈尔
IPC: G01S17/894 , G01S7/481 , G01C11/00
Abstract: 本公开提供测绘装置和用于测绘装置的旋转单元的旋转体。测绘装置(1)包括：底座(2)，其限定底座轴线(A)；支撑结构(3)，其可绕底座轴线(A)旋转并且限定旋转轴线(B)；发光单元；及光接收单元。旋转单元(10)安装在支撑结构(3)上，包括旋转体(11)，旋转体(11)包括扫描镜(12)和至少一个反射偏折面(13)。提供成像单元及控制和处理单元。成像单元包括至少一个摄像头(15)。至少一个摄像头(15)被分配至少一个偏折面(13)且仅在旋转体(11)的预定取向范围内：至少一个摄像头(15)的光轴由其所分配的偏折面(13)偏折并且其视场由相应所分配的偏折面(13)偏折并使得视场包括旋转轴线(B)周围的视场角。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111536878B
公开(公告)日：2021-12-31
申请号：CN202010079701.4
申请日：2020-02-04
Applicant: 赫克斯冈技术中心
Abstract: 本公开提供用于测量表面的方法、干涉测量装置、机器可读介质。通过将测量结果分类成有效或无效来估测表面的方法。一种用于测量表面(24)的方法，具体地根据光学相干层析成像的原理，由此基于干涉图(2)通过基于对相应干涉图(2)的相位变化(4)和幅度变化(4')的评价(7)将测量结果(2、11、13、19)分类(6a、6b、6b')成无效(6a)或有效(6b、6b')来基于干涉图测量到表面(24)的点的距离(D)。
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公开(公告)号：CN106643547B
公开(公告)日：2020-10-09
申请号：CN201610959254.5
申请日：2016-11-03
Applicant: 赫克斯冈技术中心
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明涉及提供改进测量质量的光线上的光强度补偿。提供用于对待测量物体进行基于三角测量的距离测量的测量光的方法，其中，通过检测被物体反射的测量光的至少一些部分能推导出距离信息。该方法包括：发射光以及对光进行整形，使得所述测量光被设置成具有中点和两个相对端部的线的形式。调节所述线上的光的强度分布，使得所述线的端部处的相应光强度比所述中点周围的光强度高至少10％。
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公开(公告)号：CN110823123A
公开(公告)日：2020-02-21
申请号：CN201910721162.7
申请日：2019-08-06
Applicant: 赫克斯冈技术中心
IPC: G01B11/24
Abstract: OCT测量。本发明涉及一种光学系统(1)，具体地光学相干断层成像扫描仪，包括：光学相干断层成像测量装置；和光束偏折单元，该光束偏折单元用于横向偏折光学相干断层成像测量装置的光束路径的位置和/或角度。根据本发明，在光束路径中存在光学部件，所述光学部件被实现成：依赖于偏折后的光束路径在光学部件上的横向位置，所述光学部件的后向反射在其沿着光束路径的纵向位置方面具有不同的配置。光学系统包括评估单元，该评估单元被实现成：光束偏折单元的横向位置和/或角偏折的值可基于光学相干断层成像测量装置确定的在光学部件处的后向反射的纵向位置来确定。
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公开(公告)号：CN109990728A
公开(公告)日：2019-07-09
申请号：CN201811530297.7
申请日：2018-12-14
Applicant: 赫克斯冈技术中心
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明涉及机器几何形状监测。用于循环地确定机器(1)的几何形状的静态和/或动态特性的变化的机器状态监测系统(2)。所述机器(1)构造有位置编码器(4)以相对于第二机器部分(3)得出至少第一机器部分(5)的坐标信息，所述第一机器部分(5)和所述第二机器部分(3)可借助机动化驱动单元(13)相对于彼此移动。根据本发明，所述监测系统(2)包括至少一个校准监测单元(6)，该校准监测单元(6)具有光学的至少二维测量位置感测单元，所述感测单元固定到所述第一机器部分(5)并且构造成光学地感测设置在所述第二机器部分(3)处的人工制品(3)的至少二维位置信息。
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公开(公告)号：CN109425307A
公开(公告)日：2019-03-05
申请号：CN201810980314.0
申请日：2018-08-27
Applicant: 赫克斯冈技术中心
IPC: G01B11/24
Abstract: 用于扫描物体和投影信息的测量仪器。测量装置包括底座、支撑结构、光发射单元和光接收单元。旋转单元安装在支撑结构上，以提供测量信号在规定方向上的发射和接收，其中旋转单元包括具有扫描镜旋转体。装置包括用支撑结构固定布置的至少一个投影仪，其规定特定光轴并被配置成在场景处引导光图案，其中图案的位置和形状可由控制和处理单元控制。旋转体包括至少一个偏转面，并且至少一个投影仪和旋转体被设计并相对于彼此布置成使得在旋转体的预定对准范围内：至少一个投影仪的光轴被至少一个偏转面偏转；至少一个投影仪的视场通过光轴的偏转被偏转并规定成使得视场包括围绕旋转轴的规定的场角，并且可利用测量装置提供基本无视差的光图案投影。
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