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公开(公告)号：CN115855990B
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202310112882.X
申请日：2023-02-15
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/20008 , G01N23/203
Abstract: 本发明提供了一种用于检测m层结构被检物的背散射检查装置，应用于探测技术领域，m层结构被检物至少包括外层结构体和内层结构体，m为大于等于2的整数，背散射检查装置包括射线发生器、n个探测器和屏蔽组件，射线发生器设于外层结构体的上方，被构造为向m层结构被检物发射入射射线；n个探测器设于外层结构体的上方，且位于入射射线的周向方向上，以接收入射射线射在内层结构体上散射的内层散射射线，n为大于等于1的整数；屏蔽组件被构造为至少部分包围探测器，以遮挡部分入射射线射至探测器，和遮挡入射射线射在外层结构体上散射的外层散射射线射至探测器。背散射检查装置具有防干扰能力强，可以实现精准检查的优点。
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公开(公告)号：CN114146942A
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN202111613455.7
申请日：2021-12-27
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开一种矿物分选系统，包括输送带以及至少两套成像装置，每套成像装置包括位于输送带上方的射线源和位于输送带下方的射线探测器，每套成像装置的射线源和射线探测器在垂直于输送带的方向上正对设置，各个射线源在输送带的长度方向、宽度方向上均错开布置，各个射线源发出的射线束的投射区域互不交叠；各个射线源发出的射线束沿着输送带的长度方向的正投影存在交叠部分。该矿物分选系统中不同的成像装置从不同的角度对同一矿物进行成像，能够提高对矿物进行成分分析的准确性。
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公开(公告)号：CN113238297A
公开(公告)日：2021-08-10
申请号：CN202110777658.3
申请日：2021-07-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V11/00
Abstract: 本公开涉及一种辐射检查系统及方法。辐射检查系统包括：单射线源（10），具有多个加速管（13），所述多个加速管（13）分别产生多条具有不同能量的射线，且所述多个加速管（13）的出束方向包括至少两种不同的出束方向；多个探测器（30），被配置为探测所述单射线源（10）发出的射线作用于被检物（40）时的信号；和处理器（20），与所述单射线源（10）通讯连接，被配置为分别对所述多个加速管（13）进行控制。本公开实施例能够在满足多视角扫描的需求的同时，降低系统复杂度。
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公开(公告)号：CN109142404A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201811291946.2
申请日：2018-11-01
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技江苏有限公司
IPC: G01N23/203
CPC classification number: G01N23/203
Abstract: 本发明公开了一种背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法。背散射成像系统包括：背散射线源，背散射线源被设置为执行扫描时具有无扫描光束发出的第一扫描状态和发出扫描光束的第二扫描状态；背散探测器，背散探测器在背散射成像系统的背散射线源处于第一扫描状态下探测第一背散射信号，在背散射线源处于第二扫描状态下探测第二背散射信号；控制装置，与背散探测器信号连接，被设置为用根据第一背散射信号形成的修正信号修正第二背散射信号以得到修正背散射信号，并根据修正背散射信号形成图形信息；和成像装置，与控制装置信号连接，根据图形信息生成第二扫描状态下的背散射图像。本发明获得的背散射图像更加清晰。
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公开(公告)号：CN109142404B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN201811291946.2
申请日：2018-11-01
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技江苏有限公司
IPC: G01N23/203
Abstract: 本发明公开了一种背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法。背散射成像系统包括：背散射线源，背散射线源被设置为执行扫描时具有无扫描光束发出的第一扫描状态和发出扫描光束的第二扫描状态；背散探测器，背散探测器在背散射成像系统的背散射线源处于第一扫描状态下探测第一背散射信号，在背散射线源处于第二扫描状态下探测第二背散射信号；控制装置，与背散探测器信号连接，被设置为用根据第一背散射信号形成的修正信号修正第二背散射信号以得到修正背散射信号，并根据修正背散射信号形成图形信息；和成像装置，与控制装置信号连接，根据图形信息生成第二扫描状态下的背散射图像。本发明获得的背散射图像更加清晰。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114384596B
