公开(公告)号：CN116256274A

公开(公告)日：2023-06-13

申请号：CN202211586651.4

申请日：2022-12-09

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝 ,  松本崇 ,  长谷川智一

IPC: G01N9/24 ,  G01N23/20 ,  G01N23/20008

Abstract: 提供一种电子密度图确定装置、系统、方法以及记录介质，能够准确地再现采用具有动态波动的结构的溶液中的高分子的电子密度图。一种确定溶液中的高分子的电子密度图的电子密度图确定装置(200)，具备：电子密度图生成部(221)，其从对试样进行测定而得到的实测的X射线散射分布图生成多个电子密度图；指标算出部(226)，其算出表示从多个电子密度图中的每个电子密度图算出的计算上的X射线散射分布图与实测的X射线散射分布图的一致度的指标；以及电子密度图选择部(258)，其基于算出的指标从多个电子密度图中选择代表的电子密度图。

公开(公告)号：CN113302483A

公开(公告)日：2021-08-24

申请号：CN201980088995.2

申请日：2019-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝

IPC: G01N23/20025 ,  G01N1/28

Abstract: 能够将吸藏了试样的细孔性络合物晶体可靠地供给至单晶X射线构造解析装置。使试样吸藏的吸藏装置具备：供给部，将所述试样供给到被试样保持架(310)保持的细孔性络合物晶体；温度调整部，控制所述细孔性络合物晶体的温度；驱动部，驱动所述供给部；以及控制部，控制所述供给部、所述温度调整部和所述驱动部。将所述试样保持架(310)在装配于敷料器(311)的状态下设置于所述吸藏装置，所述供给部对在所述敷料器(311)的内部保持于所述试样保持架(310)的所述细孔性络合物晶体供给所述试样，所述温度调整部控制在供给所述试样的所述敷料器(311)的内部保持于所述试样保持架(310)的所述细孔性络合物晶体的温度。

公开(公告)号：CN113302481A

公开(公告)日：2021-08-24

申请号：CN201980088751.4

申请日：2019-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝

IPC: G01N23/20025 ,  G01N23/205 ,  G01N23/207 ,  G01N1/28

Abstract: 提供一种能够通过迅速且容易地进行向晶体海绵的试样的吸藏来迅速且准确地进行单晶X射线结构解析的试样保持架、试样保持架组件以及吸藏方法。是在单晶X射线结构解析装置中使用的试样保持架，具备：基台部，安装于所述单晶X射线结构解析装置的测角仪；试样保持部，形成于所述基台部，保持能够在形成于内部的多个微细孔吸藏所述试样的细孔性络合物结晶；以及试样导入结构，形成于所述基台部，导入用于使所述细孔性络合物结晶吸藏的所述试样。

公开(公告)号：CN113287006A

公开(公告)日：2021-08-20

申请号：CN201980088771.1

申请日：2019-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝

IPC: G01N23/20025 ,  G01N23/207

Abstract: 提供一种能够可靠且容易地进行吸藏在晶体海绵的试样的取下、向装置的搭载作业的单晶X射线结构解析装置以及试样保持架安装装置。是在进行物质的结构解析的单晶X射线结构解析装置安装对试样进行保持的试样保持架的试样保持架安装装置，具备试样保持架安装机构(600)，将装配于能够装卸的敷料器(300)而提供的所述试样保持架(250)在将所述试样保持架(250)从所述敷料器300取下的状态下安装于所述单晶X射线结构解析装置的测角仪(12)，所述试样保持架(250)包括能够在形成于内部的多个微细孔吸藏所述试样的细孔性络合物结晶，所述细孔性络合物结晶在所述试样保持架(250)安装于所述测角仪(12)的状态下，固定在所述试样保持架(250)的被来自所述X射线照射部的X射线照射的位置。

公开(公告)号：CN113056669A

公开(公告)日：2021-06-29

申请号：CN201980076225.6

申请日：2019-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝

IPC: G01N23/20025 ,  G01N23/205 ,  G01N23/207 ,  G01N1/28

Abstract: 提供能够可靠且容易地进行利用晶体海绵的单晶X射线构造解析的单晶X射线构造解析装置，还提供用于其的方法、试料保持器。具备：产生X射线的X射线源；对试料进行保持的试料保持器(250)；安装并转动试料保持器(250)的测角仪；X射线照射部，针对保持在安装于测角仪的试料保持器(250)的试料，照射来自X射线源的X射线；X射线检测测定部，对被试料衍射或散射的X射线进行检测并测定；和构造解析部，基于由X射线检测测定部检测出的衍射X射线或散射X射线进行试料的构造解析，试料保持器(250)包括能够将试料吸附到形成在内部的多个微细孔的细孔性复合晶体，细孔性复合晶体在试料保持器(250)被安装在测角仪的状态下，被固定在被照射来自试料保持器(250)的X射线照射部的X射线的位置。