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公开(公告)号：CN119666848A
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202411660653.2
申请日：2024-11-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于圆偏振调制的近临界CO2介质增强光热显微成像方法，它涉及一种近临界CO2介质增强光热显微成像方法。本发明为了解决目前光热显微成像技术信号微弱，无法分离出被测物体的光热数据信号与检测过程中的噪声信号的问题。本发明基于圆偏振调制的近临界CO2介质增强光热显微成像方法融合热透镜特性机制、光热信号调制、远场显微成像、多源信号解混与特征提取、图像反卷积、深度学习等多方面技术领域，可实现针对复合材料、纳米材料、金属材料以及高分子聚合物浅表层缺陷的强信号高对比度光热显微成像。本发明属于光热科学与探测及信号处理技术领域。
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公开(公告)号：CN119619014A
公开(公告)日：2025-03-14
申请号：CN202411731050.7
申请日：2024-11-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提出了一种基于左、右旋偏振调制的Fe3O4纳米颗粒显微成像检测方法，属于光热科学与探测及信号处理技术领域，解决了目前纳米单颗粒难以观测、物理化学特性获取难度大的问题，具体包括：明确待检测样品，制备玻片样品；开启计算机、数据采集卡、锁相放大器、振镜控制器和函数发生器；开启激发光、探测光激光器电源以及制冷器；设置检测参数，设置激光功率/电流参数，设置调制参数，对检测样件进行扫描检测；加载磁场；计算机从数据采集卡中读取信号得到光热检测结果图像；改变不同的激光参数和磁场大小，重复上述步骤，获得圆二色、磁圆二色检测结果，进行磁化曲线测量以及对单纳米颗粒磁矩翻转过程监测。
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公开(公告)号：CN119574632A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411731367.0
申请日：2024-11-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N25/72
Abstract: 本发明提出基于特征迭代的阵列热流横向热流扩散抑制装置及方法，属于无损检测技术领域，解决了目前主动式红外热波成像检测中存在横向热流扩散的问题，其中抑制装置包括：计算机、USB数据线、数据采集卡、第一BNC数据线、激光器电源、激光器电源线、TEC制冷器电源线、激光器、TEC制冷器、光纤集束、准直镜、第一偏振片、样件、夹持架、移动台、运动驱动线、移动台控制器、运动控制线、滤波片、第一固定支座、第二偏振片、第二固定支座、磁力座、红外热像仪、以太网线、第二BNC数据线、第三固定支座、第四固定支座、第三BNC数据线、温控反馈系统。
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公开(公告)号：CN119534407A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411480000.6
申请日：2024-10-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/63 , G01N21/71 , G01N21/88 , G01N21/01 , G01B11/24 , G06T17/00 , G06N3/0475 , G06N3/045 , G06N3/094
Abstract: 本发明涉及基于循环生成对抗神经网络的光热显微成像系统及方法，属于光热科学与探测及信号处理技术领域。包括反射镜、套筒透镜、第一玻片、扫描透镜、平台、振镜控制器、二向色镜、偏振立方、反射镜组、第二玻片、第三玻片、空间光滤波器、声光调制器、第一滤光片、偏振立方、第四玻片、激发光光源、偏振立方、空间光滤波器、第二滤光片、探测光光源和光热显微成像系统。本发明充分利用热流的三维扩散，通过改变热流的不同空间波动状态，从二维角度对缺陷进行精准重构，提高了检测深度与检测效率，同时可实现材料量化表征与几何结构的三维层析重建，其中针对实现针对复合材料、金属材料以及高分子聚合物浅表层缺陷的高效精准检测与三维特征重构。
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公开(公告)号：CN117349647A
公开(公告)日：2024-01-05
申请号：CN202311156985.2
申请日：2023-09-08
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F18/213 , G01N21/84 , G01N21/88 , G01N25/72 , G06F18/27 , G06F18/21 , G06F123/02
Abstract: 本发明提出一种巴克编码变脉宽调制热源诱导热波信号的修正时序趋势分解特征提取方法，本发明中提出使用时间序列长记忆ARFIMA模型，去掉记忆项对于热信号的影响，将特征深入挖掘出来并使其显示出来，加强有缺陷区域和无缺陷区域的对比性，提高无损检测的对比度和准确性。能够实现针对复合材料、金属材料、生物材料以及高分子聚合物浅表层缺陷的高效与高分辨成像检测，对直径/深度比＞1.5，直径大于2mm的缺陷信噪比＞2，检测深度分辨率提高到20μm，同时可实现亚像素级分辨。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107612505B
