一种三窗口同步移相干涉仪

    公开(公告)号:CN103217096B

    公开(公告)日:2016-04-20

    申请号:CN201310086092.5

    申请日:2013-03-18

    Abstract: 本发明属于光学干涉检测领域;本发明的光源发射的光束经偏振片、第一准直扩束系统和第一分光棱镜后,分成物光和参考光,物光依次经过第一反射镜和待测物体后,射向第二分光棱镜;参考光依次经过第二反射镜、第二准直扩束系统后,射向高通矩形光整形器,经高通矩形光整形器分成两束出射光后射向第二分光棱镜;并排汇合于第二分光棱镜的物光和参考光再依次经过矩形窗口、第一透镜、一维周期光栅和第二透镜后,射向图像传感器形成干涉图样,由与图像传感器相连的计算机采集处理完成检测;本发明只需一维光栅便可实现同步移相,同时待测物体尺寸不受测量窗口限制,具有结构简单、成本低的特点。

    一种反射式点衍射离轴同步移相干涉检测装置与检测方法

    公开(公告)号:CN103322912B

    公开(公告)日:2016-01-27

    申请号:CN201310206690.1

    申请日:2013-05-29

    Abstract: 本发明属于光学干涉检测领域,特别涉及一种反射式点衍射离轴同步移相的干涉检测装置。反射式点衍射离轴同步移相干涉检测装置,包括光源、准直扩束系统、第一偏振片、四分之一波片、第一透镜、非偏振分光棱镜、第二偏振片、平面反射镜、带有小孔的平面反射镜、第二透镜、偏振分光棱镜、图像传感器。本发明兼顾了CCD带宽利用率、CCD视场利用率、测量实时性、抗干扰能力和系统复杂性,使系统的整体性能有了提高;本发明结构简单,成本低;在操作中不需要改变光路,也不需要移动任何实验器件,操作方便灵活,稳定性高,系统复杂性低。

    基于正交双光栅的同步移相共光路干涉显微检测装置及检测方法

    公开(公告)号:CN102865811B

    公开(公告)日:2015-04-15

    申请号:CN201210374744.0

    申请日:2012-09-29

    Abstract: 基于正交双光栅的同步移相共光路干涉显微检测装置及检测方法,属于光学干涉检测技术领域。它解决了现有同步相移干涉显微检测方法中,对检测数据进行处理的过程复杂并且测量精度低的问题。它将干涉显微技术和正交双光栅共光路分光同步移相技术相结合,将准直扩束后的线偏振平行光经第一偏振分光棱镜和第二偏振分光棱镜分成物光和参考光后最终并排汇合于矩形窗口,计算机通过采集获得一幅含有四个图样的干涉图,最终根据四幅干涉图样的强度分布计算获得待测物体的相位分布。本发明适用于微小物体三维形貌和位相分布测量。

    基于同步载频移相的共光路干涉显微检测装置与方法

    公开(公告)号:CN102967258A

    公开(公告)日:2013-03-13

    申请号:CN201210424240.5

    申请日:2012-10-30

    Abstract: 基于同步载频移相的共光路干涉显微检测装置与方法,属于光学领域,本发明为解决现有技术的不足之处。本发明的技术方案:打开光源,使光源发射的光束经线偏振片和准直扩束系统的准直扩束后形成平行偏振光后,入射至第一分光棱镜,经第一分光棱镜反射与透射后最终分别形成参考光束和物光束汇合至矩形窗口,并排汇合于矩形窗口的参考光束和物光束再依次通过第一傅里叶透镜、一维周期光栅、第二傅里叶透镜和偏振片组,偏振片组出射的偏振光束在图像传感器平面上产生干涉图样,将计算机将采集获得的干涉图样根据矩形窗口的小窗口的尺寸分割获得两幅干涉图样,通过计算得到待测物体的相位分布。

    一种共光路结构的微型光纤非本征型迈克尔逊声压传感器

    公开(公告)号:CN109374109B

    公开(公告)日:2020-09-25

    申请号:CN201811017322.1

    申请日:2018-09-01

    Abstract: 本发明属于光纤传感技术领域,具体涉及一种共光路结构的微型光纤非本征型迈克尔逊声压传感器,由声压敏感膜片、膜片支撑结构、传感器基座、第一增反膜、第二增反膜、玻璃套管、光纤准直透镜、光纤套筒、单模光纤组成,所述声压敏感膜片固定在膜片支撑结构上,所述膜片支撑结构固定在所述传感器基座的上表面,膜片支撑结构和传感器基座的外径相同,膜片支撑结构和传感器基座内部中间区域均有一个圆形的通孔,膜片支撑结构的通孔直径大于传感器基座的通孔直径。本发明通过采用共光路结构,可以在不使用法拉第旋光镜的条件下避免偏振衰落造成的传感器信号衰落,从而保证了探测结果的稳定性,具有良好的加工一致性。

