一种毫米波成像噪声抑制方法、设备和可读存储介质

    公开(公告)号:CN108152815A

    公开(公告)日:2018-06-12

    申请号:CN201711427959.3

    申请日:2017-12-26

    Abstract: 本申请实施例中一种毫米波成像噪声抑制方法,该方法的步骤包括:分别在空置的成像区域和具有扫描目标的成像区域进行扫描成像,获得第一图像数据和第二图像数据;将所述第一图像数据和第二图像数据进行合并,获得观测矩阵,并利用白化矩阵对观测矩阵进行白化处理;基于所述观测矩阵构建四阶累计矩阵,并对该矩阵进行特征分解,获得酉矩阵;基于酉矩阵和白化矩阵,对信号源进行估计,获得回波估计信号;对所述回波估计信号进行分布变换和空间变换,获得抑制噪声的回波信号。本申请所述技术方案将独立分量分析(ICA)方法和Wigner-Hough相结合,对近距离主动式毫米波三维成像进行噪声干扰去除,从而提高回波信号信噪比。

    一种用于毫米波雷达系统精确定位的方法

    公开(公告)号:CN108107433A

    公开(公告)日:2018-06-01

    申请号:CN201711265369.5

    申请日:2017-12-05

    Abstract: 本发明公开一种毫米波雷达系统精确定位的方法,包括以下步骤:确定方位转台的定位精度;根据雷达系统的具体要求,确定雷达系统的采样角度间隔和扫描范围;根据定位精度、采样角度间隔和扫描范围,确定雷达系统需要校准的角度位置。本发明毫米波雷达系统精确定位的方法结合方位转台实时反馈的位置信息,通过调整触发毫米波信号的角度位置实现毫米波雷达系统的准确定位。

    一种基于OpenCV的混合图像增强的方法

    公开(公告)号:CN107516302A

    公开(公告)日:2017-12-26

    申请号:CN201710774829.0

    申请日:2017-08-31

    CPC classification number: G06T5/002 G06T5/10 G06T5/20

    Abstract: 本发明公开一种基于OpenCV的混合图像增强的方法,包括步骤:S101:将待处理图像A进行非局部均值滤波去噪声形成图像B;S103:将所述图像B进行拉普拉斯算子变换形成图像C;S105:将所述图像C与所述图像B相加形成锐化图像E;S107:将所述图像B进行sobel算子变换形成图像D;S109:将所述图像D经过均值滤波形成图像F;S111:将所述图像F与所述图像E相乘形成掩蔽图像G;S113:引入影响因子k,将所述k与所述掩蔽图像G相乘形成图像H;S115:将所述图像H与所述图像B进行叠加。本发明采用多种互补的图像增强技术,能够有效去除图像噪声、调节图像的亮度和对比度、保持图片纹理,并增强图像的轮廓边界信息。

    一种隐匿物品的自动检测和识别装置

    公开(公告)号:CN102629315B

    公开(公告)日:2016-07-06

    申请号:CN201210050329.X

    申请日:2012-02-29

    Abstract: 本发明公开了一种隐匿物品的自动检测和识别装置,包括:扫描模块、调整模块、分割定位模块、条棒结合模型生成模块、非人体目标初步检测模块、非人体目标分布模块、类别辨识模块。通过本发明的隐匿物品的自动检测和识别的方法,实现了将隐匿物品的检测和识别从人工变为自动,降低了人员的使用要求,减小了人为误差,缩短了检测判读时间。

    一种图像处理方法和设备
    27.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105510884A

    公开(公告)日:2016-04-20

    申请号:CN201510900177.1

    申请日:2015-12-08

    CPC classification number: G01S7/02

    Abstract: 本发明提供了一种图像处理方法和设备,包括:确定待测区域内的至少一个待测目标以及所述待测目标的理论位置;对所述至少一个待测目标进行雷达扫描,得到雷达扫描数据;根据所述待测目标的理论位置以及所述雷达扫描数据,基于压缩感知方式生成针对所述待测目标的雷达扫描图像,所述雷达扫描图像用于表征所述待测目标在所述待测区域内出现的实际位置。通过对待测区域内至少一个待测目标所在位置进行雷达扫描,并根据得到的雷达扫描数据,基于压缩感知方式得到整个待测区域的雷达扫描图像,解决了现有技术中需要完整获取整个待测区域内所有位置的雷达扫描数据才能得到雷达扫描图像而导致的数据处理速率较低的问题。

    一种平面双反射阵列天线
    28.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105428801A

    公开(公告)日:2016-03-23

    申请号:CN201510900140.9

    申请日:2015-12-08

    CPC classification number: H01Q21/245 H01Q1/38 H01Q13/08 H01Q19/10

    Abstract: 本发明公开了一种平面双反射阵列天线,所述平面双反射阵列天线包括极化选择层、主反射面、位于所述主反射面上的微带贴片单元和与所述主反射面位于同侧的馈源,所述极化选择层,用于将所述馈源发射的电磁波信号反射至所述主反射面;所述微带贴片单元,用于对到达所述主反射面的电磁波信号进行相位补偿,并改变所述电磁波信号的极化方向,使所述电磁波信号透射所述极化选择层以形成指向设定方向的合成波束。这样,平面双反射阵列天线将传统反射阵列天线截面轮廓高度减半,有效地避免天线剖面较高的问题,同时平面双反射阵列天线中的微带贴片单元实现对电磁波信号极化方向的调整,有效地提高了平面双反射阵列天线的性能。

    用于毫米波三维成像系统的二维图像的成像方法

    公开(公告)号:CN103645474B

    公开(公告)日:2016-02-24

    申请号:CN201310682385.X

    申请日:2013-12-12

    Inventor: 方维海 年丰 温鑫

    Abstract: 本发明公开了一种用于毫米波三维成像系统的二维图像的成像方法,包括如下步骤:对检测目标进行扫描检测;确定一个观察方向,并且沿该观察方向选取多个观察位置,在每一个观察位置沿观察方向观察时形成一条视线;将所有的视线所在的平面建立为XY平面;建立XY平面内的采样点点阵;确定位于每一条视线上的采样点,并且通过一维插值运算获得位于每一条视线上的虚拟的采样点;拟合获得该条视线的灰度值曲线;将每一条视线的灰度值曲线的沿该视线方向的第一个峰值点作为该灰度值曲线的峰值点;得到该观察方向的二维图像。所述成像方法采用一维插值运算代替二维插值运算,使计算量明显降低。所述成像方法能够识别检测目标的不同表面,提高成像精度。

    一种耦合器校准方法
    30.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103529421B

    公开(公告)日:2015-11-04

    申请号:CN201310520028.3

    申请日:2013-10-29

    Abstract: 本发明公开了一种耦合器校准方法,该校准方法包括如下步骤:利用第一耦合器校准装置和第二耦合器校准装置测量待测耦合器的耦合度本底值和反射系数本底值;利用高温箱将待测耦合器的温度升高至需要的温度并且保持该温度稳定;利用矢量网络分析仪测量待测耦合器的耦合度和反射系数,获得待测耦合器的耦合度高温测量值和反射系数高温测量值;计算待测耦合器的耦合度高温测量值与耦合度本底值的差值获得待测耦合器的耦合度真实值;计算待测耦合器的反射系数高温测量值与反射系数本底值的差值获得耦合器的反射系数真实值。本发明的校准方法能够适用于大功率耦合器的校准;本发明的校准方法能够提高大功率耦合器的校准精度。

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