显示装置及其制造方法
    22.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1153303C

    公开(公告)日:2004-06-09

    申请号:CN98800407.0

    申请日:1998-03-27

    Inventor: 藤川绅介

    Abstract: 在液晶显示装置等显示装置内,为了使电极及配线等低电阻连接,在由多晶硅膜形成的漏区(5)和铝膜形成的漏电极(9)之间设置为防止硅扩散用的六方晶系的第1氮化钛膜(14)。在由ITO膜形成的透明显示电极(12)和由铝膜形成的漏电极(9)之间,为了使它们欧姆连接而设置六方晶系的第2氮化钛膜(15),它能由与钛膜(13)或第1钛膜(14)相同的靶溅射形成。因为第2氮化钛膜(15)对用于氧化硅膜的蚀刻液和对用于ITO膜蚀刻液有抗蚀性,所以在对它们蚀刻时能够保护漏电极(9)。

    基板装置、它的检测方法、电光器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN1391132A

    公开(公告)日:2003-01-15

    申请号:CN02123021.8

    申请日:2002-06-12

    CPC classification number: G02F1/1345 G02F1/1309 G02F1/13452

    Abstract: 本发明的课题是,对用作液晶器件等的TFT阵列基板等的基板装置,在不剥离外接的IC的情况下进行其电学检测。基板装置包括基板,在其上制作的周边电路,在基板上布设的第1布线,外加于基板上的、具有第1端子且该第1端子与在第1布线上设置的连接用部分相连接的外接的IC。另外,还包括以穿过基板上的区域中的与外接的集成电路相向的部分的方式从连接用部分引出的第2布线,以及在基板上的区域中的与外接的集成电路不相向的部分中、在第2布线上设置的第1外部电路连接端子。经该外部电路连接端子可以进行外接的IC的检测。

    电光装置用基板、电光装置、电子设备、电光装置的制造方法以及检查电路

    公开(公告)号:CN114942538A

    公开(公告)日:2022-08-26

    申请号:CN202210133757.2

    申请日:2022-02-14

    Inventor: 藤川绅介

    Abstract: 提供电光装置用基板、电光装置、电子设备、电光装置的制造方法以及检查电路,即使将连接于传感器元件的端子与短接线等电连接,也能够适当地检查传感器元件的电特性。电光装置用基板具有:与传感器元件连接的第1安装端子和第2安装端子;第1电阻元件,其一端与第1安装端子电连接,并且另一端与第2安装端子电连接;第2电阻元件,其一端与第1电阻元件电连接,并且另一端与第2安装端子电连接;第3安装端子,其一端与第1电阻元件电连接,并且另一端与第2电阻元件电连接。检查电路具有:通电电路,其对第1安装端子进行通电;电压设定部,其将与第1安装端子相同的电压施加于第3安装端子;检测电路,其检测第1安装端子的电压或电流。

    液晶装置、其驱动方法以及电子设备

    公开(公告)号:CN102074213A

    公开(公告)日:2011-05-25

    申请号:CN201010556991.3

    申请日:2010-11-19

    Inventor: 藤川绅介

    CPC classification number: G09G3/3614 G09G3/2025

    Abstract: 本发明提供了可避免加权子场驱动的直流分量的残留的液晶装置、其驱动方法以及电子设备。液晶装置100包含与信号线12和扫描线11的交叉对应设置的像素电路PIX。像素电路PIX包含经由选择开关TSL与信号线12连接的像素电极41。另外,液晶装置100包含:在各写入期间,向信号线12供给VdataH或VdataH的信号线驱动电路22;在每个写入期间H依次选择扫描线11,使选择开关TSL成为导通状态的扫描线驱动电路21;电容电位线驱动电路23。电容电位线驱动电路23将VcomL或VcomH设为电容电位Vcom[m],在各子场SF中,在写入期间H[m]结束时使Vcom[m]的极性反相,在最后的子场SF4中,在写入期间H[m-1]的开始时使Vcom[m]的极性再度反相。

    移位寄存器、数据线驱动电路以及扫描线驱动电路

    公开(公告)号:CN1280834C

    公开(公告)日:2006-10-18

    申请号:CN03121865.2

    申请日:2003-04-15

    CPC classification number: G11C19/00

    Abstract: 本发明目的在于提供即使时钟信号的驱动能力低也可靠地动作的移位寄存器。数据线驱动路电路(200),具备将各移位寄存器单位电路(Ua1~Uan+2)级联连接的移位寄存器部(210);将各控制单位电路(Uc1~Ucn+2)级联连接的时钟信号控制部(220)。各控制单位电路(Uc1~Ucn+2)在前段和后段的连接点(A1、A2、…)信号电压中,在任意一方成为有效的期间,把X时钟信号(XCK)和反转X时钟信号(XCKB)提供给移位寄存器单位电路(Ua1~Uan+2)。

    发光装置、图象形成装置及电子机器

    公开(公告)号:CN1835050A

    公开(公告)日:2006-09-20

    申请号:CN200610067837.3

    申请日:2006-03-14

    CPC classification number: H05B33/0896 B41J2/45 G03G15/5016 Y02B20/36

    Abstract: 一种发光装置,头部(10)具备具有排列多个OLED元件(4)的发光区域(40)的基板(1),和集成电路芯片(2A)及(2B)。从基板(1)的另一面看,集成电路芯片(2A)及(2B)和发光区域(40)的部分或全部重叠地将集成电路芯片(2A)及(2B)与基板(1)连接。所以能够缩小基板(1)的面积(即两者重叠的那部分面积)。OLED元件(4)在集成电路芯片(2A)及(2B)供给的驱动电流的作用下发光。减小边框尺寸,缩小基板的面积。

    基板装置、它的检测方法、电光器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN1229668C

    公开(公告)日:2005-11-30

    申请号:CN02123021.8

    申请日:2002-06-12

    CPC classification number: G02F1/1345 G02F1/1309 G02F1/13452

    Abstract: 本发明的课题是,对用作液晶器件等的TFT阵列基板等的基板装置,在不剥离外接的IC的情况下进行其电学检测。基板装置包括基板,在其上制作的周边电路,在基板上布设的第1布线,外加于基板上的、具有第1端子且该第1端子与在第1布线上设置的连接用部分相连接的外接的IC。另外,还包括以穿过基板上的区域中的与外接的集成电路相向的部分的方式从连接用部分引出的第2布线,以及在基板上的区域中的与外接的集成电路不相向的部分中、在第2布线上设置的第1外部电路连接端子。经该外部电路连接端子可以进行外接的IC的检测。

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