公开(公告)号：CN113808141A

公开(公告)日：2021-12-17

申请号：CN202110231139.7

申请日：2021-03-02

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G06T7/11 ,  G06T7/90 ,  G06K9/62 ,  G06K9/32 ,  G06K9/34 ,  G06K9/00

Abstract: 本发明的成像质量分析装置具备：测量部，分别对设定在目标试样上的测量区域内的多个微小区域执行质量分析；降维处理部，对测量部得到的每个微小区域的质量分析数据进行利用了流形学习的非线性降维法的处理，得到将相当于m/z值的数量的维度降维为三维的每个微小区域的数据；显示颜色确定部，通过在以三维的各维度作为轴并将三原色分别分配至各轴的三维空间中配置与在降维处理部中的降维后的每个微小区域的数据对应的点，分别确定该多个点的颜色；分割图像生成部，通过将具有赋予三维空间内的各点的颜色的像素与该各点所对应的微小区域的测量区域内的位置相对应地配置在二维上，生成与该测量区域或其中一部分的区域相对应的分割图像。

公开(公告)号：CN107003284B

公开(公告)日：2019-11-08

申请号：CN201480083975.3

申请日：2014-12-08

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N27/62

Abstract: 本发明利用MS/MS部(2)对经全二维LC部(1)加以成分分离后的试样反复进行MS2分析而获得MS2谱。波峰信息提取部(32)采集针对二维色谱图上的各微小区域而获得的MS2谱的波峰信息，主成分分析处理部(34)对采集到的波峰信息实施主成分分析而求反映出整体的MS2谱的波峰图案的倾向的主成分得分。因子载荷算出部(35)根据主成分得分来计算每一m/z的因子载荷，相关信息算出部(36)计算各MS2谱与因子载荷的相关系数。由于MS2谱反映出含有成分的化学结构，因此基于相关系数的二维图像展现出与试样中特征性地含有的成分的化学结构类似的成分的分布。

公开(公告)号：CN109983333A

公开(公告)日：2019-07-05

申请号：CN201680090726.6

申请日：2016-11-09

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N27/62 ,  G01N30/72 ,  G01N30/74 ,  G01N30/78 ,  G01N30/86

Abstract: 多变量解析运算部(43)分别将由PDA检测器(2)获取到的数据中的特定波长rλ1下的色谱数据与由质谱仪(3)重复获取到的质谱数据进行矩阵化。然后，以基于质谱数据的二维矩阵为解释变量并以基于色谱数据的一维矩阵为被解释变量，来执行PLS的运算，从而算出回归系数矩阵。针对每个m/z值得到回归系数，回归系数大的m/z值表示特定波长下的色谱波形与提取离子色谱(XIC)类似的m/z值。因此，m/z值提取部(44)将回归系数与阈值进行比较来提取有意义的m/z值，XIC制作部(46)制作所提取出的m/z值下的XIC。通过事先指定操作员关注的部分化学结构特异性地吸收的波长λ1，不进行基于操作员手动作业的波形处理，就能够得到与包含该部分化学结构的分子种对应的XIC。

公开(公告)号：CN105917220B

公开(公告)日：2019-05-28

申请号：CN201480073115.1

申请日：2014-01-16

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N27/62

Abstract: 本发明的目的在于，即便在因不同的多种离子的m/z极为接近而无法进行分离并设定前体离子的情况下，也获得其每种离子的MS2谱。将在目标m/z的附近按规定步长(Δm)逐一错开规定m/z范围(2×ΔM)的前体离子选择用窗口而得的多个窗口规定为前体离子选择条件。当对同一试样执行针对各窗口的MS2分析时，MS2谱中出现的产物离子波峰的强度会根据窗口的中心m/z的变化而发生变化。根据该强度变化来判定产物离子来源于被选择为前体离子的多种离子中的哪一种，并根据该判定结果来区分产物离子，从而再构成对应于各种离子的MS2谱。

公开(公告)号：CN105917221B

公开(公告)日：2019-01-11

申请号：CN201480073586.2

申请日：2014-01-20

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N27/62

Abstract: 本发明从由来源于多种化合物的离子生成的产物离子混存的MS/MS谱中采集波峰信息(S1)，并分别执行以多种离子物质的m/z值之一为前体离子、以MS/MS谱的波峰信息为产物离子信息的数据库检索，并求对应于各化合物的候选化合物和该候选化合物的标准MS/MS谱(S2‑S5)。继而，针对候选化合物的每一组合而制作将标准MS/MS谱合并而得的假想MS/MS谱，并计算该假想MS/MS谱与实测MS/MS谱的类似度(S6)。若候选化合物为正解化合物，则类似度较高，因此按类似度的顺序显示化合物名等结果并展示给用户(S8)。由此，可利用产物离子混存的MS/MS谱来同时鉴定多种化合物。

