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公开(公告)号：CN103196840B
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：CN201310095139.4
申请日：2013-03-22
Applicant: 清华大学
IPC: G01N21/25 , G01N21/35 , G01N21/359
Abstract: 本发明涉及材料的热物性参数测试技术领域，尤其涉及一种基于有效辐射的材料高温光谱发射率测试系统。该测试系统包括水冷真空室、真空辐射加热单元、有效辐射腔体以及辐射测量与标定单元，通过水冷真空室、真空辐射加热单元、有效辐射腔体和辐射测量与标定单元相结合进行材料光谱发射率的测试，在测试过程中无需参考黑体源，无需预先精确知晓材料温度，降低了测试难度，提高了测试精度，通过将测试样品放置于真空水冷室内避免了测试样品的高温氧化问题。
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公开(公告)号：CN103245692B
公开(公告)日：2015-02-18
申请号：CN201310146537.4
申请日：2013-04-24
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明具体公开了一种基于稳态分析的半球向全发射率与导热系数的测量方法，其步骤包括：选取一个细长带状的导体材料样品，在真空环境下通电加热，选取中间的一段区域为测试区，根据稳态量热法稳态能量平衡方程；将半球向全发射率和导热系数分别表示为关于温度的数学函数；在不同稳态温度条件下进行多组稳态测量实验，构造出不同稳态温度条件下的稳态能量平衡方程组；求出方程组中的待定参数，确定样品在不同稳态温度条件下的半球向全发射率和导热系数。本发明适用于导热系数未知情形下各种导体材料的半球向全发射率的测量，同时还可以获得导体材料的导热系数值，避免了未知导热系数给半球向全发射率测量带来的不确定性影响。
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公开(公告)号：CN104076060A
公开(公告)日：2014-10-01
申请号：CN201410254098.3
申请日：2014-06-09
Applicant: 清华大学
IPC: G01N25/00
Abstract: 本发明公开一种光谱发射率的瞬态测试系统及方法，该系统包括：样品加热单元，用于对样品进行热辐射加热，所述样品为具有漫射表面的不透明材料；判断单元，用于判断所述样品加热单元的加热时间是否达到预设加热时长，若达到预设加热时长，则停止所述样品加热单元的加热，样品自然冷却降温，否则不停止；光谱辐射能量测量单元，用于对样品表面的多光谱辐射能量进行测量；光谱发射率反演单元，用于根据多光谱辐射能量反演样品的光谱发射率与温度。
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公开(公告)号：CN102072916A
公开(公告)日：2011-05-25
申请号：CN201010529042.6
申请日：2010-10-28
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明涉及测量材料热物理参数技术领域，特别涉及一种非金属材料半球向全发射率的测量方法和装置，该测量方法包括步骤：在真空环境中，选用多段组合的圆柱套筒状待测样品的中间段中心区域作为目标分析区域；将通电后的加热模块贯穿嵌入待测样品的内部；通过测量待测样品中间段和目标分析区域的几何尺寸以及在热平衡状态下，真空环境内部温度、待测样品中间段和目标分析区域的表面温度和热量功率，计算出半球向全发射率。本发明采用将加热模块内嵌于圆柱套筒状待测样品内部的加热方法，满足了高温下对非金属材料进行半球向全发射率测量的需求，并且具有测量装置结构简单、测量数据精度高等优点。
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公开(公告)号：CN101476939B
公开(公告)日：2010-09-01
申请号：CN200910077463.7
申请日：2009-02-12
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明涉及一种双CCD温度场测量装置，包括：光学镜头，用于将待测物体的辐射聚焦在分光棱镜组的入射面上；分光棱镜组，将投射的辐射分解为近红外波段辐射及可见光波段辐射，分别从两个出射面出射；黑白CCD面阵传感器，对近红外波段辐射进行成像，获取近红外波段辐射信号；彩色CCD面阵传感器，对可见光波段辐射进行成像，并分解转换为红、绿、蓝三路波段辐射信号；数据采集分析单元，采集近红外波段辐射信号及红、绿、蓝三路波段辐射信号共四路测量信号，并利用多光谱测温法进行温度场计算。本发明还涉及一种对应的温度场测量方法。本发明的技术方案可以实现温度场测量，应用范围广泛；且技术方案实现简单，在高温检测等工业生产领域易于推广应用。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101476939A
公开(公告)日：2009-07-08
申请号：CN200910077463.7
