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公开(公告)号：CN104181128B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201410418533.1
申请日：2014-08-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/47
Abstract: 基于时间相关单光子计数技术的半透明材料辐射物性测量方法，涉及材料物性测量技术领域。它是为了解决传统辐射物性参数的测量物件测量过程中存在信噪比低、动态范围小的问题。本发明可以同时测量多个辐射物性，稳定性同比提高了20％，可用于航空航天、生物医疗、燃烧诊断、光学探测及无损探伤等工程领域。时间相关单光子计数技术是一种具有高时间分辨率可用于极微弱光信号探测的技术，单光子计数器具有受探测器不稳定因素的影响小、信噪比高、动态范围宽、设备便宜以及可以输出数字信号便于数据处理等优点。本发明适用于材料物性测量技术领域。
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公开(公告)号：CN103411905B
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201310369795.9
申请日：2013-08-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于短脉冲激光辐照及多信息逆问题求解算法的参与性介质辐射特性测量方法，它涉及一种基于短脉冲激光辐照及多信息逆问题求解算法的参与性介质辐射特性测量方法，本发明是要解决现有基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中，实验测量信息量不足和测量结果误差较大的问题。本发明方法通过如下步骤来实现：一、获得试件的时域半球反射信号曲线R(t)；二、获得试件在N组工况下的时域半球反射信号曲线Ri,mea(t)；三、获得计算域内的辐射强度场；四、获得试件x=0左侧边界上的时域半球反射信号的估计值Ri,est(t)；五、获得逆问题算法中的目标函数值Fobj；六、获得待测介质的吸收系数κa和待测介质的散射系数κs。本发明可应用于参与性介质辐射物性测量技术领域。
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公开(公告)号：CN103389272B
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201310331875.5
申请日：2013-08-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于脉冲激光的半透明介质衰减系数和散射反照率的快速测量方法，属于半透明介质辐射物性测量技术领域。本发明解决了基于逆问题求解的半透明介质辐射测量方法测量速度缓慢的问题，本发明向半透明待测试件的一侧表面涂覆上黑度涂层，利用高斯脉冲激光光束垂直入射到试件无涂层的一侧表面，采用单光子计数器测量半透明介质时域半球反射信号；设定待测介质的衰减系数β和待测介质的散射反照率ω的值，时域半球反射信号的估计值与用单光子计数器测量半透明介质的时域半球反射信号做最小二乘差值；判断该差值是否小于阈值，若是将设定的待测介质的衰减系数β和待测介质的散射反照率ω作为结果。本发明适用于半透明介质辐射物性测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103454244B
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201310412799.0
申请日：2013-09-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于多频调制激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法，属于半透明介质辐射特性测量技术领域。本发明为了解决半透明介质辐射特性测量中，单次测量信息的测量结果误差较大的问题。它基于多频调制激光辐照技术，利用多频调制激光照射具有一定黑度涂层的半透明介质表面，通过改变激光调制频率、激光入射角度、试件厚度及试件涂层黑度来获得多组边界处的频域半球反射信号，基于这些反射信号结合逆问题求解技术获得半透明介质的辐射物性参数。本发明用于测量半透明介质辐射特性。
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公开(公告)号：CN104181128A
公开(公告)日：2014-12-03
申请号：CN201410418533.1
申请日：2014-08-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/47
Abstract: 基于时间相关单光子计数技术的半透明材料辐射物性测量方法，涉及材料物性测量技术领域。它是为了解决传统辐射物性参数的测量物件测量过程中存在信噪比低、动态范围小的问题。本发明可以同时测量多个辐射物性，稳定性同比提高了20％，可用于航空航天、生物医疗、燃烧诊断、光学探测及无损探伤等工程领域。时间相关单光子计数技术是一种具有高时间分辨率可用于极微弱光信号探测的技术，单光子计数器具有受探测器不稳定因素的影响小、信噪比高、动态范围宽、设备便宜以及可以输出数字信号便于数据处理等优点。本发明适用于材料物性测量技术领域。
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公开(公告)号：CN103411905A
公开(公告)日：2013-11-27
申请号：CN201310369795.9
申请日：2013-08-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于短脉冲激光辐照及多信息逆问题求解算法的参与性介质辐射特性测量方法，它涉及一种基于短脉冲激光辐照及多信息逆问题求解算法的参与性介质辐射特性测量方法，本发明是要解决现有基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中，实验测量信息量不足和测量结果误差较大的问题。本发明方法通过如下步骤来实现：一、获得试件的时域半球反射信号曲线R(t)；二、获得试件在N组工况下的时域半球反射信号曲线Ri,mea(t)；三、获得计算域内的辐射强度场；四、获得试件x=0左侧边界上的时域半球反射信号的估计值Ri,est(t)；五、获得逆问题算法中的目标函数值Fobj；六、获得待测介质的吸收系数κa和待测介质的散射系数κs。本发明可应用于参与性介质辐射物性测量技术领域。
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公开(公告)号：CN103389272A
公开(公告)日：2013-11-13
申请号：CN201310331875.5
申请日：2013-08-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于脉冲激光的半透明介质衰减系数和散射反照率的快速测量方法，属于半透明介质辐射物性测量技术领域。本发明解决了基于逆问题求解的半透明介质辐射测量方法测量速度缓慢的问题，本发明向半透明待测试件的一侧表面涂覆上黑度涂层，利用高斯脉冲激光光束垂直入射到试件无涂层的一侧表面，采用单光子计数器测量半透明介质时域半球反射信号；设定待测介质的衰减系数β和待测介质的散射反照率ω的值，时域半球反射信号的估计值与用单光子计数器测量半透明介质的时域半球反射信号做最小二乘差值；判断该差值是否小于阈值，若是将设定的待测介质的衰减系数β和待测介质的散射反照率ω作为结果。本发明适用于半透明介质辐射物性测量。
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公开(公告)号：CN102353478A
公开(公告)日：2012-02-15
申请号：CN201110304148.0
申请日：2011-10-10
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01K15/00
Abstract: 半透明介质环境下非接触测温的校正方法，属于高温测量技术领域。它解决了被测物体表面处于半透明介质覆盖的环境下时，采用传统方法探测到的辐射能量不能通过传统的材料表面发射率修正方法进行修正得到其真实温度的问题。首先判断半透明介质与被测材料表面是否接触，若接触，选择一维耦合换热模型，采用有限体积法进行正向模型的计算，得到测温设备能够获得的理论辐射能量值；若不接触，选择一维纯辐射换热模型，采用有限体积法进行正向模型的计算，得到测温设备能够获得的理论辐射能量值；然后测量被测材料表面的实际辐射能量值；采用智能微粒群优化算法反演被测材料表面的真实温度值。本发明适用于半透明介质环境下被测材料表面的温度测量。
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