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公开(公告)号：CN1560605A
公开(公告)日：2005-01-05
申请号：CN200410016480.7
申请日：2004-02-23
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01N21/45
Abstract: 一种测试散射体光学特性的飞秒干涉仪，其特点是它包括飞秒激光器、一个分束器、一个由多块反射镜组成的光学延迟线、第一全反射镜、第二全反射镜、第三全反射镜、半透半反射镜、一个样品室，一个探测器和一台计算器，各元部件的位置关系如下：在飞秒钛宝石激光器的激光输出光路上安置分束器，获得两束输出光束(A，B)。A光束经第二反射镜、光学延迟线、第三反射镜和半透半反射镜进入探测器；而B束光经第一反射镜反射进入样品中，再被半透半反射镜反射进入到探测器，和A光束相遇重叠并干涉，形成全息图，这个全息图形经探测器数字化后送入计算机。本发明可精确地、高分辨率地给出强散射体的光学特性，将为生物医学提供一个有力工具和研究方法。
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公开(公告)号：CN100526867C
公开(公告)日：2009-08-12
申请号：CN200410067780.8
申请日：2004-11-03
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01N23/083 , G01N23/04 , H05G1/02
Abstract: 一种时间分辨光电子放大X射线显微镜，由飞秒激光系统、分束器、反射镜、光阴极X射线二极管、光学延迟线、凹面反射镜、凹面聚焦单晶体、光电子放大系统和计算机组成。本发明利用X射线穿透性强来探测样品，又把样品的图像变成光电子再放大，省去了显微定影过程，它兼备了X射线和电子束各自的优点，而摒弃了各自的缺点，能实时地高放大倍率地显示图像。
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公开(公告)号：CN100491990C
公开(公告)日：2009-05-27
申请号：CN200410052912.X
申请日：2004-07-16
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01N23/083 , G01N23/00 , G06F19/00
Abstract: 一种X射线复折射率中位相因子δ的测定方法，其特征在于包括以下三个步骤：①.用一个矩形axb的准平行的X射线束照明待测的位相物体，在位相物体后面，探测器要紧贴在位相物体后面，测量X射线束的光强分布I(x，y)，即位相分布φ(x，y)；②.将φ(x，y)代入公式(30)，即可求得复折射率n(x，y，z)：φ(x，y)＝2π/λ∫[n(x，y，z)-1]dz③.根据复折射率n(x，y，z)，求得δ：δ＝1-n(x，y，z)。本发明给出了用实验方法求取待测物的位相分布，再从位相分布求取位相因子δ，是一项具有重要意义的原创性的工作。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100491987C
公开(公告)日：2009-05-27
申请号：CN200510025559.0
申请日：2005-04-29
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01N23/00
Abstract: 一种超快时间分辨X射线谱仪，包括飞秒激光器，其特征是在所述的飞秒激光器的激光输出光路上安置一分束器，该分束器的反射光经由光学延迟线到达样品，构成对样品的作用光束，在该分束器的透射光经全反射镜入射在光阴极X射线二极管上，该光阴极X射线二极管产生的X射线入射到样品上，探测作用光束产生瞬态结构变化的过程，然后入射在硅单晶上，产生的光谱色散被探测器接收，显示在计算机上。本发明可用来研究待测样品的瞬态结构变化导致的光谱变化。
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公开(公告)号：CN100464181C
公开(公告)日：2009-02-25
申请号：CN200510024989.0
申请日：2005-04-08
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01N23/205 , G01N23/20
Abstract: 一种用羽毛检测X射线源相干性的方法，其特征在于包括下列步骤：①建立X射线衍射增强成像的装置：由按X射线源的X射线的前进方向依次设置的单色器晶体、样品台、分析晶体和记录介质组成；②将天然羽毛置于所述的样品台上；③打开X射线源，记录介质上即记录下天然羽毛衍射增强成像的图像；④对记录了图像的记录介质进行显影、定影、吹干；⑤对记录介质上的图像进行分析，对所述的X射线源的相干性进行评价。本发明利用天然鸟毛，成本低，方法简易方便，还可进行定量测量。
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公开(公告)号：CN100464180C
公开(公告)日：2009-02-25
申请号：CN200410093023.8
申请日：2004-12-15
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种分振幅离轴X射线全息装置，其特征在于它包括准单色X射线源、光栅、第一反射镜、第二反射镜、X射线波带片、和记录介质，各元件的关系如下：在准单色X射线源的输出光路上安置一光栅，将X射线分成A光束和B光束，A光束经第一反射镜反射作为参考束，B光束经第二反射镜反射通过一待测物体作为物束与作为参考束的A束相遇，再经X射线波带片后被记录介质记录。本发明具有离轴式全息的一切优点。
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公开(公告)号：CN100398981C
公开(公告)日：2008-07-02
申请号：CN200510023203.3
申请日：2005-01-10
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种X射线散斑装置及其在微位移测量中的应用，所述的X射线散斑装置包括X射线散斑成像装置和读出装置两部分，所述的X射线散斑成像装置由X射线源、待测物、微波带片和记录介质组成，所述的的待测物置于X射线源输出的光路上，该待测物的法线与X射线光轴成一夹角θ，所述的微波带片和记录介质与待测物的法线同轴，所述的读出装置由同轴放置的He-Ne激光器、记录有散斑图样的照片和成像屏组成。本发明的X射线散斑装置工作在X射线波段，测试精度较可见光要高3～4数量级，由于采用微波带片预放大，结构非常简单，具有很高的学术价值和应用前景，将填补微位移测量的空白。
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公开(公告)号：CN100373146C
公开(公告)日：2008-03-05
申请号：CN200510031028.2
申请日：2005-10-21
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种隔震装置随机振动的精密检测方法，包括以下步骤：①在待检测的隔震装置上，搭建一干涉仪；②在所述的干涉仪上用一架数码相机拍摄一张系统干涉图，③经过一个时间间隔后，再拍摄另一张系统的数字干涉图；④将两张数字干涉图读入到计算机中去，经过傅里叶变换，在频谱空间获得分离的一级衍射项及其共轭项，用数字滤波方法取出一级衍射项或其共轭项，再经傅利叶逆变换即可得到两张干涉图的位相信息；⑤将取出的两个位相分布进行数字相减，即可获得隔震装置随机振动的位相差分布图；⑥再用数字位相差放大法进行放大，获得放大了的位相差分布图，对于放大N倍的条纹图，测试精度可达到λ/N，由此获得装置随机振动的大小。
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