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公开(公告)号：CN106841113A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201710005035.8
申请日：2017-01-04
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明公开了一种太赫兹频段同步测量材料透波反射特性的方法和装置，包括：设置透射探测光路和反射探测光路；放置参考样板，使得太赫兹脉冲波以45°入射到参考样板，被参考样板反射的太赫兹脉冲波输出至反射探测光路中的第二探测器，得第二参考信号；撤去参考样板，太赫兹脉冲波直接输出至透射探测光路中的第一探测器，得第一参考信号；放置待测材料板，使得太赫兹脉冲波以45°入射到待测材料板，第一、二探测器分别得到透射信号和反射信号；根据得到的四个信号，计算得到待测材料板的透射系数、反射系数和所需的电磁参数。使用本发明的方法和装置，可在同一太赫兹脉冲下同步完成同一样品的反射系数、透射系数的同步测量与数据采集。
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公开(公告)号：CN104251838B
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201410429717.8
申请日：2014-08-27
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/3586 , G06F17/30
Abstract: 本发明公开了一种违禁物品检测方法和装置，所述方法包括：将被测物放置于太赫兹光路中，测量被测物的太赫兹时域波形数据；对太赫兹时域波形数据进行快速傅里叶变换，得到被测物的太赫兹频域波形数据；根据被测物的太赫兹频域波形数据以及参考太赫兹频域波形数据，计算出被测物的吸收谱数据；将被测物的吸收谱数据与数据库中预先存储的各种违禁物品的标准品的特征峰数据进行比较，判断被测物是否为其中一种违禁物品；违禁物品的标准品的特征峰数据具体是从该标准品的吸收谱数据的各波峰中选取的波峰的数据。本发明的技术方案中，根据被测物的吸收谱数据与各种违禁物品的标准品的特征峰数据的对比结果，可以更为准确地判断出被测物是否为违禁物品。
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公开(公告)号：CN104515908A
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：CN201410757444.X
申请日：2014-12-10
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明提供了一种超宽带目标电磁散射特性测试系统和方法。本发明中，通过工作在第一频段上的第一组馈源固定在能够自动切换馈源的支架上以连续切换馈源发出2～27GHz的平面波以先对转台上的定标体进行测量，并接收反射回波数据；然后在定标体的位置换上目标物体仍进行2～27GHz测量；测试完毕后，保持目标物体不动，通过工作在第二频段上的第二组馈源发出27～40GHz的平面波以对转台上的目标物体进行测量，并接收反射回波数据；然后在目标物体的位置放置之前的定标体，并通过第二频段进行定标测试，接收定标反射回波数据。通过以上测试数据，结合数据拼接技术，可获得目标物体的超宽带目标电磁散射特性。
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公开(公告)号：CN104316488A
公开(公告)日：2015-01-28
申请号：CN201410522061.4
申请日：2014-09-30
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/3581 , G01N21/3586
Abstract: 本发明公开了一种违禁物品检测方法和装置，包括：采集设定含量的待检物品的吸收谱数据；对于每种干扰样本，确定出预先设定的各种含量占比的该干扰样本的吸收谱数据；对于每种干扰样本，针对预先设定的每种含量占比，根据该含量占比的该干扰样本的吸收谱数据对采集的待检物品的吸收谱数据进行解谱，得到待检物品在该含量占比的该干扰样本下的去干扰吸收谱数据；对于每种违禁物品，针对预先设定的每种含量占比，将待检物品在该含量占比的该干扰样本下的去干扰吸收谱数据与设定含量的该种违禁物品的标准品的吸收谱数据进行比对，根据比对结果判断所述待检物品是否为该种违禁物品。应用本发明，可以检测出包含有干扰物的待检物品是否为违禁物品。
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公开(公告)号：CN115499991B
公开(公告)日：2025-04-18
申请号：CN202211252315.6
申请日：2022-10-13
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及电离度计算技术领域，特别涉及一种电感耦合等离子体电离度的测量校准方法和装置。方法包括：获取利用激光汤姆孙散射测量系统测得的待计算ICP发生器的第一管口气压和第一电子密度分布；基于验证好的ICP发生器的仿真模型、第一管口气压、第一电子密度分布和电子密度最大值，对ICP发生器进行气压校准，以得到ICP发生器内电子密度最大值处的第一真实气压；基于第一电子密度分布和第一真实气压，计算ICP发生器内的第一电离度；基于仿真模型和第一真实气压，对ICP发生器的等离子体反应过程进行仿真，得到ICP发生器内的第二电离度；利用第二电离度对第一电离度进行验证。本方案可以准确测量并校准电感耦合等离子体发生器内各个位置处的等离子体电离度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119534323A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411705902.5
