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公开(公告)号：CN102998089B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201210478716.3
申请日：2012-11-23
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种极远紫外探测器校准装置，包括光源、汇聚摆镜单元、紫外单色仪单元、探测器单元和压力差分单元。其中，汇聚摆镜单元包括一汇聚摆镜，其包括摆镜和旋转位移平台，摆镜为两块非反射面贴合的凹面反射镜，其反射镜中心轴线重合，其中一块反射镜的反射面A镀30nm～200nm反射膜，另一块反射镜的反射面B镀60nm～200nm反射膜。探测器单元包括标准探测器和待测探测器。利用本发明可以实现在30nm～200nm范围内探测器相对光谱响应度校准。本发明提供的整个装置体积小巧，接口丰富，在极紫外和远紫外辐射度校准和消除高级次光谱上有独特的设计，提高了极紫外和远紫外辐射校准的精度。
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公开(公告)号：CN102928343B
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201210458688.9
申请日：2012-11-15
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01N21/00
Abstract: 本发明提供了一种高温材料发射率测量方法和系统，其中所述系统包括大功率辐射源、扩束整形均束装置、真空仓、样品测试平台、旋转反射镜、显微成像装置、光谱切换装置、辐射能量成像测量装置、温度测量装置。本发明通过在被测样品上加工出黑体空腔，并用成像方法对被测材料表面和黑体空腔的辐射能量同时测量，采用窄带滤光片进行光谱选择，不仅能够保证被测材料和标准参考样品测量的同时性，也能够保证样品和参考源的完全等温，能够显著减少发射率测量的误差来源，提高测量准确度和测试的便利程度，有利于本发明的工程化应用。
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公开(公告)号：CN104503082A
公开(公告)日：2015-04-08
申请号：CN201410715206.2
申请日：2014-12-02
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种复合成像模拟光学系统，该系统主要由反射式红外光学系统和透射式可见光、激光光学系统组成，依次包括大口径反射镜、第一透镜、第二透镜和第三透镜。本发明通过采用反射式与透射式相结合的光学系统设计方式，通过合理匹配透镜的材料、半径、距离和厚度等参数，可满足红外光学系统±0.5°的成像质量要求和可见光、激光光学系统满足±5.5°观测范围的要求，从而最终实现三光合一共口径光学系统的性能要求。并且使整个系统装置整体尺寸最小，从而满足整个系统装置的整体要求。
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公开(公告)号：CN104483019A
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201410705356.5
申请日：2014-12-01
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明提供了一种真空紫外成像光谱仪的校准方法，包括：校准真空紫外成像光谱仪的波长测量范围、波长准确度、光谱响应率、均匀性以及空间角分辨率。本发明还提供了一种真空紫外成像光谱仪的校准装置，包括：依次设置于光路中的光源、真空紫外单色分光系统、真空紫外积分球、真空紫外靶标、真空紫外准直光学系统，以及与需要被校的真空紫外成像光谱仪可切换地设置于真空紫外准直光学系统的输出端的真空紫外标准探测器和用以实现真空紫外成像光谱仪的空间角度变换的真空三维扫描机构。采用本发明的技术方案能够及时发现真空紫外成像光谱仪设计过程中存在的缺陷，同时能够有效保证真空紫外成像光谱仪获取数据的准确性。
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公开(公告)号：CN104458013A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410730110.3
申请日：2014-12-04
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/52
Abstract: 本发明涉及一种发动机热防护结构温度场多模测量系统，系统包括标准辐射源、辐射测温传感系统、三维转台、现场控制系统和远程综合控制系统；被测目标和标准辐射源发出的光线被辐射测温传感系统探测，形成测量数据，经由现场控制系统传输至远程综合控制系统中，三维转台用于调节辐射测温传感系统的俯仰角和方位角；标准辐射源作为实时校正源，提供相应测量波段的标准辐射，通过定量分析标准辐射源在不同波段以及波长的光辐射衰减率，对被测目标的温度场进行校正。辐射测温传感系统包括一个红外宽波段温度场测量装置和可见光-红外波段比色及多波长温度场测量装置，根据上述两个测量装置获取的测量值，确定被测目标的温度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103176280A
