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公开(公告)号：CN100536773C
公开(公告)日：2009-09-09
申请号：CN200710110102.9
申请日：2007-06-15
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01N23/04
Abstract: 在对拍摄的对象图像进行增益校正时，可以获取具有高质量且没有伪像的对象图像。为此目的，提供图像存储单元以存储在不存在对象的状态下针对多种运行模式的每一种运行模式基于用该表设置的条件而拍摄的用于校正的图像；并且提供图像处理单元以对所拍摄的对象图像进行增益校正处理，并且利用基于由选择单元选择的运行模式从图像存储单元中提取的对应的用于校正的图像，对在存在对象的状态下基于在表中为由选择单元选择的运行模式设置的条件而获得的拍摄的对象图像进行增益校正。
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公开(公告)号：CN101401125A
公开(公告)日：2009-04-01
申请号：CN200780008996.9
申请日：2007-03-15
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: A61B6/00 , A61B6/5235 , A61B6/585 , G06T5/002 , G06T2200/28 , G06T2207/10116 , G06T2207/30004 , H04N5/32 , H04N5/347 , H04N5/367
Abstract: 提供一种成像设备，其改进像素相加读取时的校正精度，并且几乎不使图像数据的分辨率劣化。该设备包括：转换单元，包括多个单位像素，并将入射的放射线或光转换为像素信息；信号处理单元，基于来自控制单元的控制，能够读取关于每个单位像素的像素信息，或者能够读取关于多个单位像素的相加像素信息，控制单元根据多种操作模式控制转换单元的驱动；存储单元，根据多种操作模式存储多个校正信息；和校正单元，基于根据操作模式从多个校正信息提取的校正信息执行像素信息的校正。
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公开(公告)号：CN100471453C
公开(公告)日：2009-03-25
申请号：CN200610092762.4
申请日：2006-06-14
Applicant: 佳能株式会社
Abstract: 一种放射线成像装置包括：放射线检测电路，其中将从放射线源发射并透射过被摄体的放射线转换为电信号的多个转换元件被二维排列；驱动机构，其改变被摄体和放射线源以及放射线检测电路之间的位置关系；存储器，其将放射线检测电路检测的电信号作为图像数据进行存储；成像控制单元，其在捕获被摄体的多个连续放射线图像时，控制放射线源以在第一帧放射线照相和不同于第一帧的第二帧放射线照相之间改变从放射线源发射的放射线的能量，并且控制所述驱动机构的驱动；和图像处理单元，其执行存储在存储器中的第一帧图像数据和第二帧图像数据的减法处理以产生处理图像，并且通过使用该处理图像产生被摄体的断层图像和三维图像中的一个。
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公开(公告)号：CN101282427A
公开(公告)日：2008-10-08
申请号：CN200810090078.1
申请日：2008-04-02
Applicant: 佳能株式会社
Abstract: 一种成像装置、成像系统、其控制方法和其程序的存储介质。测量将偏压施加于转换元件之后直到用于得到图像的转换元件的累积的开始为止的空闲时间段和从累积的开始到累积的终止的累积时间段。通过使用基于测量的空闲时间段和累积时间段以及存储的暗电流响应特性计算的累积中的暗电流累积电荷量来进行图像的偏移校正。因而，即使刚在将偏压施加于转换元件之后，也可正确地进行偏移校正。提供一种成像装置，即使刚在将偏压施加于转换元件之后，该成像装置也可执行良好的放射照相，而不增加成本和尺寸。
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公开(公告)号：CN1881598A
公开(公告)日：2006-12-20
申请号：CN200610092648.1
申请日：2006-06-13
Applicant: 佳能株式会社
IPC: H01L27/14 , H01L23/544 , H01L21/00
Abstract: 本发明涉及电磁辐射检测设备、辐射检测设备、系统和激光处理方法，其中开关元件被放置在绝缘衬底上。在该开关元件上放置将电磁辐射转换为电信号的转换元件。在该转换元件上放置用于标记开关元件的位置的部件。利用转换元件上的所述部件可以定位找到有缺陷的开关元件的位置。通过发射激光并聚焦在所述部件上，就有可能准确地进行修复。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105793733B
公开(公告)日：2018-09-11
申请号：CN201480063478.7
申请日：2014-10-30
Applicant: 佳能株式会社
IPC: G01T1/20 , H01L27/146 , H04N5/32
