一种基于L1最小化模型的全自动细胞定位方法

    公开(公告)号:CN103236052A

    公开(公告)日:2013-08-07

    申请号:CN201310104706.8

    申请日:2013-03-28

    Abstract: 本发明公开了一种基于L1最小化模型的全自动细胞定位方法,步骤为:①对原始图像进行二值化处理,得到二值化图像B;②对B进行腐蚀,得到包括神经元的连通域,并对每个连通域按③和④进行处理,得到所有细胞的位置;③对每个连通域,将其嵌入到一个长方体,称为子区域,从子区域中获取候选种子点,再根据候选种子点间的距离剔除冗余的候选种子点,将剩余的候选种子点作为真实种子点,真实种子点的个数记为k;④构建L1最小化模型,得到连通域中真实的细胞位置和半径。本发明采用提取子区域的方式进行细胞定位,每个子区域可同时独立进行运算,可以将所有连通域并行运算,可极大提高整体运算速度,因而能有效处理大范围数据。

    基于空间光调制器的干涉光束完全重合的同轴干涉系统

    公开(公告)号:CN103149688A

    公开(公告)日:2013-06-12

    申请号:CN201310084278.7

    申请日:2013-03-15

    Abstract: 本发明涉及一种基于空间光调制器的干涉光束完全重合的同轴干涉系统,由发光或者被光照射的发光体、空间光调制器、记录干涉图案的光敏器件和电脑构成,发光体和光敏器件分别放置在空间光调制器两侧,且光敏器件所在平面记为干涉平面,电脑与空间光调制器相连。空间光调制器构成成像光路,它同时起收集光和分光的作用。在本实施例中,空间光调制器同时模拟两个同心透镜,两个透镜把一束光分成两束。由于两束光都来自于同一个发光点的同一次发射,所以它们具有相干性。且两束光的传播方向完全一样,可以完全重合。整个干涉系统只有一个光轴,因此它是一个稳定性好的同轴干涉系统。

    基于数据削减的超分辨定位成像系统及方法

    公开(公告)号:CN102739948A

    公开(公告)日:2012-10-17

    申请号:CN201210245353.9

    申请日:2012-07-16

    Abstract: 本发明公开了基于数据削减的超分辨定位成像系统,包括成像模块、子区域提取模块及存储模块;成像模块,通过成像光路将探测视场映射到图像传感器,并成像;子区域提取模块,对所述成像进行子区域信息提取;存储模块,存储所述子区域提取模块提取的子区域信息。还公开基于数据削减的超分辨定位成像方法,包括步骤10.通过成像光路将探测视场映射到图像传感器,并成像;步骤20.对所述成像进行子区域信息提取;步骤30.存储步骤20提取的子区域信息。本发明提供的基于数据削减的超分辨定位成像系统及其方法,能实现削减无用数据,实时的高通量的图像存储及超分辨定位成像。

    活体荧光内窥光谱成像装置

    公开(公告)号:CN101904737A

    公开(公告)日:2010-12-08

    申请号:CN201010248224.6

    申请日:2010-08-09

    Abstract: 本发明涉及活体荧光内窥光谱成像装置,包括光源单元、分光单元、扫描导光单元、光纤束内窥单元、光电信号探测及采集单元、计算机,所述的光源单元由准直光源和带通滤波器组成,其特征在于:准直光源的光经带通滤波器后进入分光单元,分光单元具有两路端口,分光单元的一路端口与扫描导光单元相连,扫描导光单元与光纤束内窥单元相连,分光单元的另一路端口与光电信号探测及采集单元相连,光电信号探测及采集单元与计算机相连。本发明具有如下特点:1、采用傅里叶变换光谱仪探测样品激发光谱,具有光谱分辨率高(1nm)、光谱分辨率可调等优点。2、荧光活体内窥光谱成像系统既能提供组织水平的成像诊断,又能提供分子水平的光谱诊断。

    一种光纤扫描探头及其驱动方法

    公开(公告)号:CN101444416A

    公开(公告)日:2009-06-03

    申请号:CN200810237415.5

    申请日:2008-12-26

    Abstract: 本发明涉及一种光纤扫描探头及其驱动方法,在一片无逆压电效应的薄导电基片上对称平行粘接有两片镀有电极层的压电陶瓷片,一段末端去掉涂覆层且端面具有合适结构的裸光纤粘接在两片压电陶瓷片中间,并预留合适长度裸光纤作为振动自由端,两片压电陶瓷的电极分别接入驱动信号,驱动信号由锯齿波和正弦波叠加而成,锯齿波使两片压电陶瓷片在同一时刻产生相同的伸长或缩短量,带动光纤端头产生位置的移动完成场扫描动作,正弦波使两对压电陶瓷片产生微小长度差从而产生平行于薄导电基片的微小摆动而使光纤产生振幅较大的共振行为完成行扫描动作。本发明结构简单,有效地减小探头体积。让探头扫描更加稳定,消除成像质量不均匀的情况。

