一种应用于飞行时间质量分析器的离子衰减装置及方法

    公开(公告)号:CN116525402A

    公开(公告)日:2023-08-01

    申请号:CN202310567770.3

    申请日:2023-05-19

    Applicant: 暨南大学

    Abstract: 本发明公开一种应用于飞行时间质量分析器的离子衰减装置及方法,检测仪器技术领域,装置包括:离子衰减装置设置于飞行时间质量分析器的加速区,离子衰减装置具体包括:第一层栅网、第二层栅网和第三层栅网;第一层栅网、第二层栅网和第三层栅网依次放置;第一层栅网、第二层栅网和第三层栅网均包括多根栅网径丝;第一层栅网的全部的栅网径丝、第三层栅网的全部的栅网径丝和第二层栅网的中间区域的栅网径丝采用第一电压供电;第二层栅网的两侧区域的栅网径丝采用第二电压供电;通过控制采用第二电压供电的第二层栅网的两侧区域的栅网径丝的数量进行衰减率的控制,本发明实现了飞行时间质谱中对离子衰减率的控制。

    一种气溶胶颗粒电离方法、电离系统及质谱分析装置

    公开(公告)号:CN114112818B

    公开(公告)日:2023-05-16

    申请号:CN202111473539.5

    申请日:2021-11-29

    Applicant: 暨南大学

    Abstract: 本发明提供一种气溶胶颗粒电离方法、电离系统及质谱分析装置,气溶胶颗粒电离方法包括:确定多段粒径范围;初始化每段粒径范围的计数为0;开始计时,并对空气中的气溶胶颗粒进行采样,得到颗粒信号;在每个单位采样周期内,根据颗粒信号确定对应气溶胶颗粒的粒径及粒径所属的粒径范围;判断粒径范围的计数是否为1;若粒径范围的计数为1,则继续对空气中的气溶胶颗粒进行采样;若粒径范围的计数为0,则产生电离信号,对气溶胶颗粒进行电离,并将对应的粒径范围的计数置1,继续对空气中的气溶胶颗粒进行采样。通过限定对某一段粒径范围的颗粒打击一次后,不再进行此粒径段的再次打击,提高了对大颗粒和小颗粒的打击概率。

    一种用于提升质谱仪器分辨率的数值分析方法及装置

    公开(公告)号:CN111027228B

    公开(公告)日:2023-03-21

    申请号:CN201911366492.5

    申请日:2019-12-26

    Applicant: 暨南大学

    Abstract: 本发明公开了用于用于提升质谱仪器分辨率的数值分析方法,包括如下步骤:根据预定义的多个电极初始电压值进行离子模拟运动,生成第一分辨率集合;根据第一搜索条件对第一分辨率集合中的极大值变化进行判断,若第一分辨率集合中的极大值发生变化,否则生成第一优解集合,并执行下述;根据第一优解集合对应的多个电极的电压值进行离子模拟运动,生成第二分辨率集合;根据第二搜索条件对第二分辨率集合中的极大值是否变化进行判断,否则生成第二优解集合,其中,所述第二搜索条件的搜索步长小于所述第一搜索条件。能够通过先全局粗查后局部细搜的搜索方式,相比单次搜索其结果更优更准确,对比全局细搜能免去大量不必要的计算,节省时间。

    一种UIO-66@MA金属有机框架材料及其制备方法和应用

    公开(公告)号:CN112608491B

    公开(公告)日:2022-04-15

    申请号:CN202011514367.7

    申请日:2020-12-21

    Applicant: 暨南大学

    Abstract: 本发明提供了一种UIO‑66@MA金属有机框架材料及其制备方法和应用,属于金属有机框架材料技术领域。本发明通过甲胺(MA)对UIO‑66金属有机框架材料进行改性,使得甲胺中的氨基与UIO‑66中的Zr4+发生配位,得到负载甲胺的金属有机框架材料。本发明通过甲胺对UIO‑66金属有机框架材料进行改性,所得得UIO‑66@MA金属有机框架材料对己醛具有良好的选择性荧光检测能力和低检测限,且抗干扰能力强。实施例结果表明,本发明提供的UIO‑66@MA金属有机框架材料对己醛的检测限可以低至0.815×102ppm。

    一种质谱仪器极片清洗装置及清洗质谱仪器极片的方法

    公开(公告)号:CN112676270B

    公开(公告)日:2022-02-08

    申请号:CN202011548548.1

    申请日:2020-12-24

    Applicant: 暨南大学

    Abstract: 本发明提供了一种质谱仪器极片清洗装置,包括微波组件和矩管;所述矩管包括由内向外嵌套设置的内管、中管和外管;所述中管一端的管壁上设有开口;所述微波组件包括电连接的固态微波源和耦合环;所述固态微波源设置于矩管外;所述耦合环设置于所述中管上的开口处。本发明提供的质谱仪器极片清洗装置在使用时在中管和内管中通入放电气体,利用固态微波源驱动微波放电,通过耦合环将微波能传输至中管,中管的放电气体点燃等离子体,与内管的放电气体在矩管的管口形成等离子炬焰,形成的等离子炬焰在极片外部进行烧蚀,利用高温使极片上沉积的电绝缘体涂层在真空中升华而蒸发,在无需破真空取出极片就可以实现质谱仪器极片的清洗,简化了清洗工艺。

