检测电路
    31.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108226690B

    公开(公告)日:2021-06-08

    申请号:CN201611193756.8

    申请日:2016-12-21

    Abstract: 本发明提供了一种检测电路,包括:第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第一PNP三极管、第二PNP三极管、第一检测端、第二检测端、电源电压输入端及电源电压输出端,其中,第一PNP三极管的发射极连接电源电压输出端,第一PNP三极管的集电极通过第三电阻接地,并连接第一检测端,第一PNP三极管的基极连接第二PNP三级管的基极,第二PNP三极管的发射极连接第二电阻的一端,第二电阻的另一端连接电源电压输入端,并通过第一电阻连接电源电压输出端,第二PNP三极管的集电极通过第四电阻接地,第二PNP三极管的集电极还连接第一PNP三极管和第二PNP三级管的基极。本发明提供的检测电路低成本、低功耗、检测速度快,且运行稳定可靠。

    用于型号核准LTE终端测试的射频链路切换装置

    公开(公告)号:CN103746759A

    公开(公告)日:2014-04-23

    申请号:CN201410015270.X

    申请日:2014-01-13

    Abstract: 本发明公开了一种用于型号核准LTE终端测试的射频链路切换装置,其中包括:一号箱,其用于测试指标的功能性链路搭建,其中包括至少一个同轴开关,衰减器,功分器,环形器,单向器以及阻抗匹配电阻;二号箱,其用于对信号进行滤波和衰减处理;其中信号经由所述一号箱的相关链路处理后,进入所述二号箱,根据测试指标和测试项的不同要求,选择相应的滤波器和衰减器进行滤波和衰减处理,再将处理过后的所述信号返回到所述一号箱继续进行链路传播。本发明所公开的射频链路切换装置能够将所有型号核准终端指标的测试链路进行系统集成,提高测试准确度和测试效率的同时保护仪表不受损,并且增强了对未来型号核准LTE终端测试的可扩展性。

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