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN201310065831.2
申请日：2013-03-04
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及光学系统设计技术领域，具体的讲是一种用于真空紫外光谱参数校准的光学系统，其中当进行探测器真空紫外相对光谱响应率校准时，所述复数个准直透镜中的特定准直透镜将110nm-400nm波段范围内的特定波段的紫外光源变为平行光发送给所述探测器；当进行光源真空紫外光谱辐照度校准时，所述复数个会聚透镜中的特定会聚透镜将经过漫射器的110nm-400nm波段范围内的特定波段的紫外光源会聚输出至标准探测器，其中经过特定漫射器对特定波段的紫外光源进行均光。通过本发明实施例使用组合式设计方法，使光学系统的7片透镜材料、波段范围和性能参数得到合理匹配，降低了成本，简化了系统结构。
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公开(公告)号：CN102998089A
公开(公告)日：2013-03-27
申请号：CN201210478716.3
申请日：2012-11-23
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种极远紫外探测器校准装置，包括光源、汇聚摆镜单元、紫外单色仪单元、探测器单元和压力差分单元。其中，汇聚摆镜单元包括一汇聚摆镜，其包括摆镜和旋转位移平台，摆镜为两块非反射面贴合的凹面反射镜，其反射镜中心轴线重合，其中一块反射镜的反射面A镀30nm～200nm反射膜，另一块反射镜的反射面B镀60nm～200nm反射膜。探测器单元包括标准探测器和待测探测器。利用本发明可以实现在30nm～200nm范围内探测器相对光谱响应度校准。本发明提供的整个装置体积小巧，接口丰富，在极紫外和远紫外辐射度校准和消除高级次光谱上有独特的设计，提高了极紫外和远紫外辐射校准的精度。
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公开(公告)号：CN102928343A
公开(公告)日：2013-02-13
申请号：CN201210458688.9
申请日：2012-11-15
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01N21/00
Abstract: 本发明提供了一种高温材料发射率测量方法和系统，其中所述系统包括大功率辐射源、扩束整形均束装置、真空仓、样品测试平台、旋转反射镜、显微成像装置、光谱切换装置、辐射能量成像测量装置、温度测量装置。本发明通过在被测样品上加工出黑体空腔，并用成像方法对被测材料表面和黑体空腔的辐射能量同时测量，采用窄带滤光片进行光谱选择，不仅能够保证被测材料和标准参考样品测量的同时性，也能够保证样品和参考源的完全等温，能够显著减少发射率测量的误差来源，提高测量准确度和测试的便利程度，有利于本发明的工程化应用。
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公开(公告)号：CN102436060A
公开(公告)日：2012-05-02
申请号：CN201110418572.8
申请日：2011-12-15
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提出一种无热化的可见光变焦镜头，依次由胶合透镜组I、透镜I、胶合透镜组II、胶合透镜组III、透镜II和透镜III，胶合透镜组和透镜采用铝合金镜筒联结。本发明通过采用被动无热化设计、变焦距光学设计及合理匹配透镜的材料、半径、距离和厚度参数，使镜头既能实现焦距从20mm到80mm之间变化又能在-40℃～60℃温度范围内实现被动无热化，省却了测温调焦机构，提高了系统可靠性。另外本发明通过采用被动无热化设计、变焦距设计技术及合理匹配透镜的材料、半径、距离和厚度参数，还减小了像差(球差、彗差、象散、场曲、色差及畸变)，提高了镜头光学传递函数，使得镜头可以在-40℃～60℃温度范围内对景物进行变焦距成像。该镜头用于远距离可见光景物的摄取。
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公开(公告)号：CN203084312U
公开(公告)日：2013-07-24
申请号：CN201320095024.0
申请日：2013-03-04
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本实用新型涉及光学系统设计技术领域，具体的讲是一种用于真空紫外光谱参数校准的光学系统，其中当进行探测器真空紫外相对光谱响应率校准时，所述复数个准直透镜中的特定准直透镜将110nm-400nm波段范围内的特定波段的紫外光源变为平行光发送给所述探测器；当进行光源真空紫外光谱辐照度校准时，所述复数个会聚透镜中的特定会聚透镜将经过漫射器的110nm-400nm波段范围内的特定波段的紫外光源会聚输出至标准探测器，其中经过特定漫射器对特定波段的紫外光源进行均光。通过本实用新型实施例使用组合式设计方法，使光学系统的7片透镜材料、波段范围和性能参数得到合理匹配，降低了成本，简化了系统结构。
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