    一种用于飞秒激光的空间色散补偿装置

    公开(公告)号:CN100485509C

    公开(公告)日:2009-05-06

    申请号:CN200710051249.5

    申请日:2007-01-10

    Abstract: 本发明公开了一种用于飞秒激光的空间色散补偿装置,包括一个棱镜,两个抛物柱面镜和一个平面反射镜。两个抛物柱面镜开口方向相对并且共轴放置,棱镜顶点放置于一个抛物柱面镜的焦点处,棱镜可以以焦点为轴旋转;平面反射镜放置于另一个抛物柱面镜的焦点处并可以以焦点为轴旋转;输入输出光束同轴。本发明可以提供任意大小的空间色散量,调节简单,并且不会影响飞秒激光的时间色散特性。本发明结构简单,易于调节与使用,适用于飞秒激光扫描、成像和激光微加工等领域。

    无线云台户外控制装置及方法

    公开(公告)号:CN101321237A

    公开(公告)日:2008-12-10

    申请号:CN200810048447.0

    申请日:2008-07-18

    Abstract: 本发明涉及一种无线云台户外控制装置及方法,包括计算机、无线发射模块、无线云台解码器、云台、锂电池,无线云台解码器由无线接收模块、解码器模块以及逆变系统组成,将无线接收模块、解码器模块和逆变系统集成在一起组成无线云台解码器,计算机通过串行接口与无线发射模块相连,无线云台解码器分别设置接口与锂电池和云台连接。本发明通过计算机进行控制,无线系统的应用解决了空间布线的困难;另一方面,采用锂电池供电系统,适用于野外环境。

    一种用于小动物的整体荧光透射成像系统

    公开(公告)号:CN101317764A

    公开(公告)日:2008-12-10

    申请号:CN200810046679.2

    申请日:2008-01-11

    CPC classification number: A61B6/508

    Abstract: 本发明公开了一种用于小动物的整体荧光透射成像系统,其结构为:平板探测器、载物台、平面镜和X射线源由下至上依次排列,它们的中心位于同一直线上;中心处于同一水平线上的二个发光二极管分别位于射线源的两侧上方;滤光片与电荷耦和器位于平面镜的非工作面一侧,二者共轴且其轴线通过平面镜的中心;平板探测器和电荷耦合器通过数据采集卡与计算机连接。本发明利用数字X射线透射成像技术在结构成像方面的优势,解决了现有整体荧光光学成像技术对肿瘤定位不准的问题。本发明通过计算机对数字X射线透射成像技术和整体荧光光学成像技术所获得的图像进行融合,获得了更为详尽的肿瘤信息,为研究肿瘤的入侵、生长和转移提供了一种有效的研究工具。

    荧光光学成像装置
    29.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100424498C

    公开(公告)日:2008-10-08

    申请号:CN200510019826.3

    申请日:2005-11-16

    Abstract: 本发明公开了一种荧光光学成像装置。包括光密闭箱,激发光源、成像模块、成像支架和控制部分;激发光源产生用于激发荧光的激发光;成像模块包括成像探测器和荧光滤光片,荧光滤光片置于成像探测器前;成像支架结构为,定位螺杆固定在底座上,直线导轨下端与定位螺杆间隙配合,成像探测器平台与直线导轨间隙配合,活动杆位于底座上;控制部分包括中心控制器、多角度成像控制器,中心控制器通过多角度成像控制器控制直线导轨绕定位螺杆转动实现从多个角度对物体进行成像。本发明结构简单,配置灵活,费用低,体积小、可便携,多种实现方式可适用于不同应用场合,广泛用于生物医学、农业、地质、考古、石油等领域。

    一种薄膜厚度和折射率的光学测量方法及其装置

    公开(公告)号:CN101261116A

    公开(公告)日:2008-09-10

    申请号:CN200810047420.X

    申请日:2008-04-20

    Abstract: 本发明公开了一种薄膜厚度和折射率的光学测量方法及其装置。将宽带光源出射的光通过干涉结构,产生干涉信号,再探测干涉信号的光谱信息,并将光谱信息进行傅立叶变换,即可得到产生干涉信号的二光路的光程差信息。在折射率已知的情况下,以同种方式在一个干涉臂中放置样品后再测一次,比较这两次光程差信息即可薄膜厚度。若折射率未知,需将薄膜旋转一个角度,进行第三次测量来计算出获得薄膜的折射率和厚度。本发明采用光学方法,对样品是无损的,分辨率为微米量级,测量范围可达到毫米量级。另外样品不要求严格贴附在样品台上,同时信息处理方法简单,对于透明或半透明薄膜可以方便实时地得到其厚度和折射率信息。

Patent Agency Ranking