公开(公告)号：CN109977349A

公开(公告)日：2019-07-05

申请号：CN201910267621.9

申请日：2019-04-03

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 张景 ,  蔡禾 ,  朱厦 ,  孙金海 ,  张旭涛 ,  刘永强 ,  李粮生 ,  肖志河 ,  殷红成

IPC: G06F17/14 ,  G06F17/17 ,  G06F16/21 ,  G01N21/3586

Abstract: 本发明公开了一种滤除太赫兹信号中水蒸气吸收峰的方法和装置，涉及激光技术领域。其中，该方法包括：对待处理的太赫兹信号进行傅里叶变换，以得到所述太赫兹信号的频谱；基于所述太赫兹信号的频谱和水蒸气的频率响应模型构建剩余谱，并将所述剩余谱的全变分值作为目标函数；对所述目标函数进行优化求解，以确定水蒸气吸收线的强度和宽度的最优估计值，然后根据所述水蒸气吸收线的强度和宽度的最优估计值确定水蒸气的频率响应估计值；根据所述水蒸气的频率响应估计值滤除所述太赫兹信号中的水蒸气吸收峰。通过以上步骤，能够有效去除水蒸气对太赫兹信号的干扰，有助于提高后续光谱分析结果的准确性。

公开(公告)号：CN109211843A

公开(公告)日：2019-01-15

申请号：CN201811219808.3

申请日：2018-10-19

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 孙金海 ,  蔡禾 ,  郑岩 ,  张旭涛 ,  张景 ,  刘永强 ,  巢增明 ,  殷红成

IPC: G01N21/55 ,  G01N21/3586 ,  G01N21/3563

Abstract: 本发明涉及一种太赫兹波反射测量系统入射角确定方法，包括太赫兹波透射测量获取第一标定板和第二标定板分别作为被测样品以及无被测样品时的太赫兹波透射电场强度，得到第一标定板和第二标定板的复折射率；在某一入射角度下，太赫兹波反射测量获取第一标定板和第二标定板分别反射的太赫兹波反射电场强度；根据第一标定板和第二标定板的复折射率及菲涅尔公式分别求得二者反射系数表达式，结合二者反射的太赫兹波反射电场强度之比，计算太赫兹波反射测量的入射角。本发明还涉及一种太赫兹波反射测量系统入射角确定装置。该方法及装置通过计算准确获得太赫兹波反射测量的入射角度，解决了现有技术中依赖角度仪读取无法精确确定入射角度的难题。

公开(公告)号：CN109211842A

公开(公告)日：2019-01-15

申请号：CN201811219793.0

申请日：2018-10-19

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 孙金海 ,  蔡禾 ,  张景 ,  郑岩 ,  张旭涛 ,  刘永强 ,  巢增明

IPC: G01N21/55 ,  G01N21/3586 ,  G01N21/3563

CPC classification number: G01N21/55 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/3586 ,  G01N2021/558

Abstract: 本发明涉及一种太赫兹频段材料反射系数定标测量装置及方法，通过太赫兹波透射测量分别获取有无定标板的太赫兹波透射电场强度，根据获取的太赫兹波透射电场强度得到定标板的透射系数，进而得到定标板的复折射率；通过太赫兹波反射测量获取定标板和被测材料板在同一入射角度下分别反射的太赫兹波反射电场强度；根据定标板的复折射率和太赫兹波反射测量的入射角度，计算定标板的反射系数；结合定标板和被测材料板反射的太赫兹波反射电场强度与反射系数之间的比例关系，计算被测材料板的反射系数。该装置及方法能够在无法准确计量太赫兹脉冲功率的情况下，有效度量各种材料反射性能，快速、便捷地获取被测材料板在太赫兹频段的反射系数和反射率。

公开(公告)号：CN106052873A

公开(公告)日：2016-10-26

申请号：CN201610366074.6

申请日：2016-05-27

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 张景

IPC: G01J3/447

CPC classification number: G01J3/447

Abstract: 本发明公开了一种基于气体的太赫兹波相干探测器及太赫兹波偏振探测方法，包括：太赫兹波产生单元，用于通过泵浦光产生太赫兹波；探测光单元，用于获取与泵浦光同源的探测光；二次谐波感生单元，用于将太赫兹波与探测光聚焦在正交电极中心，生成太赫兹波感生的二次谐波、及正交电极产生的电场感生的二次谐波，并使二次谐波进入探测单元；其中，正交电极产生正交方向分布的电场；探测单元，用于对进入的二次谐波进行探测得到太赫兹波在所述正交方向的分量，从而重构太赫兹波的偏振态。本发明能够同时准确地探测太赫兹波的两个正交分量，进而精确确定太赫兹波的偏振。

公开(公告)号：CN208860738U

公开(公告)日：2019-05-14

申请号：CN201821653179.0

申请日：2018-10-12

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 张景 ,  蔡禾 ,  李粮生 ,  孙金海 ,  殷红成 ,  肖志河

IPC: G01N21/3586

Abstract: 本实用新型涉及一种太赫兹频谱校准系统，包括激光光源、太赫兹波产生单元、探测单元、太赫兹光路、准直光路、透射反射片、分光元件和标准量具，该系统利用太赫兹波在标准量具内多次反射形成的周期性的标准量具振荡，对太赫兹时域光谱进行频率校准，并且，该系统通过引入准直光路，利用同源的准直光实现太赫兹波光路间接校准，使得太赫兹波与标准量具垂直，减小由非垂直入射引起的频谱误差，有效提高系统的准确性和可靠性。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利