公开(公告)号：CN108139358A

公开(公告)日：2018-06-08

申请号：CN201580083908.6

申请日：2015-10-16

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N27/62 ,  H01J49/40

Abstract: 将由热膨胀率与飞行管(2)的热膨胀率不同的材料形成的圆柱棒状的基准构件(5)设置为与该管(2)接触，利用固定部(6)将该管(2)与基准构件(5)的一端固定。测距传感器(7)对随着温度变化而变动的管(2)与基准构件(5)的长度的差进行测量。以比率来看，该长度的差的位移比飞行管(2)自身的长度的位移大。另外，长度的差与飞行管(2)自身的长度相比格外小。因而，能够一边利用应变计等廉价的传感器一边高精度地捕捉由热膨胀引起的位移，能够通过基于该测量值校正质谱数据的m/z值来进行高精度的质量偏差校正。

公开(公告)号：CN106935477A

公开(公告)日：2017-07-07

申请号：CN201610835168.3

申请日：2014-01-20

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: H01J49/00

CPC classification number: H01J49/0036 ,  G06F19/703 ,  G06F19/705 ,  H01J49/0045 ,  H01J49/40 ,  H01J49/4225

Abstract: 本发明从由来源于多种化合物的产物离子混存的MS/MS谱中获取与该化合物分别对应的MS/MS谱，并鉴定这些化合物。根据实测质谱上的前体离子的m/z值来推断各自的组成式(S11)，根据实测MS/MS谱上的产物离子的m/z值来推断各自的组成式(S12)。针对每个产物离子波峰，验证其组成式与多种前体离子的组成式的一致性，由此确定波峰的归属(S13‑S14)，根据该归属结果将MS/MS谱数据加以分离并制作每种前体离子的MS/MS谱(S15‑S16)。

公开(公告)号：CN106463335A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201480078992.8

申请日：2014-07-03

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: H01J49/10

CPC classification number: H01J49/0009 ,  G01N30/724 ,  G01N2030/626 ,  H01J49/0422 ,  H01J49/0431 ,  H01J49/0445 ,  H01J49/145 ,  H01J49/165

Abstract: 本发明的质谱分析装置(1)的电离室(11)包括：具有用于进行测定试样的喷雾的测定试样流路(155)的探针(15)；和用于在所述电离室内部进行质谱的质荷比的校正所使用的标准试样的喷雾的标准试样流路(255)。所述标准试样借助脉冲阀(216)，被间歇性地导入所述电离室。由此，能够一方面防止测定试样和标准试样的混杂，另一方面适当地控制标准试样的导入时机。另外，即使在短时间将多种测定试样依次导入电离室的情况下，也能够取得各测定试样的准确的质谱。

公开(公告)号：CN103703360B

公开(公告)日：2016-02-24

申请号：CN201180072499.1

申请日：2011-08-03

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 山口真一

IPC: G01N27/62

CPC classification number: G01N21/31 ,  G06F19/703 ,  H01J49/0036 ,  H01J49/0045

Abstract: 本发明的目的在于可靠地估计结构式已知的原物质的结构的一部分由于代谢等发生变化所得到的未知物质的结构。源自原物质的产物离子和源自未知物质的产物离子具有各种各样的子结构，但源自未知物质的产物离子中的具有包含结构变化部位(P)的子结构的离子和具有该结构变化前的子结构的源自原物质的产物离子的质量差与原物质的质量和未知物质的质量之差一致。因此，提取具有这样的质量差的产物离子的组合，与根据已知的原物质的结构式求出的子结构进行比较，由此求出产生结构变化部位(P)的最小的公共子结构。在未知物质的结构中，除该最小公共子结构以外的部分的结构与原物质相同，因此基于原物质的结构式、最小公共子结构以及根据原物质与未知物质的质量差预测出的结构变化的种类，来估计未知物质的结构。

公开(公告)号：CN103842809A

公开(公告)日：2014-06-04

申请号：CN201180074026.5

申请日：2011-10-07

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 小泽弘明 ,  山口真一

IPC: G01N27/62

CPC classification number: H01J49/0036 ,  G16C20/20

Abstract: 当估计原物质已知的结构的一部分由于代谢等发生变化而产生的未知物质的结构式时，用子结构的脱离和其它子结构的附加这两个阶段来考虑结构变化。首先，除了收集未知物质的MSn谱和原物质的结构式作为已知信息以外，还收集附加子结构来作为已知信息(S1)。基于根据MSn谱获得的未知物质的质量和附加子结构的质量等来估计子结构从原物质脱离的时刻的结构式(S2)，通过将根据该结构式推测的子结构和附加子结构的组合的质量与MSn谱的各峰值质量进行比较，来估计各产物离子的结构式(S3-S4)。对通过裂解能够生成这些多个产物离子结构式候选的结构进行估计，由此求出未知物质的结构式(S5)。由此，即使未知物质没有被收录于鉴定用数据库、结构变化图案不清楚，也能够以高可靠性估计未知物质的结构式。