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公开(公告)号：CN101183856B
公开(公告)日：2010-06-02
申请号：CN200710186811.5
申请日：2007-11-14
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 井上高广
CPC classification number: H03F3/45475 , H03F3/087 , H03F3/45192 , H03F3/45632 , H03F3/45928 , H03F2203/45088 , H03F2203/45101 , H03F2203/45134 , H03F2203/45138 , H03F2203/45302
Abstract: 本发明的运算放大电路(5)包括：跨导放大电路(1)，将差动输入电压变换为差动输出电流；共模反馈电路(2)，对跨导放大电路(1)输出控制信号，使得跨导放大电路(1)的差动输出电压的直流电压电平与基准电压(vref)相等；电压供给电路(3)，将电源电压影响小的电压提供给共模反馈电路(2)作为基准电压(vref)；以及输出负载(ZL)，被施加跨导放大电路(1)的差动输出电压，其构成运算放大电路(5)的输出端子。此外，上述各个电路从电源端子被提供电源电压(vdd)。通过如上结构的运算放大电路(5)，可以实现不减少动态范围，就可提高电源噪声除去特性的运算放大电路。
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公开(公告)号：CN100576539C
公开(公告)日：2009-12-30
申请号：CN200710005928.9
申请日：2007-02-15
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G01R31/2884
Abstract: 本发明的半导体晶片包括连接了半导体芯片的内部电路和测试焊盘的开关电路。此外，在划线区域或所述半导体芯片内，包括开关控制用焊盘，它被上拉或下拉到所述半导体晶片的衬底电位的同电位，被提供用于使所述开关电路导通的与所述衬底电位不同的电位的信号。而且，在所述测试焊盘上，连接有插入在所述测试焊盘间且相互相邻的所述半导体芯片的各个所述开关电路。
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公开(公告)号：CN100568711C
公开(公告)日：2009-12-09
申请号：CN200610136628.X
申请日：2006-10-31
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 井上高广
CPC classification number: H03F3/217
Abstract: D级放大器包括：放大电路，其高端开关元件和低端开关元件被串联连接到电源；高端栅极驱动电路，驱动所述高端开关元件的高端栅极；以及低端栅极驱动电路，驱动所述低端开关元件的低端栅极。在这种D级放大器中，所述高端栅极驱动电路和所述低端栅极驱动电路被设定充放电时间，以使所述高端栅极的充电时间比放电时间短，所述低端栅极的充电时间比放电时间长。
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公开(公告)号：CN1960171A
公开(公告)日：2007-05-09
申请号：CN200610136628.X
申请日：2006-10-31
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 井上高广
CPC classification number: H03F3/217
Abstract: D级放大器包括：放大电路，其高端开关元件和低端开关元件被串联连接到电源；高端栅极驱动电路，驱动所述高端开关元件的高端栅极；以及低端栅极驱动电路，驱动所述低端开关元件的低端栅极。在这种D级放大器中，所述高端栅极驱动电路和所述低端栅极驱动电路被设定充放电时间，以使所述高端栅极的充电时间比放电时间短，所述低端栅极的充电时间比放电时间长。
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公开(公告)号：CN106104232A
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201580012258.6
申请日：2015-02-24
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G01J1/0407 , G01J1/4204 , G01J1/4228 , G01J1/429 , G01J1/44 , G01J2001/446 , H01L27/14621 , H01L27/14623 , H01L27/14625 , H01L27/14647 , H01L31/02162 , H01L31/1013
Abstract: 本发明以低成本提供能够检测出规定的波长区域的光的强度的受光器。该受光器具备：具有彼此相同的光谱灵敏度特性的第一受光元件(PD1)和第二受光元件(PD2)；和UV截止滤光片(11)，透过UV截止滤光片(11)的光入射至第一受光元件(PD1)，具备计算第一受光元件(PD1)的光电流与第二受光元件(PD2)的光电流的差值的减法器。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104488093A
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201380039423.8
申请日：2013-07-09
