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公开(公告)号：CN113916911A
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN202010583786.X
申请日：2020-06-23
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 公开了一种物品的安全检查方法和系统。在该方法中，获取所述物品的标签图像，并基于所述标签图像得到所述物品的标签信息；获取所述物品的外观图像，并基于所述外观图像提取所述物品的外部特征；以及利用所述标签信息和所述外部特征二者从感兴趣物品库中确定所述物品是否属于感兴趣物品。
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公开(公告)号：CN112819022A
公开(公告)日：2021-05-18
申请号：CN201911132212.4
申请日：2019-11-18
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开的实施例公开了一种基于神经网络的图像识别装置包括：图像缓存，被配置为接收并存储图像；特征图缓存，被配置为接收并存储特征图；权重缓存，被配置为接收并存储权重；控制器，包括配置信息寄存器，并且被配置为接收配置信息，根据配置信息生成第一和第二控制信号，并且发送第一和第二控制信号；预处理单元，被配置为分别从图像缓存和权重缓存获得图像和权重，从控制器接收第一控制信号，根据第一控制信号对图像和权重执行预处理以得到并发送预处理结果；以及处理单元阵列，被配置为从预处理单元接收预处理结果，从控制器接收第二控制信号，根据第二控制信号对预处理结果执行处理以得到并向特种图缓存发送特征图。
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公开(公告)号：CN106896120B
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201510958891.6
申请日：2015-12-18
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/046 , G01N23/207
Abstract: 本发明涉及多模态检测系统和方法。多模态检测系统包括：分布式射线源，该分布式射线源照射受检物；前准直器，该前准直器将分布式射线源的射线分成两部分，其中一部分用于XRD检测，另一部分用于CT检测；CT检测设备，该CT检测设备进行CT检测以获取受检物的CT图像；XRD检测设备，该XRD检测设备进行XRD检测以获取受检物的XRD图像，其中，CT检测与XRD检测同时进行。根据本发明的多模态检测系统和方法，CT检测设备和XRD检测设备可以共用一套分布式射线源，能够同时进行CT检测和XRD检测。
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公开(公告)号：CN103901489B
公开(公告)日：2017-07-21
申请号：CN201210581468.5
申请日：2012-12-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G06T7/0004 , G01V5/005 , G06K9/00201 , G06T7/0002 , G06T15/08 , G06T2200/04 , G06T2207/10116 , G06T2207/30112
Abstract: 公开了一种检查行李的方法、显示方法和设备。该显示方法包括步骤：利用CT成像系统获取被检查行李的断层数据；从断层数据生成所述被检查行李中各个物体的三维体数据；针对每个物体，基于三维体数据确定至少包括该物体的量词描述的语义描述；接收用户对某个物体的选择，在显示所选择物体的三维图像的同时，呈现该物体的语义描述。利用上述方案，通过自动检测与描述，实现物体的自动辅助检测。物体描述结果是对人工检测的必要补充，也是加强人机交互的一种手段，在减少漏检这一重要问题上有很强的应用价值。
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公开(公告)号：CN104658028A
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201310574315.2
申请日：2013-11-18
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G06T15/00
CPC classification number: G06T19/20 , G06T7/0012 , G06T15/06 , G06T15/08 , G06T15/10 , G06T17/005 , G06T2207/10136 , G06T2210/12 , G06T2219/2021
Abstract: 本发明涉及一种用于在三维图像中标记目标物的方法来解决上述任务。该方法包括步骤：获得场景的计算机断层造影（CT）图像数据；使用光线投射基于所述CT图像数据绘制该场景的三维图像；基于固定的二维传递函数来剔除该三维图像中的透明区域；以及在该三维图像上标记出目标物。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103971084A
公开(公告)日：2014-08-06
申请号：CN201310041293.3
申请日：2013-02-01
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G06K9/00
CPC classification number: G06K9/6267 , G01V5/005 , G06K9/52 , G06K2009/4666 , G06T5/00 , G06T7/40 , G06T7/60 , G06T2207/10088 , G06T2207/20021 , G06T2207/20172 , G06T2207/30242
Abstract: 本发明公开了一种薄片或块状违禁品、爆炸物或毒品识别方法。具体地，所述薄片违禁品、爆炸物或毒品识别方法包括以下步骤：(1)读入待检测物品的一个断层的数据；(2)对所述断层数据进行预处理；(3)将预处理后的断层数据分割为若干个物理属性相近的区域；(4)分析每一个分割区域是否为薄片区域；(5)判断当前断层中检测出的薄片区域是否能够与前一断层中检测出的薄片区域合并，用于形成薄片物体；(6)判断每个检出的薄片物体是否已经结束或完整；(7)重复步骤(1)-(6)，采用逐个断层分析的方法处理每个断层的数据，直至处理完所有断层的数据。
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公开(公告)号：CN117270066B
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202311490080.9
申请日：2023-11-09
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/226
Abstract: 提供一种直线扫描CT成像系统和方法，该系统包括：传送装置，用于使扫描对象在扫描通道中沿预定的传送方向移动；射线源，射线源用于交替发出射线束以形成扫描区域；探测器，探测器包括第一探测器和第二探测器；第一探测器用于探测在扫描对象穿过扫描区域的过程中，射线束透过扫描对象后形成的第一投影数据；第二探测器用于探测在扫描对象穿过扫描区域的过程中，射线束透过扫描对象后形成的第二投影数据；成像装置，根据第二投影数据，生成扫描对象的数字化射线图像，以及根据第一投影数据和第二投影数据，得到扫描对象的计算机断层扫描图像。
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公开(公告)号：CN119722638A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411855625.6
申请日：2024-12-16
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技江苏有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开提供了一种缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品，该缺陷检测方法包括：获取检测对象在多个视场下的拍摄图像和点云图像；对点云图像进行处理，得到第一缺陷信息；基于对拍摄图像进行处理得到的经变换的拍摄图像，确定第二缺陷信息，第一缺陷信息和第二缺陷信息针对不同的缺陷类型；以及，基于经变换的拍摄图像和点云图像各自的位置信息之间的映射关系，根据第一缺陷信息和第二缺陷信息，确定缺陷检测结果。
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公开(公告)号：CN114609684B
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202011432043.9
申请日：2020-12-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开提供了一种物品的检测方法，应用于安检设备，安检设备包括光源、探测器和安检通道。该方法包括：确定焦点偏移量；根据焦点偏移量，改变光源的焦点位置，以使光源根据改变后的焦点位置向被扫描物体发射第一X射线，其中，焦点偏移量根据被扫描物体的位置来确定；利用探测器接收由光源发射的第一X射线，以得到第一X射线的探测数据；以及根据第一X射线的探测数据，对被扫描物体进行检测。本公开还提供了一种物品的检测装置、安检设备、介质和程序产品。
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公开(公告)号：CN119672335A
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202411730317.0
申请日：2024-11-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开提供一种图像分割方法和装置、存储介质和程序产品。图像分割方法包括：采集车辆的透视图像；提取透视图像的特征图；利用机器学习模型中的检测分支模型对特征图进行处理，生成透视图像中的每个目标物的多个掩膜置信度；利用机器学习模型中的分割分支模型对特征图进行处理，生成与多个掩膜置信度一一对应的多个掩膜原型图；利用多个掩膜置信度和多个掩膜原型图，生成目标掩膜；根据目标掩膜，得到每个目标物的实例分割结果。
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