申请日：2009-02-12
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明涉及一种双CCD温度场测量装置，包括：光学镜头，用于将待测物体的辐射聚焦在分光棱镜组的入射面上；分光棱镜组，将投射的辐射分解为近红外波段辐射及可见光波段辐射，分别从两个出射面出射；黑白CCD面阵传感器，对近红外波段辐射进行成像，获取近红外波段辐射信号；彩色CCD面阵传感器，对可见光波段辐射进行成像，并分解转换为红、绿、蓝三路波段辐射信号；数据采集分析单元，采集近红外波段辐射信号及红、绿、蓝三路波段辐射信号共四路测量信号，并利用多光谱测温法进行温度场计算。本发明还涉及一种对应的温度场测量方法。本发明的技术方案可以实现温度场测量，应用范围广泛；且技术方案实现简单，在高温检测等工业生产领域易于推广应用。
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公开(公告)号：CN101329411A
公开(公告)日：2008-12-24
申请号：CN200810116082.0
申请日：2008-07-02
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明公开了一种高温热源的检测方法，包括将待检测目标的入射辐射分解为可见光光谱辐射和近红外光谱辐射；采集所述可见光光谱辐射和近红外光谱辐射的图像；根据所述采集的可见光光谱辐射和近红外光谱辐射的图像，判断所述待检测目标中是否含有高温热源。本发明还公开了一种高温热源的检测装置，包括分光棱镜、第一黑白CCD传感器、第二黑白CCD传感器和高温热源诊断单元。本发明通过双路CCD和分光棱镜的技术方案，在温度范围800K～2000K高温热源的辐射与背景噪声辐射在传感器响应区间的表现强度相近时，能有效地检测出待检测目标的高温热源。
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公开(公告)号：CN111928714B
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202010978279.6
申请日：2020-09-17
Applicant: 清华大学 , 华能集团技术创新中心有限公司
Abstract: 本发明公开了一种螺旋翅片管省煤器及构型参数优化方法。该螺旋翅片管包括：母管和螺旋缠绕于母管壁的翅片；翅片包括多个首尾相接的翅片单元；相邻两个翅片单元之间的母管壁为凹槽结构；螺旋翅片管的轴向截面为双椭圆形构型；轴向截面包括多个翅片截面和多个凹槽截面；翅片截面为翅片半椭圆形；凹槽截面为母管半椭圆形；翅片半椭圆形的顶点为母管与翅片的交点，翅片半椭圆形的长半轴为翅片的高，翅片半椭圆形的短轴为翅片的根部厚度；母管半椭圆形的顶点为母管与翅片的交点，母管半椭圆形的长轴为相邻两个翅片单元的间距，母管半椭圆形的短半轴为凹槽结构的深度。本发明能提高螺旋翅片管的抗积灰性能、换热效率和使用寿命。
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公开(公告)号：CN115790886A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202211533889.0
申请日：2022-12-01
Applicant: 清华大学 , 中国航空发动机研究院
IPC: G01K11/12
Abstract: 一种温度场测量方法及装置，该温度场测量方法包括：获取第一荧光信号、第二荧光信号、第三荧光信号和第四荧光信号；重复执行至少一次获取第一荧光信号和第二荧光信号的过程，根据至少一个第一荧光信号得到至少一个第一图像；根据至少一个第二荧光信号得到至少一个第二图像；重复执行至少一次获取第三荧光信号和第四荧光信号的过程；根据至少一个第三荧光信号得到至少一个第三图像；根据至少一个第四荧光信号得到至少一个第四图像；根据至少一个第一图像的荧光强度、至少一个第二图像的荧光强度、至少一个第三图像的荧光强度、至少一个第四图像的荧光强度得到探测目标的温度。
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公开(公告)号：CN115790854A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202211533893.7
申请日：2022-12-01
Applicant: 清华大学 , 中国航空发动机研究院
Abstract: 本发明公开了一种温度场测温装置及方法，该装置包括：激光模块，用于发出激光；分光模块，用于将激光反射至探测目标上以在探测目标上激发出辐射荧光信号，并透射辐射荧光信号；成像模块，包括：第一通道，用于根据第一波长范围的热辐射信号进行成像，得到第一热辐射图像；第二通道，用于根据第二波长范围的辐射荧光信号进行成像，得到第一荧光图像，并根据第二波长范围的热辐射信号进行成像，得到第二热辐射图像；第三通道，用于根据第三波长范围的辐射荧光信号进行成像，得到第二荧光图像；计算及显示模块，用于根据第一荧光图像、第二荧光图像、第一热辐射图像和第二热辐射图像计算并显示探测目标不同位置的温度。
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