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202011142314.7
申请日：2020-10-22
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00 , G01N23/04 , G01N23/203
Abstract: 提供一种车辆安检系统、车辆安检系统组合和安检方法。车辆安检系统，包括：安装在检查区域中的扫描装置；第一传输机构，适用于将车辆从所述检查区域的入口在纵向方向上穿过所述扫描装置输送到所述检查区域的出口，以使所述扫描装置对所述车辆进行扫描检查；以及安装在所述检查区域的入口的外部的第一切换机构。第一切换机构包括：第一移动机构，设置成在横向方向上往复移动，并可分离地定位在两个驶入位置；以及两个第二传输机构，安装在所述第一移动机构上，在所述第一移动机构位于所述两个驶入位置中的一个时，两个所述第二传输机构中的一个第二传输机构与所述检查区域的入口对齐，以允许将所述一个第二传输机构上的车辆移动到第一传输机构上。
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公开(公告)号：CN115855990A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202310112882.X
申请日：2023-02-15
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/20008 , G01N23/203
Abstract: 本发明提供了一种用于检测m层结构被检物的背散射检查装置，应用于探测技术领域，m层结构被检物至少包括外层结构体和内层结构体，m为大于等于2的整数，背散射检查装置包括射线发生器、n个探测器和屏蔽组件，射线发生器设于外层结构体的上方，被构造为向m层结构被检物发射入射射线；n个探测器设于外层结构体的上方，且位于入射射线的周向方向上，以接收入射射线射在内层结构体上散射的内层散射射线，n为大于等于1的整数；屏蔽组件被构造为至少部分包围探测器，以遮挡部分入射射线射至探测器，和遮挡入射射线射在外层结构体上散射的外层散射射线射至探测器。背散射检查装置具有防干扰能力强，可以实现精准检查的优点。
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公开(公告)号：CN113281821A
公开(公告)日：2021-08-20
申请号：CN202110777657.9
申请日：2021-07-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V11/00
Abstract: 本公开涉及一种检查系统及方法。检查系统包括：辐射源（10）；探测器（30），被配置为探测所述辐射源（10）发出的辐射作用于被检的对象时的信号；和处理器（20），与所述辐射源（10）通讯连接，被配置为根据所述对象的类型，选择与所述类型对应的周期辐射组合，并在所述对象被扫描期间，使所述辐射源（10）以被选择的周期辐射组合向所述对象发出辐射，其中，所述周期辐射组合为所述辐射源（10）在每个扫描周期内输出的多个辐射脉冲的时序排列，所述多个辐射脉冲具有至少两种不同的辐射能量。本公开实施例能够改善适应性，并简化控制。
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公开(公告)号：CN113238298A
公开(公告)日：2021-08-10
申请号：CN202110777904.5
申请日：2021-07-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V11/00
Abstract: 本公开涉及一种检查系统及方法。检查系统包括：射线源（10），被配置为产生多种具有不同能量的射线；探测器（30），被配置为检测所述射线源（10）发出的射线作用在被检对象（40）的至少一个截面时的信号；和处理器（20），与所述射线源（10）通讯连接，被配置为根据表征所述被检对象（40）的至少一个截面的物质参数的信息调整所述射线源（10）发出的射线的能量。本公开实施例能够适应多种类型的被检物的辐射检查。
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公开(公告)号：CN113281821B
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN202110777657.9
申请日：2021-07-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V11/00
Abstract: 本公开涉及一种检查系统及方法。检查系统包括：辐射源（10）；探测器（30），被配置为探测所述辐射源（10）发出的辐射作用于被检的对象时的信号；和处理器（20），与所述辐射源（10）通讯连接，被配置为根据所述对象的类型，选择与所述类型对应的周期辐射组合，并在所述对象被扫描期间，使所述辐射源（10）以被选择的周期辐射组合向所述对象发出辐射，其中，所述周期辐射组合为所述辐射源（10）在每个扫描周期内输出的多个辐射脉冲的时序排列，所述多个辐射脉冲具有至少两种不同的辐射能量。本公开实施例能够改善适应性，并简化控制。
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