立体声分离调整电路及其MOS集成电路

    公开(公告)号:CN1985456A

    公开(公告)日:2007-06-20

    申请号:CN200580021115.8

    申请日:2005-06-08

    CPC classification number: H04B1/1646 H04H40/63

    Abstract: 本发明可不使动态范围变窄地对分离电平进行调整。在输入混合信号的MOS晶体管Q5和输入基准电压的MOS晶体管Q6的源极之间并联连接有被串联连接的电阻R1与开关元件SW1、R2与SW2、R3与SW3......。在直流工作中,电阻R1~R5不影响MOS晶体管Q5的输出电压,在交流工作时,改变并联连接的电阻R1~R5的值,由此,可对分离电平进行调整。

    镜像抑制电路
    22.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1973432A

    公开(公告)日:2007-05-30

    申请号:CN200580017977.3

    申请日:2005-05-25

    CPC classification number: H04B1/28 H03D7/14

    Abstract: 为了提供一种能够不受制造时电阻器、电容器等电路元件变化的影响抑制镜像信号的镜像抑制电路,本发明的镜像抑制电路包括第一混频器单元(2),用于将由接收机装置所接收的信号与由本地振荡器(1)所产生的第一本地振荡信号混频;第二混频器单元(3),用于将所接收的信号与第二本地振荡信号混频,所述第二本地振荡信号通过将由本地振荡器(1)产生的本地振荡信号移动90°来获得;多相滤波器电路(4),它包括电容器(C1)和开关电容器;以及合成输出单元(5),用于合成输出从多相滤波器电路(4)输出的IF信 号。

    半导体检查装置及其所使用的被检查部件托盘

    公开(公告)号:CN1705095A

    公开(公告)日:2005-12-07

    申请号:CN200510074287.3

    申请日:2005-06-02

    Inventor: 池田毅 宫城弘

    CPC classification number: G01R31/2893

    Abstract: 本发明提供一种半导体检查装置,其设有结构非常简单的被检查部件托盘(10),该被检查部件托盘(10)其表面具有容纳多个被检查部件的多条槽部(1),在各个槽部(1)中,具有用于与容纳的被检查部件的电极电连接的导体形成到里面为止的接触部,以在被检查部件托盘(10)中容纳多个被检查部件的形式将其保持在检查装置的托盘把持器中,通过使多个探针一次接触到被检查部件托盘(10)所具有的多个接触部,就能够同时对多个被检查部件进行电检查。

    AGC电路
    29.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1666413A

    公开(公告)日:2005-09-07

    申请号:CN03815895.7

    申请日:2003-06-27

    Inventor: 宫城弘

    CPC classification number: H03G3/3052 H03F2203/45408 H03G1/0029 H03G1/007

    Abstract: 提供在RF接收器中的AGC电路具有对高频接收信号进行检测并输出包括脉动分量的检测信号的检测电路,并且根据检测输出在RF放大电路上实现增益控制。在检测电路之后紧接有放大器(DC放大器),对其进行设置以便降低其高频属性或者将降低高频属性的单元连接于放大器。根据这种结构,与检测输出相叠加的脉动分量被尽可能地去除。

Patent Agency Ranking