    基于一维周期光栅和点衍射的双视场数字全息检测方法

    公开(公告)号:CN107462150B

    公开(公告)日:2019-07-16

    申请号:CN201710589261.5

    申请日:2017-07-19

    Abstract: 本发明提供一种基于一维周期光栅和点衍射的双视场数字全息装置与方法,属于数字全息检测领域。装置包括波长为λ的光源、线偏振片Ⅰ、准直扩束装置、矩形测量窗口、待测物体、第一透镜、一维周期光栅、孔阵列、线偏振片Ⅱ、线偏振片Ⅲ、第二透镜、光阑、图像传感器和计算机。本技术通过一维周期光栅的分光和引入载波的作用实现了视场的平移和频域的分离,并且通过偏振片组避免两束物光的干涉,实现了频谱间串扰的减小。本发明简单易行,调整方便,图像传感器的视场利用率高;全息图载波频率映射关系简单,确定容易,并可通过光栅离焦量精确控制,系统载波频率的复杂度低,相位恢复算法效率高。

    基于透射式点衍射的三波长数字全息检测装置与方法

    公开(公告)号:CN107388959B

    公开(公告)日:2019-07-16

    申请号:CN201710589245.6

    申请日:2017-07-19

    Abstract: 本发明提供一种基于透射式点衍射的三波长数字全息检测装置与方法。汇合成一束的三波长入射光形成聚焦的参考光和物光;参考光照射在孔阵列上并被针孔A过滤后,依次经过第二透镜和第二合色棱镜后分成三波长参考光,分别照射在三平面反射镜上并被反射,再次依次经过第二合色棱镜、第二透镜、孔阵列的三大孔B和非偏振分光棱镜照射在第四透镜上;物光经过第三透镜后照射在平面反射镜上并被反射,再次依次经过第三透镜和非偏振分光棱镜照射在第四透镜上;汇合在第四透镜的参考光和物光产生干涉形成三载频复用的全息图,用图像传感器采集全息图上传到计算机中计算待测相位。该装置结构简单,稳定性好,只需黑白图像传感器记录全息图。

    一种基于双窗口共路干涉成像的偏振态参量测量装置与方法

    公开(公告)号:CN107228712B

    公开(公告)日:2019-04-12

    申请号:CN201710437630.9

    申请日:2017-06-12

    Abstract: 本发明提供一种基于双窗口共路干涉成像的偏振态参量测量装置与方法,属于偏振态参量测量领域。本发明包括光源、偏振调制系统、准直扩束系统、待测物体、矩形窗口、第一透镜、一维周期光栅、第二透镜、光阑、偏振片组、图像传感器和计算机。入射光被线偏振调制后依次经过准直扩束系统、待测物体、矩形窗口、第一透镜、一维周期光栅和第二透镜后产生0级和±1级衍射光束,再经光阑和偏振片后,在图像传感器平面上产生干涉;分别曝光采集+45°和‑45°线偏振光入射时的全息图,通过计算机获得Stokes矩阵参量和Jones矩阵参量。本发明装置无需二维光栅、空间滤波器阵列等特殊光学元件,结构简单,调整方便,且抗干扰能力强。

    一种基于共路数字全息的偏振态参量测量装置与方法

    公开(公告)号:CN107101724B

    公开(公告)日:2019-04-12

    申请号:CN201710436260.7

    申请日:2017-06-12

    Abstract: 本发明提供一种基于共路数字全息的偏振态参量测量装置与方法,属于偏振态参量测量领域。本发明包括光源、偏振调制系统、准直扩束系统、第一透镜、非偏振分光棱镜、小孔反射镜、偏振分光棱镜、第一角反射镜、第二角反射镜、第二透镜、图像传感器、计算机。入射光分成参考光和物光后,参考光照射在小孔反射镜上并被反射;物光经过偏振分光棱镜后分成两束偏振态正交的物光,并被第一角反射镜和第二角反射镜反射回偏振分光棱镜合成一束物光;物光和参考光汇合后,调整第一角反射镜和第二角反射镜,可在图像传感器上生成载频方向正交的全息图;分别曝光采集+45°和‑45°线偏振光入射时的全息图,通过计算机获得Stokes矩阵参量和Jones矩阵参量。

    一种共光路结构的微型光纤非本征型迈克尔逊声压传感器

    公开(公告)号:CN109374109A

    公开(公告)日:2019-02-22

    申请号:CN201811017322.1

    申请日:2018-09-01

    Abstract: 本发明属于光纤传感技术领域,具体涉及一种共光路结构的微型光纤非本征型迈克尔逊声压传感器,由声压敏感膜片、膜片支撑结构、传感器基座、第一增反膜、第二增反膜、玻璃套管、光纤准直透镜、光纤套筒、单模光纤组成,所述声压敏感膜片固定在膜片支撑结构上,所述膜片支撑结构固定在所述传感器基座的上表面,膜片支撑结构和传感器基座的外径相同,膜片支撑结构和传感器基座内部中间区域均有一个圆形的通孔,膜片支撑结构的通孔直径大于传感器基座的通孔直径。本发明通过采用共光路结构,可以在不使用法拉第旋光镜的条件下避免偏振衰落造成的传感器信号衰落,从而保证了探测结果的稳定性,具有良好的加工一致性。

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