Abstract: 提供了根据用于获得更好的图像信号的装置布局而配置的放射线图像捕获装置。放射线图像捕获装置包括：像素阵列，其中布置有输出与放射线对应的电信号的多个像素；读出电路单元，其读取与从像素阵列输出的电信号；以及用于抑制放射线入射到读出电路单元的部件，放射线图像捕获装置使得图像信号基于由读出电路单元读取的电信号而产生，其中，像素阵列包含第一区域和第二区域，在第一区域中，布置有用于产生图像信号的所述像素的一部分，在第二区域中，第一区域周围的区域的至少一部分中布置有不用于产生图像信号的其它像素，以及从像素阵列的外侧向内侧，按顺序布置有布置在第二区域中的读出电路单元的内端部、所述部件向像素阵列的正交投影的内端部、以及第二区域的内端部。
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公开(公告)号：CN104954705B
公开(公告)日：2018-09-07
申请号：CN201510134946.1
申请日：2015-03-26
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: H01L27/14609 , G01T1/17 , H04N5/32 , H04N5/341 , H04N5/3575 , H04N5/363 , H04N5/3651 , H04N5/3658 , H04N5/3745 , H04N5/3765 , H04N5/378
Abstract: 本发明涉及成像装置和成像系统。一种成像装置包括：产生电荷的像素；对从像素传送的电荷进行积分的积分放大器；低通滤波器，积分放大器的输出被供给到所述低通滤波器并且所述低通滤波器的时间常数是可变的；分别采样和保持从像素向积分放大器传送电荷之前和之后的低通滤波器的输出的第一和第二采样和保持电路；输出由第一和第二采样和保持电路保持的信号之间的差值的差动电路；以及，改变时间常数的控制电路。控制电路在通过第一采样和保持电路的采样结束之后减小时间常数，并且在通过第二采样和保持电路的采样的中途增加时间常数。
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公开(公告)号：CN105306840B
公开(公告)日：2018-05-15
申请号：CN201510410460.6
申请日：2015-07-14
Applicant: 佳能株式会社
IPC: H04N5/32
CPC classification number: A61B6/585 , A61B6/4266 , G01T1/17 , H03F3/45475 , H03F3/70 , H03F2203/45514 , H03F2203/45634 , H04N5/32 , H04N5/355 , H04N5/378
Abstract: 本发明涉及放射线成像装置和放射线成像系统。提供了一种放射线成像装置，该放射线成像装置包括：第一转换元件，被布置为将放射线转换为电荷以便获得放射照相图像；第一放大器，被布置为输出与第一转换元件的电荷对应的电压；第二转换元件，被布置为将所述放射线转换为电荷以便检测放射线照射；第二放大器，被布置为输出与第二转换元件的电荷对应的电压；以及控制电路，被配置为控制第一放大器和第二放大器，其中，控制电路能够与对第一放大器施加的控制相独立地控制第二放大器。
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公开(公告)号：CN107710738A
公开(公告)日：2018-02-16
申请号：CN201680037985.2
申请日：2016-05-27
Applicant: 佳能株式会社
Abstract: 一种放射线成像装置，包括多个传感器、驱动单元、读出单元和控制单元，其中，控制单元执行在开始放射线照射之后读出来自传感器的信号第一控制，以及当基于第一控制中的读出单元的输出而计算的计算值达到参考值时输出结束放射线照射的控制信号的第二控制，并且控制单元在第一控制中，通过改变读出单元的操作模式来从传感器读出信号以使得读出单元的输出值不饱和，并且在第二控制中，通过考虑所述读出单元的信号放大率来累积读出单元的输出来计算计算值。
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公开(公告)号：CN103654808B
公开(公告)日：2015-10-28
申请号：CN201310376842.2
申请日：2013-08-27
Applicant: 佳能株式会社
IPC: A61B6/00
CPC classification number: G01T1/17 , A61B6/4233 , A61B6/542 , A61B6/544 , H04N5/32
Abstract: 公开了放射线成像装置和放射线成像系统。为了提供能以高精度检测放射线的放射线成像装置和放射线成像系统，放射线成像装置包括：检测单元，在检测单元中将放射线转换成电信号的转换元件被以矩阵形状布置；放射线检测单元，配置成检测放射线的照射状态；驱动电路，配置成根据由放射线检测单元检测到的照射状态来驱动检测单元；以及射线照相种类设定单元，配置成设定射线照相种类，其中，放射线检测单元根据由射线照相种类设定单元设定的射线照相种类来改变放射线检测能力。
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