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: H01L31/101 , G01J1/0488 , G01J1/4204 , G01J1/4228 , G01J1/44 , G01J3/30 , G01J3/51 , G09G3/3406 , G09G3/36 , G09G2320/0626 , G09G2320/0633 , G09G2330/021 , G09G2360/144 , G09G2360/145 , H01L31/02162 , H01L31/02327 , H01L31/1013 , H01L31/167 , H01L31/02164 , H01L31/103
Abstract: 为了提供能够同时实现作为照度传感器和接近传感器的功能的一体型传感器，传感器(1)包括受光元件部(E1)、红外除去滤光片(IRcutF)和对受光元件部(E1)的光谱特性进行切换的切换部(SWS)，红外除去滤光片(IRcutF)形成有开口部，与可见光接收用PN(PDvis)相比，红外光接收用PN结(PDir)形成在衬底(SUB)的较深的位置。
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公开(公告)号：CN102967364B
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN201210253419.9
申请日：2012-07-20
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G01J1/44
CPC classification number: G01J1/4204 , G01J1/0488 , G01J1/4228 , G01J1/44 , G01J3/506
Abstract: 提供一种传感器电路以及电子设备。不论对各个光接收元件是否一样地照射光，传感器电路都会进行照度的测定而不会在各个分光特性的检测结果产生偏向或灵敏度的偏差，该传感器电路包括光接收元件（PD1、PD2），各个光接收元件（PD1、PD2）从互不相同的分光特性（A、B）中设定一个分光特性，各个光接收元件（PD1、PD2）在照度的测定时，依次切换设定分光特性（A、B），使得成为互不相同的分光特性。
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公开(公告)号：CN103138736A
公开(公告)日：2013-06-05
申请号：CN201210406277.5
申请日：2012-10-23
Applicant: 夏普株式会社
IPC: H03K19/007
CPC classification number: H01H37/761 , G01J1/44 , G11C17/16 , G11C17/18
Abstract: 本发明的半导体集成电路，在元件阵列(14)中设置电阻阵列，将特性值分布的平均值与由元件阵列(14)获得的合成电阻值的中心值关联，用十进制数以‘15’～‘8’的降序设定调整信息生成电路(12)中与大于上述中心值的合成电阻值对应的调整信息的排列，用十进制数‘0’～‘7’以升序设定与上述中心值以下的合成电阻值对应的调整信息的排列。变换电路(13)变换来自调整信息生成电路(12)的调整信息，生成为了从元件阵列(14)的电阻阵列中获得各合成电阻值而选择截止的电阻的元件选择信息。由此，大幅度地削减在生成上述分布中的‘平均值±2σ’的范围内关联的调整信息的情况下的熔丝熔断根数。
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公开(公告)号：CN102564583A
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN201110352596.8
申请日：2011-11-09
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G01J1/44 , G01J1/1626 , G01J1/4204 , G09G3/3406 , G09G2360/144
Abstract: 提供具有接近视见度的光谱灵敏度特性，电路规模小的照度传感器及使用了该照度传感器的显示装置。电流输出电路使用将第1光接收元件中流过的第1电流进行模数变换的第1模数变换电路的比特流信号输出对应于第1电流的电流，第2模数变换电路输入从流过第2光接收元件的第2电流中减去电流所得的第3电流并将其进行模数变换。
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公开(公告)号：CN100414835C
公开(公告)日：2008-08-27
申请号：CN200410061725.8
申请日：2004-07-01
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: H03G3/3084
Abstract: 以往，载波检测电路根据接收信号进行积分动作来形成载波检测电平，用该载波检测电平来检测有无载波，在对进行上述积分动作的积分器中的积分电容进行充放电时，进行以下其中一种。即，对应于用上述载波检测电平鉴别上述接收信号的电平的结果只进行充电或放电中的一个，或者在始终进行恒定电平的放电的状态下进行与上述鉴别结果对应的充电。相反，本发明提供一种载波检测电路，始终对上述积分电容进行充电和放电这两者，对应于上述鉴别结果来改变其电平。即，用充电电路的充电电流和放电电路的放电电流的差分电流，来进行积分电容的充放电。由此，不会产生减小流过晶体管的电流而发生的问题，能够缩小芯片面积。
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