公开(公告)日：2019-02-05
申请号：CN201710851139.0
申请日：2017-09-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: H02S50/15
Abstract: 本发明公开了一种一种太阳能电池及光伏组件的串联电阻成像检测方法与系统，所述检测系统包括近红外相机、数据采集卡、计算机、三维移动台、带通滤波片、激光器、光束整形扩束装置、无感电阻和继电器。为了克服传统光致发光方法检测工序复杂、检测时间长、信噪比低及暗室下操作带来的不足，本发明结合光致发光与锁相原理对太阳能电池及光伏组件进行串联电阻成像检测，不需要单独的短路状态成像，相比传统光致发光方法减少一道检测工序，同时利用锁相算法，具有信噪比高、无损伤、直观、探测面积大及效率高等优势，不受环境影响，白天自然光和夜晚均可对太阳能电池及光伏组件的串联电池成像进行检测，因此，在光伏领域具有潜在的应用前景。
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公开(公告)号：CN108445012A
公开(公告)日：2018-08-24
申请号：CN201810231065.5
申请日：2018-03-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/88
CPC classification number: G01N21/8851 , G01N2021/888 , G01N2021/8887
Abstract: 本发明公开了一种太阳能电池微缺陷的锁相热成像层析表征系统与方法，所述系统包括短波红外相机、中波红外相机、数据采集卡、计算机、三维移动台、金属样件台、样件夹持装置和直流电源，所述计算机控制数据采集卡控制直流电源触发并对样件进行幅值调制变化，同时控制数据采集卡控制短波红外相机和中波红外相机进行同步触发采集图像序列；短波红外相机采集的图像传送至计算机，得到样件的缺陷横向分布及定位；中波红外相机采集的图像传送至计算机，得到该频率下的幅值图和相位图，通过改变频率得到不同频率的幅值与相位图，利用锁相热成像层析软件得到样件的深度层析结果。本发明是一种快速、大面积、直观及准确的红外热波无损检测新方法。
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公开(公告)号：CN107612505A
公开(公告)日：2018-01-19
申请号：CN201710851139.0
申请日：2017-09-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: H02S50/15
Abstract: 本发明公开了一种太阳能电池及光伏组件的串联电阻成像检测方法与系统，所述检测系统包括近红外相机、数据采集卡、计算机、三维移动台、带通滤波片、激光器、光束整形扩束装置、无感电阻和继电器。为了克服传统光致发光方法检测工序复杂、检测时间长、信噪比低及暗室下操作带来的不足，本发明结合光致发光与锁相原理对太阳能电池及光伏组件进行串联电阻成像检测，不需要单独的短路状态成像，相比传统光致发光方法减少一道检测工序，同时利用锁相算法，具有信噪比高、无损伤、直观、探测面积大及效率高等优势，不受环境影响，白天自然光和夜晚均可对太阳能电池及光伏组件的串联电池成像进行检测，因此，在光伏领域具有潜在的应用前景。
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公开(公告)号：CN106940332A
公开(公告)日：2017-07-11
申请号：CN201710207440.8
申请日：2017-03-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N25/72
CPC classification number: G01N25/72
Abstract: 一种基于相位编码调制方式的红外无损检测系统及方法，属于无损检测技术领域。所述系统包括第一激光准直镜、第一光纤、第一808nm激光器、第一激光器电源线、第一激光器电源、第一BNC数据线、计算机、USB数据线、数据采集卡、第二BNC数据线、BNC触发信号线、以太网线、红外热像仪、垂直升降台、第二激光器电源、第二激光器电源线、第二808nm激光器、第二光纤、第二激光准直镜、三维移动台。本发明的优点是：可以实现复合材料、金属材料及树脂材料表层及浅表层缺陷的无损伤、非接触、高效检测，同时不受检测试件尺寸限制；极大地提高了表层及浅表层缺陷检测信噪比，精度较高。
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公开(公告)号：CN103901335B
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201410162716.1
申请日：2014-04-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/265
Abstract: 本发明公开了一种半导体少数载流子寿命分布的红外偏振光学成像检测方法与系统。所述方法由短波焦平面红外相机采集少数载流子辐射复合偏振发光图像序列、激光光源偏振激励、少数载流子辐射复合偏振发光信号处理与图像分析三个步骤组成；所述系统包括激光偏振激励装置、NI数据采集卡、短波焦平面红外相机及计算机。本发明应用红外偏振成像技术和数字信号处理技术得到调制偏振光诱发半导体材料的少数载流子辐射复合偏振光的频域响应特性，利用少数载流子辐射复合偏振发光频响特性分析得到少数载流子寿命，这是一种快速、准确获取少数载流子寿命分布的无损检测方法。
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