公开(公告)号：CN107689872A

公开(公告)日：2018-02-13

申请号：CN201711186623.2

申请日：2017-11-24

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 刘戬

IPC: H04L9/32

Abstract: 本发明提出一种实现物理不可克隆功能(PUF)的电路结构，用以实现物理不可克隆功能(PUF)。利用在芯片划片过程中，划片刀通过划片线中心线存在偏差的原理，使放置在划片线不同位置的一组或多组熔丝(fuse)，被概率性的全部或部分划断。使被划断和没被划断的fuse中传递的信号，呈现不同的信号状态，通过信号识别单元识别这些状态，输出物理不可克隆功能(PUF)的数据结果。

公开(公告)号：CN102967818B

公开(公告)日：2015-07-01

申请号：CN201110257207.3

申请日：2011-08-31

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 刘戬 ,  袁永峰 ,  陈波涛

IPC: G06F21/55

Abstract: 本发明提出了一种故障检测器。在高安全性智能卡应用中，此故障检测器用于检测多种外部攻击对智能卡内部数据的修改，并激发相应保护措施，从而保证智能卡工作在安全可靠的状态。