一种芯粒间TSV测试电路及测试方法

    公开(公告)号:CN117517932A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202311844340.8

    申请日:2023-12-29

    Abstract: 本发明属于超大规模集成电路可测性设计领域,公开了一种芯粒间TSV测试电路及测试方法,通过芯粒测试配置电路配置测试路径、测试指令和读写数据寄存器;通过读写数据寄存器组接收测试向量和捕获测试响应;通过TSV阵列测试控制电路控制TSV测试的初始化、测试、捕获操作;通过地址解码电路选择TSV阵列中的待测行;通过测试向量生成电路生成测试TSV所需的测试向量;通过比较电路判断测试TSV是否存在故障;通过TSV接收阵列和TSV发送阵列控制测试向量在TSV上的发送与测试响应的接收。本发明所提出的测试电路满足芯粒间TSV的测试需求,减少了硬件面积的占用,测试过程高度自动化,芯粒测试成本下降。

    一种基于灵活可配置模块的芯粒测试电路

    公开(公告)号:CN115295065B

    公开(公告)日:2022-12-13

    申请号:CN202211224306.6

    申请日:2022-10-09

    Abstract: 本发明涉及超大规模集成电路可测性设计领域,公开了一种基于灵活可配置模块的芯粒测试电路,电路核心结构位于中介层,包括灵活可配置模块FCM、控制信号配置模块和测试状态控制模块;FCM采用双路斜对称结构,实现水平方向及垂直方向的数据传输;控制信号配置模块连接所有FCM的控制信号,控制着所有FCM的数据传输方向以及导通和截断状态;测试状态控制模块控制着FCM和控制信号配置模块内部数据的移位和更新操作。本发明可满足多种场景芯粒的测试需求,实现对原有DFT测试逻辑的复用,满足芯粒即插即用的策略,提升测试的灵活性和可控性。

    基于多阶桥接电容阵列的数控振荡器

    公开(公告)号:CN110212914B

    公开(公告)日:2022-10-18

    申请号:CN201910653701.8

    申请日:2019-07-18

    Abstract: 本发明提供一种基于多阶桥接电容阵列的数控振荡器,包括负阻模块、电感L和多阶桥接电容阵列,负阻模块包括PMOS晶体管Mp和NMOS晶体管Mn,负阻模块的正端口连接电感L的上端,负阻模块的负端口接电感L的下端;负阻模块的正端口分别接PMOS晶体管Mp的栅极与NMOS晶体管Mn的漏极,负阻模块的负端口分别接PMOS晶体管Mp的漏极与NMOS晶体管Mn的栅极;PMOS晶体管Mp的源极接电源,NMOS晶体管Mn的源极接地;电感L与多阶桥接电容阵列并联;本发明通过改变振荡器开关电容调谐模块的结构,在原来频率分辨率的基础上,使得频率分辨率提高为原来的几百倍,从而获得更高精度的频率分辨率,同时具有较高的线性度、频率稳定度。

    一种具有三维横向变掺杂的半导体器件耐压层

    公开(公告)号:CN108054194B

    公开(公告)日:2020-09-22

    申请号:CN201711234307.8

    申请日:2017-11-30

    Abstract: 本发明公开了一种具有三维横向变掺杂的半导体器件耐压层,该耐压层在半导体器件的半导体衬底或埋氧层的上表面外延形成,及所述耐压层具有三维横向变掺杂并且在以P+或N+为中心的曲率结构中掺杂浓度为非线性分布。所述耐压层采用叉指状版图或跑道形版图或圆形版图;所述耐压层采用硅或碳化硅、砷化镓、磷化铟、锗硅材料制作;本发明的耐压层能够按照标准的CMOS工艺制备,因此该工艺是一个与标准CMOS工艺完全兼容的工艺方案,工艺制备简单,成本低廉,可以有效抑制版图所带来的三维曲率效应,从而大大增强实际器件的耐压能力。

    一种采用动态阈值技术的时间数字转换器

    公开(公告)号:CN109884873A

    公开(公告)日:2019-06-14

    申请号:CN201810366965.0

    申请日:2018-04-23

    Abstract: 本发明涉及一种采用动态阈值技术的时间数字转换器,适用于近阈值电源电压环境下,包括游尺延迟线TDC电路和编码器电路,其中游尺延迟线TDC电路判别START和STOP信号的时间差,并以二进制的形式输出相应的结果。由于采用较低的电源电压,晶体管的过驱动电压不足,电路工作的电流会减小,因此游尺延迟线TDC的工作时间将大幅度的延长。本发明采用动态阈值技术,将晶体管的衬底与栅端相连,这样衬底的电位会随着栅电压的变化而变化,晶体管的阈值电压会大幅度降低,源漏电流也会增加,也能最大程度地避免泄露电流的产生,提高了电路的速度和可靠性。

    一种用于成像辐射计的扫描平台

    公开(公告)号:CN108758189A

    公开(公告)日:2018-11-06

    申请号:CN201711483582.3

    申请日:2017-12-29

    Abstract: 本发明公开一种用于成像辐射计的扫描平台,包括T字形支架;第一直线位移机构,第二直线位移机构,油泵,连通所述直线位移机构和一油箱;控制器,其连接所述直线位移机构和油泵;以及上位机,其与所述控制器通过串口进行通信,所述上位机上设置有显示装置;所述直线位移机构包括:驱动机构,第一导轨,第一滑块,其滑动设置在所述第一导轨内,第二导轨,其设置在所述第一导轨上端,第二滑块,其滑动设置在所述第二导轨内,第三滑块,其连接在所述第二滑块上端,测距模块,其中,油泵通过一电磁阀与所述第二导轨的内部端头空间连通,所述电磁阀上设置有一流量计。本发明解决了扫面平台上滑台移动距离不精确的技术问题。

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