申请日：2024-11-26
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/01 , G01N21/17 , G01N21/3586 , G01N21/55
Abstract: 本发明涉及一种太赫兹时域光谱BRDF测量系统及方法，系统的发射天线和接收天线分别用于发射太赫兹波和接收太赫兹波回波，六轴式机械臂用于支撑并调节待测材料的测试角度，第一离轴抛物面镜相对发射天线固定，用于将发射天线出射的太赫兹波转换为平行波束照射到待测材料，第二离轴抛物面镜相对接收天线固定，且能够围绕六轴式机械臂发生圆周运动，用于将待测材料反射的太赫兹波回波反射至接收天线，控制器用于采集待测材料的半球空间角度的太赫兹波的回波信号，通过处理分析得到待测材料的双向反射分布函数。该测量系统通过简单的结构，实现待测材料的半球空间角度的太赫兹波回波信号采集，进而实现待测材料的双向反射分布函数。测量方法操作方便。
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公开(公告)号：CN119399374A
公开(公告)日：2025-02-07
申请号：CN202411500058.2
申请日：2024-10-25
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明提供了一种随机介质内的单像素三维非侵入式成像方法及装置，涉及计算机成像技术领域，其中方法包括：利用垂直于光扩散方向的虚拟聚焦扫描面对待成像目标进行划分，得到多个垂直平面；根据随机介质中每个垂直平面与激光入射平面的深度距离，对所有垂直平面的点扩展函数的参数均进行自标定处理；根据自标定结果建立单像素共聚焦探测模式下的激光传播模型；利用所述激光传播模型对待成像目标进行计算，得到待成像目标的反射率的三维空间分布。本方案能够对浸没在随机介质中的立体物体进行非侵入的，自定标的高效成像。
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公开(公告)号：CN115728242B
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202211485933.5
申请日：2022-11-24
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/03 , G01N21/55 , G01N21/3581 , G01N21/3586
Abstract: 本发明涉及等离子体技术领域，尤其涉及一种太赫兹全频段等离子体包覆对材料反射率影响的测定方法。该方法将测量光路设置在单独的封闭盒体内，避免等离子体对其他检测设备的污染，提高检测准确度。通过将不同波段的太赫兹波能量聚集、反射以及收集，并通过获得相应波段等离子体包覆对样品反射率的影响系数，通过频段拼接的方式获得太赫兹全频段的测量数据，确定太赫兹全频段等离子体包覆对材料反射率影响，为后续等离子体包覆相关领域的各项研究提供一种新的方式。
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公开(公告)号：CN117387760A
公开(公告)日：2024-01-12
申请号：CN202311328353.X
申请日：2023-10-13
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种有补偿光路的太赫兹时域光谱紧缩场测量系统，涉及光学设备领域，包括产生路和探测路，产生路和探测路均采用一个光线耦合激光器，光线耦合激光器将激光发射到产生路里的发射天线以及探测路的接收天线，产生路产生的紧缩场光路以及探测路发出的激光均到达接收天线，在产生路或探测路布置有补偿光路，补偿光路包括耦合器和收集器，收集器接收耦合器发出的激光，耦合器与收集器间隔布置以使激光在自由空间中传输，本发明具有解决了光纤耦合太赫兹时域光谱紧缩场测量系统中的色散、长光程差光路补偿等系统技术难题，可作为此类紧缩场系统设置的规范的优点。
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公开(公告)号：CN113993264B
公开(公告)日：2023-11-14
申请号：CN202111303436.4
申请日：2021-11-05
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: H05H1/28
Abstract: 本申请涉及换热技术领域，尤其涉及一种等离子体炬及其冷却方法。该等离子体炬包括等离子体炬本体和冷却组件，其中，等离子体炬本体包括喷头、钨针、内壳和外壳，喷头和钨针的极性相反，钨针设置于内壳内，内壳设置于外壳内，钨针和内壳之间形成气腔，内壳和外壳之间形成冷却腔，外壳上设置有进液管和出液管，进液管和出液管分别与冷却腔连通；冷却组件设置于冷却腔内，用于改变液体在冷却腔内的流向，以增加液体在冷却腔内的流程。本申请提供的等离子体炬换热效果好，管壁不易超温，工作状态稳定，可连续工作，使用寿命长。
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