    激光能量自动控制方法及装置

    公开(公告)号:CN107546563B

    公开(公告)日:2020-04-21

    申请号:CN201610507372.2

    申请日:2016-06-28

    Abstract: 本发明涉及一种激光能量自动控制方法及装置,其中方法包括以下步骤:获取脉冲式灯泵浦固体激光器输出的平均激光能量值;判断所述平均激光能量值是否在预设激光能量范围内,若否,根据所述平均激光能量值与所述预设激光能量范围调节Flash脉冲信号和Fire脉冲信号之间的脉冲时间间隔,所述Flash脉冲信号用于控制所述脉冲式灯泵浦固体激光器的泵浦灯的触发,所述Fire脉冲信号用于控制所述脉冲式灯泵浦固体激光器的Q开关的触发;根据调节后的Flash脉冲信号和Fire脉冲信号控制所述脉冲式灯泵浦固体激光器输出的激光能量。本发明能够实现对脉冲式灯泵浦脉冲式灯泵浦固体激光器输出的激光能量自动控制和调节,提高脉冲式灯泵浦固体激光器输出的激光能量的稳定性。

    一种单颗粒气溶胶质谱仪的质量精度提高方法

    公开(公告)号:CN110954449A

    公开(公告)日:2020-04-03

    申请号:CN201911388897.9

    申请日:2019-12-30

    Applicant: 暨南大学

    Abstract: 本发明涉及一种单颗粒气溶胶质谱仪的质量精度提高方法,包括:S1,通过统计学中位数的方法对已知颗粒的飞行时间谱进行初级校正;S2,根据初级飞行时间谱校正的结果,确定采样颗粒的种类和对应的特征峰的精确质荷比;S3,根据所述精确质荷比实现单个采样颗粒飞行时间谱的精确校正。本发明通过统计的方法已知颗粒的飞行时间谱进行初级校正,根据初级飞行时间谱校正的结果,确定采样颗粒的种类和对应的特征峰的精确质荷比;进一步可以根据精确质荷比实现单个采样颗粒飞行时间谱的精确校正,可提高质量精度,实现更精细化的质量分辨,提高颗粒成分识别准确性。

    水体中微囊藻毒素的检测方法

    公开(公告)号:CN106501345B

    公开(公告)日:2019-11-19

    申请号:CN201510564172.6

    申请日:2015-09-06

    Abstract: 本发明涉及一种水体中微囊藻毒素的检测方法,所述检测方法为直接分析离子源‑质谱法,包括以下步骤:(1)水样前处理制备待测样品;(2)将待测样品用直接电离源电离;(3)质谱检测已离子化的待测样品。该方法对水样只需要简单的过滤或者过滤加快速烘干的前处理,即可直接检测,提高了检测效率,能够满足实时、快速、原位的检测要求,解决了现有检测技术中样品前处理复杂,难以实时快速检测水体中微囊藻毒素的问题。本发明提供的检测方法可同时进行定性和相对定量分析,可以同时分析多种微囊藻毒素,为实际操作提供了便利性。

    水体中微囊藻毒素的检测方法

    公开(公告)号:CN106501345A

    公开(公告)日:2017-03-15

    申请号:CN201510564172.6

    申请日:2015-09-06

    Abstract: 本发明涉及一种水体中微囊藻毒素的检测方法,所述检测方法为直接分析离子源-质谱法,包括以下步骤:(1)水样前处理制备待测样品;(2)将待测样品用直接电离源电离;(3)质谱检测已离子化的待测样品。该方法对水样只需要简单的过滤或者过滤加快速烘干的前处理,即可直接检测,提高了检测效率,能够满足实时、快速、原位的检测要求,解决了现有检测技术中样品前处理复杂,难以实时快速检测水体中微囊藻毒素的问题。本发明提供的检测方法可同时进行定性和相对定量分析,可以同时分析多种微囊藻毒素,为实际操作提供了便利性。

    一种自动实现大气颗粒物粒径校正的方法及系统

    公开(公告)号:CN104596900A

    公开(公告)日:2015-05-06

    申请号:CN201510007478.1

    申请日:2015-01-05

    Abstract: 本发明公开了一种自动实现大气颗粒物粒径校正的方法及系统,该系统包括获取单元、计算处理单元及替换单元。该方法包括:A、获取当前的进样测量压力;B、根据大气颗粒物的空气动力学直径、飞行时间以及进样测量压力之间的映射关系数学模型,对获取的进样测量压力进行计算处理,从而计算得出一粒径校正曲线;C、将当前的粒径校正曲线替换为步骤B计算得出的粒径校正曲线。通过使用本发明能克服外在环境气压变化所带来的仪器粒径检测结果的误差,使得仪器在气压变化时也能确保数据结果的准确性。本发明可广泛应用于颗粒物粒径检测装置中。

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